详情

原文传递通过射线照相技术确定被研究对象的几何参数和/或材料状态的方法

专利名称：	通过射线照相技术确定被研究对象的几何参数和/或材料状态的方法
摘要：	本发明涉及一种通过射线图像确定被研究对象的几何参数的方法，该对象可以用几何的方式描述，其中，在射线图像的说明数据可用的情况下，则可以根据由X或伽马辐射源成像的对象(例如，管)的投影确定穿过被研究对象的材料的截距。穿过对象的材料的这些截距(即，截距曲线)允许被研究对象(例如，管)的尺寸大于用于拍摄射线图像的设备(胶片/检测器)的尺寸。在所述方法期间，辐射源、被研究对象和用于拍摄射线图像的设备(胶片/检测器)处于固定位置。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	匈牙利;HU
申请人：	彼得·泰莱基
发明人：	彼得·泰莱基
专利状态：	有效
申请日期：	2017-07-27T00:00:00+0800
发布日期：	2019-05-21T00:00:00+0800
申请号：	CN201780059890.5
公开号：	CN109791114A
代理机构：	北京市中咨律师事务所
代理人：	杨晓光;于静
分类号：	G01N23/046(2018.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	匈牙利多瑙新城
主权项：	1.一种通过待检查对象(200)的原地拍摄的射线图像来确定所述待检查对象(200)的几何参数和/或材料状态的方法，所述对象(200)具有能够用数学方式描述的几何和辐射物理参数，所述方法包括：通过成像辐射(100)，特别是由辐射源(γ)发射的X辐射或伽马辐射，对所述待检查对象(200)进行辐射；通过辐射接收设备(400)接收穿过所述对象(200)的辐射；以及通过所述辐射接收设备(400)将所述待检查对象(200)显示为由所述辐射接收设备(400)的变化形成的射线图像，所述辐射接收设备(400)的变化基本上与由所述辐射接收设备(400)已吸收的辐射量成比例；其中在拍摄和/或检测所述射线图像所需的时间期间将所述辐射源(γ)、所述待检查对象(200)和所述辐射接收设备(400)在可接受的容差范围内保持在相对固定的几何位置，其特征在于，所述方法进一步包括：将由此获得的射线图像划分为从所述图像的一个边缘到所述图像的相反边缘的彼此平行延伸的切片，其中，所述切片的宽度由在所述辐射接收设备(400)的可能最大分辨率处获得的所述像素宽度限定，然后通过逐切片地评估由沿着相应切片的吸收的辐射引起的变化来为每个所述切片分配截距曲线，然后通过将由此获得的所述截距曲线与在基于所述对象(200)、所述辐射源(γ)和所述辐射接收设备(400)的标称参数执行成像之前导出的标称截距曲线进行比较来计算与所述待检查对象相关的几何参数，其中，为了生成要分配给所述相应切片的截距曲线，沿着具有所述辐射接收设备(400)的可能最大分辨率处的像素尺寸的所述切片将所述相应切换分为多个小片，然后将由所吸收的辐射引起的所述变化的数值分配给由此获得的每个所述小片，所述值由先前的校准过程确定。 2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述辐射接收设备(400)配备有胶片、检测器和对所述成像辐射敏感的图像记录装置中的任何一者或多者。 3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，所述待检查对象(200)是具有壁厚的管状对象，并且为了拍摄所述射线图像，所述辐射接收设备(400)被布置在平坦的平面位置。 4.根据权利要求1或2所述的方法，其中，所述待检查对象(200)是具有壁厚度并且由内圆柱表面和外圆柱表面限定的管状对象，并且为了拍摄所述射线图像，所述辐射接收设备(400)靠在所述管状对象的所述外圆柱表面上。 5.根据权利要求1或2所述的方法，其中，所述待检查对象(200)是具有壁厚度并且由内圆柱表面和外圆柱表面限定的管状对象，并且为了拍摄所述射线图像，所述辐射接收设备(400)靠在所述管状对象的所述内圆柱表面上。 6.根据权利要求2至4中任一项所述的方法，其特征在于，所述管状对象形成工作中的工业设备中的导管的一部分。 7.根据权利要求1至6中任一项所述的方法，其特征在于，标称材料厚度被确定为所述待检查对象的所述几何参数。 8.根据权利要求1至7中任一项所述的方法，其特征在于，由所吸收的辐射引起的所述辐射接收设备(400)的变化以与所述设备的黑度成比例的量表示。 9.根据权利要求3至8中任一项所述的方法，其特征在于，在所述外圆柱表面与所述辐射接收设备(400)之间布置有绝缘层(300)，其中，所述绝缘层形成连续涂层。 10.根据权利要求1至9中任一项所述的方法，其特征在于，通过将所述待检查对象(200)的所获得的几何参数与所述待检查对象(200)的几何参数的定义值进行比较，生成所述待检查对象(200)的所述几何参数的时间变化和程度变化。
所属类别：	发明专利