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原文传递 一种用于背光模组检测的真空治具
专利名称: 一种用于背光模组检测的真空治具
摘要: 本实用新型公开了一种用于背光模组检测的真空治具,其包括壳体、压缩膜、真空发生器和可拆胶框,所述壳体包括底板和由底板边缘向上延伸的侧壁;所述压缩膜设于所述侧壁上;所述真空发生器与所述壳体连接;所述可拆胶框包括设于所述底板上的基板和设于所述基板上的定位柱,所述定位柱用于定位所述背光模组。由于胶框与壳体是可拆卸连接,当需要检测的背光模组的尺寸发生变化时,可以直接更换其他尺寸的胶框,而无需更换整个真空治具,使真空治具具有通用性,降低了治具的成本。
专利类型: 实用新型
国家地区组织代码: 广东;44
申请人: 信利半导体有限公司
发明人: 林春生;何秀航;刘柏林
专利状态: 有效
申请日期: 2018-09-21T00:00:00+0800
发布日期: 2019-05-17T00:00:00+0800
申请号: CN201821551691.4
公开号: CN208872653U
代理机构: 广州粤高专利商标代理有限公司
代理人: 陈卫
分类号: G01N21/01(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址: 516600 广东省汕尾市区东冲路北段工业区
主权项: 1.一种用于背光模组检测的真空治具,其特征在于,其包括: 壳体,其包括底板和由底板边缘向上延伸的侧壁; 压缩膜,其设于所述侧壁上; 真空发生器,其与所述壳体连接; 可拆胶框,其包括设于所述底板上的基板和设于所述基板上的定位柱,所述定位柱用于定位所述背光模组。 2.根据权利要求1所述的用于背光模组检测的真空治具,其特征在于,所述胶框有多个,多个所述胶框拼接且一体注塑成型。 3.根据权利要求1所述的用于背光模组检测的真空治具,其特征在于,所述定位柱至少有两个,其分别设于所述胶框的两侧。 4.根据权利要求1所述的用于背光模组检测的真空治具,其特征在于,所述基板与所述定位柱一体注塑成型,所述基板表面与所述定位柱连接处设有凹槽,所述凹槽位于所述定位柱的内侧。 5.根据权利要求1所述的用于背光模组检测的真空治具,其特征在于,所述压缩膜是厚度为1mm的透明绿色软膜。 6.根据权利要求1所述的用于背光模组检测的真空治具,其特征在于,所述底板上还设有定位槽,所述基板下表面设有与所述定位槽相对应的定位块。
所属类别: 实用新型
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