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原文传递太赫兹频谱校准系统

专利名称：	太赫兹频谱校准系统
摘要：	本实用新型涉及一种太赫兹频谱校准系统，包括激光光源、太赫兹波产生单元、探测单元、太赫兹光路、准直光路、透射反射片、分光元件和标准量具，该系统利用太赫兹波在标准量具内多次反射形成的周期性的标准量具振荡，对太赫兹时域光谱进行频率校准，并且，该系统通过引入准直光路，利用同源的准直光实现太赫兹波光路间接校准，使得太赫兹波与标准量具垂直，减小由非垂直入射引起的频谱误差，有效提高系统的准确性和可靠性。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	北京环境特性研究所
发明人：	张景;蔡禾;李粮生;孙金海;殷红成;肖志河
专利状态：	有效
申请日期：	2018-10-12T00:00:00+0800
发布日期：	2019-05-14T00:00:00+0800
申请号：	CN201821653179.0
公开号：	CN208860738U
代理机构：	北京格允知识产权代理有限公司
代理人：	周娇娇
分类号：	G01N21/3586(2014.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	100854 北京市海淀区永定路50号
主权项：	1.一种太赫兹频谱校准系统，其特征在于，包括：激光光源、太赫兹波产生单元、探测单元、太赫兹光路、准直光路、透射反射片、分光元件和标准量具；所述激光光源用于产生同源的泵浦光束和探测光束；所述太赫兹波产生单元用于接收泵浦光束以产生同源太赫兹波；所述太赫兹光路用于传输太赫兹波，使太赫兹波以45°角入射所述透射反射片并反射后，在所述探测单元聚焦；所述标准量具为固体平板；所述分光元件用于将探测光束分为两路，使一路作为探测光以45°角入射所述透射反射片并透射后，在所述探测单元聚焦；另一路则作为准直光通过所述准直光路，在所述透射反射片处透射后，反向输入所述太赫兹光路。 2.根据权利要求1所述的太赫兹频谱校准系统，其特征在于：所述太赫兹光路对太赫兹波进行两次准直和两次聚焦，第一次聚焦形成聚焦测量点，第二次聚焦输入所述探测单元；所述聚焦测量点用于设置标准量具或待测样品。 3.根据权利要求2所述的太赫兹频谱校准系统，其特征在于：所述太赫兹光路包括第一至第四抛物面镜和过滤片；第一抛物面镜用于将所述太赫兹波产生单元产生的太赫兹波准直，第二抛物面镜用于将准直的太赫兹波聚焦形成聚焦测量点，第三抛物面镜用于将通过聚焦测量点后的太赫兹波再次准直，第四抛物面镜用于将再次准直太赫兹波汇聚，并经所述透射反射片反射后在所述探测单元聚焦；所述过滤片设置在所述第一抛物面镜和所述第二抛物面镜之间，用于过滤得到的太赫兹波。 4.根据权利要求1所述的太赫兹频谱校准系统，其特征在于：所述准直光路包括半波片、第三透镜、两个反射镜和两个小孔光阑；所述半波片用于调整所述准直光的偏振方向至垂直于所述探测光；两个反射镜呈直角相对间隔设置，用于调整所述准直光的传播方向以反向输入所述太赫兹光路；所述第三透镜用于调整所述准直光的聚焦点，以模拟太赫兹波在所述太赫兹光路中的准直与聚焦；两个所述小孔光阑平行相对设置在出射的反射镜与所述透射反射片之间，用于定位，使入射所述透射反射片的所述准直光与太赫兹波共线。 5.根据权利要求1至4任一项所述的太赫兹频谱校准系统，其特征在于：所述透射反射片为ITO玻璃。 6.根据权利要求5所述的太赫兹频谱校准系统，其特征在于：还包括第一分光片、第一透镜、第二透镜和至少三个反射镜；所述分光元件为第二分光片；所述第一分光片用于将所述激光光源产生的激光分为所述泵浦光束和所述探测光束；所述第一透镜用于将所述泵浦光束聚焦后输入所述太赫兹波产生单元；至少三个反射镜用于调整所述探测光束的传输光路以入射所述第二分光片；所述第二分光片用于将入射的所述探测光束分为两路；所述第二透镜用于将探测光在所述探测单元中聚焦。
所属类别：	实用新型