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原文传递一种对比试块及校准方法

专利名称：	一种对比试块及校准方法
摘要：	本发明涉及一种对比试块，对比试块表面为圆弧状的检测面，底部为用以安置的平面，右侧设有反射面，左侧设有防干扰区域，防干扰区域包括一个倾斜面和一个差异反射区；反射面由四段不同半径的圆弧面拼接而成。使用时，由于对比试块设有反射面和防干扰区域，使灵敏度曲线校准时，不受到反射波干扰的影响，提高对比试块的校准准确度和精度。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	上海;31
申请人：	上海船舶工艺研究所(中国船舶工业集团公司第十一研究所)
发明人：	陆雷俊;易一平
专利状态：	有效
申请日期：	2018-10-31T00:00:00+0800
发布日期：	2019-05-21T00:00:00+0800
申请号：	CN201811283327.9
公开号：	CN109781860A
代理机构：	上海世圆知识产权代理有限公司
代理人：	王佳妮
分类号：	G01N29/30(2006.01);G;G01;G01N;G01N29
申请人地址：	200032 上海市徐汇区中山南二路851号
主权项：	1.一种对比试块，其特征在于：对比试块表面为圆弧状的检测面，底部为用以安置的平面，右侧设有反射面，左侧设有防干扰区域，防干扰区域包括一个倾斜面和一个差异反射区；反射面由四段不同半径的圆弧面拼接而成。 2.根据权利要求1所述的一种对比试块，其特征在于：对比试块呈顶部大、底部小的结构，检测面上设有探头移动检测区域和与探头移动检测区域配合的刻度线。 3.根据权利要求1所述的一种对比试块，其特征在于：所述倾斜面的倾斜角度为30--75度，差异反射区由一组长横孔组成，长横孔分成4--8组，相邻两组长横孔之间的距离为8--12mm，每个长横孔的大小为1.5--4.5mm。 4.根据权利要求1所述的一种对比试块，其特征在于：反射面由上至下，由四段半径从小至大的圆弧面拼接而成，四段半径的比值为1：2:3--4:4.5--5.5。 5.一种对比试块的校准方法，其特征在于：校准方法如下：a、修磨探头至规定的曲率，将探头底部楔块进行修磨，使得探头底部与焊缝之间不会出现不利于超声检测的间隙；b、连接探头并确定探头的聚焦深度或者声程，连接超声波检测仪器及探头，将仪器设置为双收双发的工作状态，探头设置于检测面的左侧圆弧面第一检测位置上，左右移动探头找到最高反射体的位置，测量出最高波幅处声程；c、记录探头零偏和前沿数据，将探头放置于检测面的右侧圆弧面上的校准位置，左右移动探头，使声束正面扫向反射面，通过修磨后探头聚焦声程左右两个两圆弧面的自动声速校正，确定该探头在该均匀性材料中的声速及探头零偏及前沿数据，然后重复多次，并进行记录；d、测量计算修磨后的探头实际折射角，对于折射角度50--72度的探头，将探头置于检测面的左侧圆弧面的第一校准后位置处，左右移动探头，得到深度10mm长横孔反射最高波，计算得出修磨后探头的实际折角；对于折射角度45--60度的探头，将探头置于检测面的第二校准后位置上，左右移动探头，得到深度35mm长横孔反射最高波，计算得出修磨后探头的实际折角；e、将零偏、前沿、声速校准后探头置于检测面的左侧圆弧面上，左右移动探头，得到各长横孔反射最高波幅，将各最高波幅峰值点连线得到长横孔定量灵敏度曲线。 6.根据权利要求1所述的一种对比试块的校准方法，其特征在于：校准方法如下：对比试块表面为圆弧状的检测面，底部为用以安置的平面，右侧设有反射面，左侧设有防干扰区域，防干扰区域包括一个倾斜面和一个差异反射区；反射面由四段不同半径的圆弧面拼接而成；对比试块呈顶部大、底部小的结构，检测面上设有探头移动检测区域和与探头移动检测区域配合的刻度线。 7.根据权利要求6所述的一种对比试块的校准方法，其特征在于：校准方法如下：倾斜面的倾斜角度为30--75度，差异反射区由一组长横孔组成，长横孔分成4--8组，相邻两组长横孔之间的距离为8--12mm，每个长横孔的大小为1.5--4.5mm；反射面由上至下，由四段半径从小至大的圆弧面拼接而成，四段半径的比值为1：2:3--4:4.5--5.5。
所属类别：	发明专利