专利名称: |
一种测量石墨烯薄膜电热材料电热特性的装置及测量方法 |
摘要: |
本发明涉及一种测量石墨烯薄膜电热材料电热特性的装置及测量方法,属于石墨烯薄电热特性测量技术领域,解决了现有测量装置难以精确测量辐射传热占比的问题。本发明的测量石墨烯薄膜电热材料电热特性的装置,包括电气控制系统、测试系统和数据收集与处理系统;电气控制系统用于输出恒电流或者恒电压;测试系统用于获取石墨烯薄膜层试样的电流、电压及温度信息,测试系统包括电热特性测温室,电热特性测温室设有热电偶;数据收集与处理系统用于收集测试系统获取的电流、电压及温度信息并进行处理,得到石墨烯薄膜电热材料的电热特性数据。本发明实现了石墨烯薄电热特性的精确测量。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
新冶高科技集团有限公司 |
发明人: |
王仕东;顾宝珊;杨培燕;赵皓琦;邹卫武;牟铭 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-01-03T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-05-21T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910004843.1 |
公开号: |
CN109781769A |
代理机构: |
北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) |
代理人: |
和欢庆;侯永帅 |
分类号: |
G01N25/00(2006.01);G;G01;G01N;G01N25 |
申请人地址: |
100081 北京市海淀区学院南路76号 |
主权项: |
1.一种测量石墨烯薄膜电热材料电热特性的装置,其特征在于,包括电气控制系统、测试系统和数据收集与处理系统; 所述电气控制系统用于输出恒电流或者恒电压; 所述测试系统用于获取石墨烯薄膜层试样的电流、电压及温度信息,所述测试系统包括电热特性测温室,所述电热特性测温室设有热电偶; 所述数据收集与处理系统用于收集所述测试系统获取的电流、电压及温度信息并进行处理,得到石墨烯薄膜电热材料的电热特性数据。 2.根据权利要求1所述的测量石墨烯薄膜电热材料电热特性的装置,其特征在于,所述电热特性测温室的外表面设有隔绝电热特性测温室内外热交换的绝热材料层。 3.根据权利要求2所述的测量石墨烯薄膜电热材料电热特性的装置,其特征在于,所述绝热材料层的内表面设有热辐射反射涂层,用以阻止测试时薄膜层试样产生的热辐射向外传递。 4.根据权利要求3所述的测量石墨烯薄膜电热材料电热特性的装置,其特征在于,所述热辐射反射涂层为银涂层。 5.根据权利要求1所述的测量石墨烯薄膜电热材料电热特性的装置,其特征在于,所述电热特性测温室包括顶面、侧面和底面,薄膜层试样设于所述底面。 6.根据权利要求5所述的测量石墨烯薄膜电热材料电热特性的装置,其特征在于,所述顶面、侧面、底面和距底面一定距离的空间内均设有一组热电偶,所述薄膜层试样均匀设有四组热电偶。 7.根据权利要求1所述的测量石墨烯薄膜电热材料电热特性的装置,其特征在于,所述数据收集与处理系统包括温度巡检仪和控制与处理单元,所述温度巡检仪用于记录所述电热偶的实时温度,所述控制与处理单元用于实时显示电流、电压、温度信息。 8.根据权利要求7所述的测量石墨烯薄膜电热材料电热特性的装置,其特征在于,所述温度巡检仪与所述热电偶连接,所述温度巡检仪能够同时记录所述热电偶的测温点的实时温度。 9.根据权利要求2至8所述的测量石墨烯薄膜电热材料电热特性的装置,其特征在于,所述薄膜层试样设有受热物体,所述受热物体为电热特性测温室内空气或者液态流体。 10.一种测量石墨烯薄膜电热材料电热特性的方法,其特征在于,利用权利要求1至9任一项所述的测量石墨烯薄膜电热材料电热特性的装置进行测量,包括以下步骤: 步骤一:布置电热特性测温室,选择受热物体,将薄膜层试样放入电热特性测温室中,选择热电偶的数量并按实验要求布置; 步骤二:连通电路,开始实验测试;升温规定时间后断开电路,降温规定时间,获得实验过程中薄膜层试样的电压、电流和测温点温度; 步骤三:处理薄膜层试样的电压、电流和测温点温度数据,获得薄膜层试样的电热参数。 |
所属类别: |
发明专利 |