专利名称: |
农产品农残快速检测方法以及检测用层叠体 |
摘要: |
本发明提供了一种农产品农残快速检测方法以及检测用层叠体,针对目前现有检测农产品农残过程复杂的现状,基于分子印迹以及光子晶体,提供一种快速、稳定的检测农产品农残的方法,所述方法具有使用方便、低成本的优点。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
芯视界(北京)科技有限公司 |
发明人: |
孙常库;刘啸虎;赵彩新;胡渭 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2018-12-29T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-05-24T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201811640061.9 |
公开号: |
CN109799201A |
代理机构: |
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) |
代理人: |
刘新宇;李茂家 |
分类号: |
G01N21/31(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
100083 北京市海淀区成府路45号中关村智造大街A303 |
主权项: |
1.一种农产品农残快速检测方法,其特征在于,所述方法包括: 标准曲线制备 测定n个吸附不同量的农残化合物的分子印迹光子晶体膜的吸收峰,并记录这些吸收峰相比于空白的分子印迹光子晶体膜的吸收峰的变化量,所述n≥3, 建立所述变化量与所述不同浓度的线性关系曲线,得到标准曲线; 待测农残取样 使用分子印迹光子晶体膜与待测农产品规定区域表面接触,得到吸收了农残化合物的分子印迹光子晶体膜; 农残检测 使用便携式光谱仪收集所述吸收了农残化合物的分子印迹光子晶体膜的吸收光谱,并根据其相比于空白的分子印迹光子晶体膜的吸收峰的变化量与所述标准曲线进行对比。 2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在标准曲线制备中,测定n个经过含有不同浓度的农残化合物水溶液浸渍过的分子印迹光子晶体膜的吸收峰,并记录这些吸收峰相比于空白的分子印迹光子晶体膜的吸收峰的变化量,所述不同浓度的浓度范围为10-2ppb~102ppm。 3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,在标准曲线制备中,所述变化量为吸收峰峰值位置或峰值强度的变化量。 4.根据权利要求1~3任一项所述的方法,其特征在于,在标准曲线制备中,所述变化量与所述不同浓度的线性关系曲线通过非线性数据拟合而得到。 5.根据权利要求1~4任一项所述的方法,其特征在于,在待测农残取样中,所述接触,为使用所述分子印迹光子晶体膜擦拭所述农产品规定区域表面。 6.根据权利要求1~5任一项所述的方法,其特征在于,在待测农残取样中,所述规定区域为所述待测农产品表面的全部区域或任意占比区域。 7.根据权利要求1~6任一项所述的方法,其特征在于,所述农残化合物为选自含磷或含氮化合物,并且所述农残化合物为针对所述分子印迹光子晶体膜的印迹化合物。 8.一种农产品检测方法,其特征在于,所述方法包括权利要求1~7任一项所述的方法。 9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述农产品包括水果、蔬菜的一种或多种。 10.一种用于农产品农残检测用层叠体,其特征在于,所述层叠体包括: 检测层, 所述检测层包括基膜层以及形成于基膜层上的分子印迹光子晶体膜层(MIP层); 区域控制层, 所述区域控制层层叠于所述检测层之上,并且在与MIP层重叠区域具有镂空区域,所述镂空区域面积大于MIP层的面积; 以及任选的可剥离层,所述可剥离层层叠于所述区域控制层之上,并且至少全部覆盖所述镂空区域。 11.根据权利要求10所述的层叠体,其特征在于,所述基膜层具有弹性。 12.根据权利要求10或11所述的层叠体,其特征在于,所述MIP层形成于所述基膜层的中心部位,且在MIP层周围以外处仍为没有被MIP覆盖的基膜层;所述MIP层形状选自矩形、圆形、椭圆形或正方形。 13.根据权利要求10~12任一项所述的层叠体,其特征在于,所述检测层与所述区域控制层在重叠区域至少部分地粘合。 |
所属类别: |
发明专利 |