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原文传递一种样品折射率的测量方法及测量装置

专利名称：	一种样品折射率的测量方法及测量装置
摘要：	一种样品折射率的测量方法及测量装置，属于纳米颗粒粒度检测技术领域。其特征在于：包括如下步骤：步骤1，转动样品池(3)；步骤2，将样品池(3)排空，记录入射光的落点a；步骤3，在样品池(3)内注满样品，记录入射光的落点b；步骤4，得到落点a与落点b的间距；步骤5，得到入射光在样品池(3)上射出点的偏移量；步骤6，计算得到入射光在样品池(3)内的折射角；步骤7，得到入射光在样品池(3)内样品里的折射率。通过本样品折射率的测量方法及测量装置，可以精确计算得到入射光在样品中的折射率，从而进一步提高了利用动态光散射法测量纳米颗粒粒度时的精度。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	山东;37
申请人：	淄博澳谱仪器有限公司
发明人：	刘伟;秦福元;申晋;谭陈荣;刘珠明
专利状态：	有效
申请日期：	2019-01-25T00:00:00+0800
发布日期：	2019-05-21T00:00:00+0800
申请号：	CN201910074852.8
公开号：	CN109781591A
代理机构：	淄博佳和专利代理事务所
代理人：	孙爱华
分类号：	G01N15/02(2006.01);G;G01;G01N;G01N15
申请人地址：	255035 山东省淄博市张店区万杰路98号(山东信通电子股份有限公司院内西侧)
主权项：	1.一种样品折射率的测量方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤1，改变入射光入射样品池(3)时入射光与样品池(3)入射池壁的入射角并记下此时入射角的角度α；步骤2，将样品池(3)排空，打开光源，光源发出的入射光穿过聚焦透镜(2)后进入样品池(3)，入射光自样品池(3)的入射池壁射入后自另一侧的出射池壁射出，射出后落在光电位置传感器(4)上，并记录下落点a的位置；步骤3，在样品池(3)内注满样品，再次打开光源，光源射出的入射光在射入以及射出样品池(3)时分别发生折射，自样品池(3)的射出口落在光电位置传感器(4)上，并记录下落点b的位置；步骤4，根据入射光在光电位置传感器(4)上的两次落点的位置：点a、点b，得到入射光在光电位置传感器(4)上的间距，记为间距L；步骤5，得到入射光在步骤2及步骤3两次射出样品池(3)时，在样品池(3)出射池壁上射出点的偏移量；步骤6，计算得到入射光在样品池(3)内的折射角；步骤7，得到入射光在样品池(3)内样品里的折射率。 2.根据权利要求1所述的样品折射率的测量方法，其特征在于：步骤5中所述的样品池(3)出射池壁上射出点的偏移量的计算公式为：其中，L表示入射光在光电位置传感器(4)上的间距，α表示入射光在样品池(3)入射池壁上的入射角。 3.根据权利要求1所述的样品折射率的测量方法，其特征在于：步骤6中所述的折射角的表达式为：其中：L表示入射光在光电位置传感器(4)上的间距，α表示入射光在样品池(3)入射池壁上的入射角，B表示样品池(3)的边长。 4.根据权利要求1所述的样品折射率的测量方法，其特征在于：步骤7中所述折射率的表达式为：式中：α表示入射光在样品池(3)入射池壁上的入射角，β表示表示入射光在样品池(3)样品下的折射角，n0表示空气的折射率。 5.根据权利要求1所述的样品折射率的测量方法，其特征在于：在进行所述步骤1时，通过转动样品池(3)改变入射光的与样品池(3)入射池壁的入射角。 6.根据权利要求1所述的样品折射率的测量方法，其特征在于：在进行所述步骤1时，通过移动聚焦透镜(2)改变入射光的与样品池(3)入射池壁的入射角。 7.一种实现权利要求1～6所述的样品折射率的测量方法的测量装置，其特征在于：包括光源，在光源的出口处设置有聚焦透镜(2)，样品池(3)设置在聚焦透镜(2)的后方，在样品池(3)的后方设置有光电位置传感器(4)。 8.根据权利要求7所述的测量装置，其特征在于：所述的样品池(3)为边长为B的正方体。 9.根据权利要求7所述的测量装置，其特征在于：所述的光源为激光器(1)。 10.根据权利要求7所述的测量装置，其特征在于：在所述样品池(3)的下部还设置有旋转机构，用于实现样品池(3)以其中心为轴进行转动。
所属类别：	发明专利