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原文传递化验装置、方法和试剂

专利名称：	化验装置、方法和试剂
摘要：	描述了进行化验的装置、系统、方法、试剂、和成套设备以及制备它们的工艺。它们特别适合以多井板化验格式进行自动分析。提供一种将光学传感器聚焦到隔开的平台的方法，包括如下步骤：提供至少一个图案化的上、中和下表面，其中图案化的中表面和平台彼此对齐，且图案化的上和中表面之间的第一距离以及中表面和图案化的下表面之间的第二距离基本上相等；利用光学传感器获得图案化的上和中表面之间的对比度值的第一差值；(c)利用光学传感器获得图案化的中和下表面之间的对比度值的第二差值；和(d)比较对比度值的第一和第二差值。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	美国;US
申请人：	梅索磅秤技术有限公司
发明人：	I·钱伯林;L·塔巴金;J·威洛比;C·M·柯林顿;E·N·格勒泽;B·杰弗里-科克尔;M·科赫尔;S·科瓦奇;D.T.·勒;A·雷姆库凯勒;G·思加尔
专利状态：	有效
申请日期：	2014-01-03T00:00:00+0800
发布日期：	2019-05-21T00:00:00+0800
申请号：	CN201910174980.X
公开号：	CN109781630A
代理机构：	北京世峰知识产权代理有限公司
代理人：	卓霖;许向彤
分类号：	G01N21/25(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	美国马里兰州
主权项：	1.一种将光学传感器聚焦到间隔开的平台的方法，包括如下步骤： a.提供至少一个图案化的上、中和下表面，其中图案化的中表面和平台彼此对齐，并且图案化的上和中表面之间的第一距离和中表面和图案化的下表面之间的第二距离基本上相等； b.利用光学传感器获得图案化的上表面和中表面之间的第一对比度值差； c.利用光学传感器获得图案化的中表面和下表面之间的第二对比度值差； d.比较第一和第二对比度值差。 2.根据权利要求1的方法，还包括步骤(e)调节光学传感器和平台之间的距离，并且重复步骤(b)到(d)，直到第一和第二对比度值差之间的差小于预定值。 3.根据权利要求1的方法，其中图案化的中表面与托盘的底面同一水平的平面基本上对齐，该托盘承载至少一个待由光学传感器询问的样品。 4.根据权利要求3的方法，其中该平台包括多个电极，所述电极接触托盘的底面，以将电流传导到至少一个样品。 5.一种在多井板中进行发光化验的仪器，该仪器包括光探测子系统和板处理子系统，其中板处理子系统包括： (a)遮光外壳，包括壳体和能活动的抽屉，其中 (x)壳体包括壳体顶部、壳体前部、一个或多个板引入孔、检测孔、用于密封板引入孔的滑动遮光门和多个对齐特征，其中该壳体适合接收能活动的抽屉，和 (y)能活动的抽屉，包括： (i)x-y副架，包括多个配对对齐特征，所述特征配置为与多个对齐特征配合和啮合，以使壳体内的能活动的抽屉相对于光探测子系统对齐，其中能活动的抽屉的重量由壳体顶部支撑； (ii)带有能被升起和降下的板升降平台的一个或多个板升降机，其中该一个或多个板升降机的位置低于板引入孔； (iii)使板沿一个或多个水平方向平移的板平移台架，其中该台架包括用于支撑板的板滑架，板滑架具有开口，允许位置低于板滑架的板升降机接近和提升板，并且板平移台架配置为将板定位在检测孔下方，且将板定位在板升降机上方；和 (b)安装在壳体顶部上、板引入孔上方的一个或多个板堆垛机，其中板堆垛机配置为接收板或者将板输送到板升降机；和其中光探测子系统包括安装在外壳顶部上并且结合到带有遮光密封的检测孔的光探测器。 6.