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原文传递 X射线检查设备

专利名称：	X射线检查设备
摘要：	提供一种X射线检查设备，能够与被测量物等的物理性质无关地精确检查被测量物。X射线检查设备包括：X射线发射部件(110)，用于向被测量物(W)发射X射线；X射线检测部件(150)，用于通过将透过被测量物的X射线光子所拥有的能量根据预定阈值水平区分到一个以上的能量区域中来检测X射线光子；存储部件(141)，用于将被测量物和预定阈值水平直接或间接相关联地存储；阈值水平设置部件(140)，用于参考存储部件，从而以使得X射线检测部件能够参考针对输入信息指定的被测量物的阈值水平的方式保持该阈值水平作为预定阈值水平；检查部件(170)，用于基于X射线检测部件针对一个以上的能量区域各自所检测到的光子的数量或与光子的数量相对应的量，来检查被测量物。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	世高株式会社
发明人：	池田伦秋;中川幸宽
专利状态：	有效
申请日期：	2017-09-20T00:00:00+0800
发布日期：	2019-05-24T00:00:00+0800
申请号：	CN201780054153.6
公开号：	CN109804239A
代理机构：	北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：	刘新宇
分类号：	G01N23/04(2018.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	日本新潟县
主权项：	1.一种X射线检查设备，包括： X射线发射部件，用于向被测量物发射X射线； X射线检测部件，用于通过将透过所述被测量物的X射线光子所拥有的能量根据预定阈值水平而区分到一个以上的能量区域中，来检测所述X射线光子；存储部件，用于将所述被测量物和所述预定阈值水平直接或间接相关联地进行存储；阈值水平设置部件，用于参考所述存储部件，从而以使得所述X射线检测部件能够参考针对由所输入的信息指定的被测量物的阈值水平的方式，保持该阈值水平作为所述预定阈值水平；以及检查部件，用于基于所述X射线检测部件针对所述一个以上的能量区域中的各能量区域所检测到的光子的数量或者与光子的数量相对应的量，来检查所述被测量物。 2.根据权利要求1所述的X射线检查设备，其中，所述检查部件基于所述X射线检测部件针对所述一个以上的能量区域中的各能量区域所检测到的光子的数量或者与光子的数量相对应的量，来针对所述一个以上的能量区域中的各能量区域生成X射线透射图像，并且输出通过对各X射线透射图像进行预定处理所获得的图像作为所述被测量物的检查结果。 3.根据权利要求1所述的X射线检查设备，其中，所述存储部件还将表示所述检查部件中的所述被测量物的检查方法的信息与所述被测量物相关联地进行存储，以及所述检查部件参考所述存储部件，并且通过针对由输入至所述阈值水平设置部件的信息所指定的所述被测量物的检查方法来检查所述被测量物。 4.根据权利要求1至3中任一项所述的X射线检查设备，其中，与光子的数量相对应的量是电荷量。
所属类别：	发明专利