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原文传递三维荧光中瑞利散射扣除方法

专利名称：	三维荧光中瑞利散射扣除方法
摘要：	一种三维荧光中瑞利散射扣除方法，涉及一种消除荧光瑞利散射方法，该方法是先找出与荧光不重叠的瑞利峰，获取瑞利峰数据R，将瑞利峰数据R消除随机误差和噪声后作为单位瑞利峰RD；从瑞利峰与荧光出现交叠的发射光谱开始，逐步消除瑞利峰，直至所有交叠的瑞利散射被消除。本发明可消除三维荧光的瑞利散射，不仅可保证重复性，也不需要重复测量空白，从而节约了测量时间，还降低了信息量损失的风险，其方法简便，易于推广。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	广西;45
申请人：	广西科技大学
发明人：	姚志湘;姚桔;粟晖;刘柳
专利状态：	有效
申请日期：	2019-03-11T00:00:00+0800
发布日期：	2019-05-14T00:00:00+0800
申请号：	CN201910180517.6
公开号：	CN109752357A
代理机构：	柳州市荣久专利商标事务所(普通合伙)
代理人：	周小芹
分类号：	G01N21/64(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	545006 广西壮族自治区柳州市东环大道268号
主权项：	1.一种三维荧光中瑞利散射扣除方法，其特征在于：该方法是先找出与荧光不重叠的瑞利峰，获取瑞利峰数据R，将瑞利峰数据R消除随机误差和噪声后作为单位瑞利峰RD；从瑞利峰与荧光出现交叠的发射光谱开始，逐步消除瑞利峰，直至所有交叠的瑞利散射被消除。 2.根据权利要求1所述的三维荧光中瑞利散射扣除方法，其特征在于：该方法包括以下步骤： S1.测量样本的三维荧光光谱； S2.找出与荧光不重叠的瑞利峰，将含完整的瑞利峰型数据另外存储为R； S3.取瑞利峰数据R，以中心波长对齐，按峰高归一化后平均，消除随机误差和噪声，作为后续的单位瑞利峰RD； S4.从瑞利峰与荧光出现交叠的发射光谱开始，逐步消除瑞利峰； S5.依次对下一波长交叠的发射光谱，直至所有交叠的瑞利散射被消除。 3.根据权利要求2所述的三维荧光中瑞利散射扣除方法，其特征在于：在步骤S4中，是按照以下瑞利峰扣除步骤进行消除瑞利峰： S4-1.将单位瑞利峰RD中心波长λ与荧光-瑞利交叠光谱中的瑞利峰中心位对齐； S4-2.选择交叠光谱附近若干个相邻发射谱，构成比对矩阵M； S4-3.以单位瑞利峰RD强度为步长Δ，从交叠光谱中扣减Δ，得到扣减后的光谱K； S4-4.计算光谱K与比对矩阵M的夹角θ； S4-5.依次增加步长n Δ，n=2,3,…n，重复步骤S4-3和S4-4，直至出现最小夹角值θmin； S4-6.将交叠光谱减去与最小夹角对应步长强度nΔ的瑞利峰，即完成了瑞利峰的扣除。 4.根据权利要求3所述的三维荧光中瑞利散射扣除方法，其特征在于：在步骤S4-2中，所述的选择交叠光谱附近若干个相邻发射谱是选择与中心波长λ处光谱间隔大于等于10nm的4个发射谱。
所属类别：	发明专利