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用双晶直探头判断扁平金属板材内部分层缺陷的检测方法
| 专利名称： | 用双晶直探头判断扁平金属板材内部分层缺陷的检测方法 |
| 摘要： | 本发明涉及用双晶直探头判断扁平金属板材内部分层缺陷的检测方法，属于超声波检测技术领域，包括以下步骤：在检定周期内的探伤仪上配选双晶直探头；使用双晶直探头对扁平板材进行超声波探伤；初步探伤找到扁平金属板材内部的缺陷区域后，再精确观察缺陷区域的缺陷波F1的波型；降低探头的检测灵敏度，降到基准灵敏度或能看到缺陷波F1的波峰；缺陷波F1的波峰很高同时底面回波B1很低甚至完全消失,即可判断缺陷区域内部有分层缺陷。本发明的用双晶直探头判断扁平金属板材内部分层缺陷的检测方法，提供了一种简单有效的对扁平金属板材内部缺陷的严重程度进行评判的方法。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 河北;13 |
| 申请人： | 河北普阳钢铁有限公司 |
| 发明人： | 岳土民;陈建超;王智聪;卢凤飞;刘明生 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-02-25T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-05-21T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910137917.9 |
| 公开号： | CN109781852A |
| 代理机构： | 石家庄众志华清知识产权事务所(特殊普通合伙) |
| 代理人： | 张建 |
| 分类号： | G01N29/04(2006.01);G;G01;G01N;G01N29 |
| 申请人地址： | 056305 河北省邯郸市武安市阳邑镇 |
| 主权项： | 1.用双晶直探头判断扁平金属板材内部分层缺陷的检测方法，其特征在于，包括以下步骤： 1）、在检定周期内的探伤仪上配选双晶直探头； 2）、使用双晶直探头对扁平金属板材进行超声波探伤； 3）、初步探伤找到扁平金属板材内部的缺陷区域后，再精确观察缺陷区域的缺陷波F1的波型； 4）、降低探头的检测灵敏度，降到基准灵敏度或能看到缺陷波F1的波峰； 5）、缺陷波F1的波峰很高同时底面回波B1很低甚至完全消失,即可判断缺陷区域内部有分层缺陷。 2.根据权利要求1所述的用双晶直探头判断扁平金属板材内部分层缺陷的检测方法，其特征在于：步骤2）中所述扁平金属板材为厚度6mm以上的扁平板材。 3.根据权利要求1所述的用双晶直探头判断扁平金属板材内部分层缺陷的检测方法，其特征在于：步骤3）中缺陷波F1的波型形状为束状、陡直。 4.根据权利要求1所述的用双晶直探头判断扁平金属板材内部分层缺陷的检测方法，其特征在于：步骤4）中降低探头的检测灵敏度通过改变探头发射的超声波的强度实现。 5.根据权利要求4所述的用双晶直探头判断扁平金属板材内部分层缺陷的检测方法，其特征在于：降低探头的检测灵敏度还可通过改变双晶直探头两晶片之间的夹角实现。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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