一种在多井板上进行发光化验的仪器，该仪器包括板处理子系统，该板处理子系统包括用于支撑多井板的板滑架，其中板滑架包括框架和板锁紧机构，板锁紧机构包括： (a)板滑架凸缘； (b)垂直于该凸缘的板夹臂，包括相对于凸缘的近端和远端，其中臂的近端被附接到框架，而臂的远端在X-Y板上能旋转，并且臂还包括上夹具，该上夹具包括配置为与板啮合的倾斜表面； (c)板定位元件，包括杆、踏板和弹簧，其中该杆垂直于臂、平行于凸缘、并且借助弹簧附接到臂的远端，而踏板以一角度附接到杆；和 (d)平行于臂的板壁，其垂直于定位元件和凸缘，并且布置在两者之间，板壁包括(i)用于与多井板的裙部啮合的下板夹具，和(ii)配置为将下板夹具推向裙部的下板夹具斜面。 7.一种将多井板嵌入权利要求6的仪器中的方法，包括： (a)将板放置在框架上； (b)压缩板定位元件的弹簧，从而朝着凸缘推动踏板抵靠板，并且使臂在X-Y面内朝着板旋转； (c)使上夹具与板接触，从而将板推向滑架壁； (d)使下板夹具与裙部接触，从而将板锁在滑架内。 8.一种在多井板中进行发光化验的仪器，该仪器包括板处理子系统和板锁紧机构，板处理子系统包括支撑多井板的板滑架，其中多井板至少具有第一、第二、第三和第四侧面，并且第一和第三侧面基本上彼此平行，而第二和第四侧面基本上彼此平行，其中板滑架限定了孔，其形状与多井板基本相同，且其尺寸小于多井板以支撑位于多井板周围的凸缘，其中板滑架还包括分别对应于多井板的第一和第二侧面的第一(501)和第二(513)限位件，其中板锁紧机构能够从用于接收一个多井板的开口配置移动到用于将多井板锁到板滑架的夹紧配置，其中板锁紧机构包括被偏置到夹紧位置的第一锁紧元件(509)和被偏置到夹紧位置的板夹臂(502)，该第一锁紧元件具有适合将多井板的第一侧面推向第一限位件的踏板(511)，该板夹臂具有能枢转地连接到板夹臂(502)并且适合将第二侧面推向第二限位件(513)的托架(503)，其中第一锁紧机构(509)连接到板夹臂(502)，和其中板锁紧机构包括至少一个偏置夹具(515)，其位置邻近第二限位件(513)，以将多井托盘的裙部夹到板滑架。 9.一种用于测量来自多井板的发光的装置，多井板的板类型选自于由单井可寻址的板或者多井可寻址的板构成的组，该装置包括： (i)用于识别板类型的板类型识别接口； (ii)用于保持并使多井板在x-y平面内平移的板平移台架； (iii)包括多个接触探针的板接触机构，该板接触机构位置低于板平移台架并且位于台架的运动范围内，其中该机构被安装在能升起和降下该机构的接触机构升降机上，以便当板位于平移台架上时，使探针与板的底部接触表面接触或者不接触； (iv)通过接触探针将电势施加到板的电压源；和 (v)位置高于板平移台架并且与板接触机构垂直对齐的成像系统，其中 (a)成像系统被配置用来为井的PxQ矩阵成像，板接触机构被配置用来接触与矩阵有关的底部接触表面，而板平移台架被配置用来使板平移到矩阵与成像系统和板接触机构对准的位置； (b)该装置被配置用来顺序施加电压到单井能寻址的板的矩阵中的每个井，并且为矩阵成像；和 (c)该装置被配置用来同时施加电压到多井可寻址的板的矩阵中的每个井，并且为矩阵成像。 10.用于测量来自多井板的发光的方法，多井板的板类型选自于由单井可寻址的板或者多井可寻址的板构成的组，该装置包括： (i)用于识别板类型的板类型识别接口； (ii)用于保持并使多井板在x-y平面内平移的板平移台架； (iii)包括多个接触探针的板接触机构，该板接触机构位置低于板平移台架并且位于台架的运动范围内，其中该机构被安装在能升起和降下该机构的接触机构升降机上，以便当板位于平移台架上时，使探针与板的底部接触表面接触或者不接触； (iv)通过接触探针将电势施加到板的电压源；和 (iv)位置高于板平移台架并且与板接触机构垂直对齐的成像系统，该方法包括， (a)将板装载到板平移台架上； (b)识别板是单井还是多井可寻址的板； (c)移动板平移台架，使井的第一PxQ矩阵与板接触机构和成像系统对准； (d)提升板接触机构，以便接触机构上的接触探针接触与井的PxQ矩阵有关的底部接触表面； (e)如果板是单井可寻址的板，那么在该组被成像的同时，通过顺序施加电压到该组中的每个井，在PxQ矩阵中产生发光并为之成像； (f)如果板是多井可寻址的板，那么在该矩阵被成像的同时，通过同时施加电压到矩阵中的每个井，在PxQ矩阵中产生发光并为之成像；和 (g)对于板中其他的PxQ矩阵，重复步骤(c)到(f)。
所属类别：	发明专利