详情

原文传递用于检测样品发出的荧光信号的装置

专利名称：	用于检测样品发出的荧光信号的装置
摘要：	各实施例涉及用于评估一个或多个物质样品的荧光强度的荧光读取装置。荧光读取装置可包括用于接收其中包含对应样品的样品孔的样品支撑结构，位于样品支撑结构下方并且配置为照亮位于样品孔中的一个或多个样品的照明结构，以及位于样品支撑结构上方并且配置为检测一个或多个样品所发射的荧光的成像结构。照明结构可包括与支撑结构一起界定闭合照明腔的一个或多个反光围壁，以及位于闭合照明腔中并且配置为发射使一个或多个样品发出荧光的光的一个或多个光源。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	美国;US
申请人：	阿提拉生物系统公司
发明人：	亚瑟·H.·罗杰斯;詹姆斯·T.·阿尔西瓦尔
专利状态：	有效
申请日期：	2017-08-09T00:00:00+0800
发布日期：	2019-05-21T00:00:00+0800
申请号：	CN201780044681.3
公开号：	CN109791108A
代理机构：	广州三环专利商标代理有限公司
代理人：	郝传鑫
分类号：	G01N21/64(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	美国加利福尼亚州帕罗奥图
主权项：	1.一种用于评估一个或多个物质样品的荧光强度的荧光读取装置，所述荧光读取装置包括：样品支撑结构，所述样品支撑结构界定一个或多个样品孔接收特征，每个样品孔接收特征配置成支撑样品孔，所述样品孔配置为含有对应的物质样品；照明结构，所述照明结构位于所述样品支撑结构下方，并且配置为照亮位于对应样品孔中的一个或多个物质样品，所述照明结构包括：一个或多个围壁，其中所述一个或多个围壁和所述样品支撑结构共同界定了闭合照明腔，并且其中所述一个或多个围壁中的至少一个包括反射面；以及位于所述闭合照明腔中的一个或多个光源；以及成像结构，所述成像结构位于所述样品支撑结构上方，并且配置为检测所述照明结构照亮的所述一个或多个物质样品所发射的荧光。 2.如权利要求1所述的荧光读取装置，其中所述样品支撑结构包括加热板，所述加热板配置为加热位于对应样品孔中的所述一个或多个物质样品。 3.如权利要求2所述的荧光读取装置，其中所述加热板包括：金属板，所述金属板界定有与所述一个或多个样品孔接收特征中的每一个相对应的腔室，每个腔室延伸通过所述金属板并且具有锥形内表面，所述内表面配置为对位于所述腔室中的样品孔的外表面形成轮廓；以及配置为向所述金属板传热的一个或多个加热元件。 4.如权利要求3所述的荧光读取装置，其中所述一个或多个加热元件为电阻加热器。 5.如权利要求2所述的荧光读取装置，其中所述一个或多个围壁和所述加热板共同界定所述闭合照明腔，以及其中所述加热板界定与所述一个或多个样品孔接收特征中的每一个相对应的腔室，每个腔室延伸通过所述加热板以使得位于腔室中的样品孔的底面悬置在所述加热板下方并在所述照明腔室中。 6.如权利要求1所述的荧光读取装置，其中所述一个或多个围壁包括一个或多个侧壁和底板，以及其中所述一个或多个光源置于所述一个或多个侧壁中的至少一个中。 7.如权利要求1所述的荧光读取装置，其中所述一个或多个光源包括配置为发射具有第一颜色的光的一个或多个第一光源，以及配置为发射具有第二颜色的光的一个或多个第二光源。 8.如权利要求4所述的荧光读取装置，其中所述一个或多个第一光源包括一个或多个第一滤光器，所述第一滤光器配置为允许具有所述第一颜色的光进入所述照明腔室中，并且，所述一个或多个第二光源包括一个或多个第二滤光器，所述第二滤光器配置为允许具有所述第二颜色的光进入所述照明腔室中。 9.如权利要求1所述的荧光读取装置，其中所述一个或多个光源包括发光二极管。 10.如权利要求1所述的荧光读取装置，其中所述成像结构包括：不透明盖罩，所述不透明盖罩与所述样品支撑结构共同形成成像腔室，其中所述成像腔室避免光从所述荧光读取装置的外部进入所述成像腔室；以及成像装置，所述成像装置置于所述成像腔室中并且配置为检测被所述照明结构照亮的所述一个或多个物质样品所发射的荧光。 11.如权利要求10所述的荧光读取装置，其中所述成像装置选自：电耦合器件相机或互补金属氧化物半导体相机。 12.如权利要求10所述的荧光读取装置，其中所述成像装置包括一个或多个滤光器，所述滤光器配置为选择性地允许一个或多个波长范围内的光由所述成像装置检测。 13.如权利要求12所述的荧光读取装置，其中所述成像装置包括两个或多个滤光器，所述滤光器配置为交替地置于有效位置，以便在位于所述有效位置时选择性地允许一个或多个波长范围内的光由所述成像装置检测。 14.用于评估一个或多个物质样品的荧光强度的方法，所述方法包括步骤：将样品板放置在样品支撑结构中，其中所述样品板界定一个或多个样品孔，每个样品孔包含物质样品在其中，并且，所述样品支撑结构界定一个或多个样品孔接收特征，每个样品孔接收特征配置为支撑其中的样品孔以使得所述样品孔的底部悬置在界定于所述样品支撑结构下方的照明腔室中；通过从一个或多个光源发射光进入所述照明腔室来照亮所述样品板，其中所述照明腔室由一个或多个反光围壁和所述样品支撑结构的底面包围；通过从位于所述支撑结构上方的成像装置捕捉图像数据来对所述板的顶部成像。 15.如权利要求14所述的方法，进一步包括识别由位于一个或多个所述样品孔中的物质样品发射的荧光的强度。 16.如权利要求14所述的方法，进一步包括加热所述一个或多个样品孔中包含的所述物质样品至期望温度。 17.如权利要求14所述的方法，其中所述一个或多个光源包括配置为用于发射第一颜色的光的一个或多个第一光源和配置为用于发射第二颜色的光的一个或多个第二光源，并且，其中从一个或多个光源发射光进入所述照明腔室包括从所述一个或多个第一光源发射所述第一颜色的光进入所述照明腔室。 18.如权利要求17所述的方法，其中所述一个或多个第一光源包括配置为允许所述第一颜色的光进入所述照明腔室的第一滤光器，并且，所述一个或多个第二光源包括配置为允许所述第二颜色的光进入所述照明腔室的第二滤光器。 19.如权利要求17所述的方法，其中所述成像装置与一个或多个第一滤光器和一个或多个第二滤光器关联，所述第一滤光器配置为允许所述第一颜色的光由所述成像装置检测，所述第二滤光器配置为允许所述第二颜色的光由所述成像装置检测，并且，其中对所述样品板的顶部成像包括将所述第一滤光器置于有效位置以允许所述第一颜色的光由所述成像装置检测。 20.如权利要求14所述的方法，进一步包括步骤：将所述图像数据的部分与所述一个或多个样品孔中的特定样品孔相关联；以及，至少部分地根据所述图像数据的部分来确定由所述特定样品孔中的所述样品所发射的荧光强度。
所属类别：	发明专利