专利名称: |
用于测量光固化材料收缩率的装置 |
摘要: |
本发明涉及光固化材料技术领域,尤其是涉及一种用于测量光固化材料收缩率的装置。用于测量光固化材料收缩率的装置,包括材料容纳装置、光固化机、第一位移传感器和第二位移传感器;材料容纳装置设置有用于容纳光固化材料的凹槽;光固化机用于照射光固化材料,以使光固化材料固化;第一位移传感器和第二位移传感器分别位于凹槽的两端,用于测量光固化材料固化后的收缩量。本发明利用第一位移传感器和第二位移传感器对凹槽中的光固化材料固化后的收缩量进行测量,在检测过程中,没有水的参与,对环境条件要求较低,测量结果准确度较高。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
北京大学口腔医学院 |
发明人: |
郑刚;林红;白伟 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-01-31T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-05-14T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910103723.7 |
公开号: |
CN109752315A |
代理机构: |
北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) |
代理人: |
李青 |
分类号: |
G01N21/00(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
100000 北京市海淀区中关村南大街22号 |
主权项: |
1.一种用于测量光固化材料收缩率的装置,其特征在于,包括材料容纳装置、光固化机、第一位移传感器和第二位移传感器;所述材料容纳装置设置有用于容纳光固化材料的凹槽;所述光固化机用于照射所述光固化材料,以使所述光固化材料固化;所述第一位移传感器和所述第二位移传感器分别位于所述凹槽的两端,用于测量所述光固化材料固化后的收缩量。 2.根据权利要求1所述的用于测量光固化材料收缩率的装置,其特征在于,还包括底座,所述材料容纳装置、所述光固化机、所述第一位移传感器和所述第二位移传感器均安装在所述底座的上表面。 3.根据权利要求2所述的用于测量光固化材料收缩率的装置,其特征在于,所述材料容纳装置包括第一挡块、第二挡块、第一挡板和第二挡板; 所述第一挡块与所述第二挡块间隙设置,以形成所述凹槽; 所述第一挡板能够封堵所述凹槽的一端,所述第二挡板能够封堵所述凹槽的另一端,以将所述光固化材料填充在所述凹槽中。 4.根据权利要求3所述的用于测量光固化材料收缩率的装置,其特征在于,所述底座设置有滑轨,所述第一挡块和所述第二挡块能够沿所述滑轨的长度方向往复运动,以改变所述凹槽的宽度。 5.根据权利要求2所述的用于测量光固化材料收缩率的装置,其特征在于,还包括位置调节装置,所述位置调节装置与所述底座连接,所述光固化机与所述位置调节装置连接,所述位置调节装置用于使所述光固化机的光源输出端的端面与所述光固化材料的上表面之间具有工作距离,并使所述光固化机的光源输出端的端面与所述光固化材料的上表面平行。 6.根据权利要求5所述的用于测量光固化材料收缩率的装置,其特征在于,所述位置调节装置包括支架、升降机构和调平机构;所述支架与所述底座铰接;所述升降机构与所述支架连接,所述光固化机与所述升降机构连接,所述升降机构用于使所述光固化机相对于所述材料容纳装置往复运动,以使所述光固化机的光源输出端的端面靠近或远离所述光固化材料的上表面;所述调平机构与所述支架连接,用于使光固化机的光源输出端的端面与所述光固化材料的上表面平行。 7.根据权利要求6所述的用于测量光固化材料收缩率的装置,其特征在于,所述升降机构包括升降滑块和螺杆,所述光固化机与所述升降滑块连接,所述升降滑块与所述螺杆螺纹连接,所述螺杆与所述支架连接,且所述螺杆能够绕其自身的轴线转动,以使所述升降滑块相对于所述底座上升或下降。 8.根据权利要求6所述的用于测量光固化材料收缩率的装置,其特征在于,所述调平机构包括调节螺栓,所述支架设置有螺纹孔,所述调节螺栓与所述螺纹孔相配合,所述调节螺栓的尾端能够抵住所述底座的上表面。 9.根据权利要求5至8中任一项所述的用于测量光固化材料收缩率的装置,其特征在于,还包括旋转杆,所述旋转杆的一端与所述光固化机连接,所述旋转杆的另一端与所述位置调节装置连接,且所述旋转杆能够相对于所述位置调节装置绕其自身的轴线旋转。 10.根据权利要求1至8中任一项所述的用于测量光固化材料收缩率的装置,其特征在于,所述第一位移传感器和所述第二位移传感器均为激光位移传感器。 |
所属类别: |
发明专利 |