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原文传递一种链环相控阵探伤装置的校验快和灵敏度的试验方法

专利名称：	一种链环相控阵探伤装置的校验快和灵敏度的试验方法
摘要：	一种链环相控阵探伤装置的校验试块，包括用于表面或近表面缺陷的灵敏度校准的参考试块a及用于表面以下和内部缺陷的灵敏度校准的参考试块b；灵敏度校验方法，在PAUT探伤设备上新建一个文件；在检查区域内，探头应用光栅扫描和斜向扫描的组合运动，选择合适的角度范围来覆盖整个横截面；将相控阵探头放置在距离焊缝轴线距离“D的位置”，依次扫查CH0、CH1、CH3、CH2a、CH2b、N1、N2、N3、N4得到其80%FSH的对应的振幅增益；记录各区域对应的振幅增益；在设备中保存设置；本发明方法简单，便于操作，性能稳定，提高了对闪光焊缝内部扫查的灵敏度和对缺欠检出的准确率，降低了损失，链环的安全性能得到保障。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	江苏;32
申请人：	江苏亚星锚链股份有限公司
发明人：	陶兴;陶安祥;陶良凤;杨红军;陈荣;蒋国庆
专利状态：	有效
申请日期：	2018-12-08T00:00:00+0800
发布日期：	2019-05-28T00:00:00+0800
申请号：	CN201811498613.7
公开号：	CN109813808A
代理机构：	靖江市靖泰专利事务所
代理人：	陆平
分类号：	G01N29/30(2006.01);G;G01;G01N;G01N29
申请人地址：	214500 江苏省泰州市靖江市东兴镇何德村
主权项：	1.一种链环相控阵探伤装置的校验试块，其特征在于：包括用于表面或近表面缺陷的灵敏度校准的参考试块a及用于表面以下和内部缺陷的灵敏度校准的参考试块b；所述的参考试块a的端面设置为圆形，在水平方向N2、N4的位置、竖直方向N1、N3的位置设置有凹槽，凹槽的深度设置为3%-5%的链径或3-8mm，宽度设置为2-5mm，底部半径设置为10-20mm；凹槽设置于链环闪光焊缝±20mm范围内；所述的参考试块b设置为在链环界面带平底孔，平底孔CHO直径设置为4%的链径或5-10mm；平底孔CHO中心位置为链径中心；平底孔CHO的底部位于链环闪光焊缝±20mm范围内；平底孔CHO深度为40-60mm；平底孔CH1，CH2a，CH2b，CH3直径为3%的链径或3-8mm；平底孔 CH1，CH2a，CH2b，CH3中心位置设置在从链环表面向内1/4-1/3链径或10-20mm；平底孔 CH1，CH2a，CH2b，CH3底部位于链环闪光焊缝±20mm范围内；平底孔CH1，CH3深度为50-70mm，平底孔CH2a，CH2b深度为30-50mm；平底孔直径公差为±0.03mm；垂直度公差⊥＜0.05mm；深度公差为±1.6mm。 2.一种链环相控阵探伤装置的灵敏度校验方法，其特征在于：（a）在PAUT探伤设备上新建一个文件；（b）在检查区域内，探头应用光栅扫描和斜向扫描的组合运动，选择合适的角度范围来覆盖整个横截面；（c）将相控阵探头放置在距离焊缝轴线距离“D的位置”，即相控阵列的前端和理论的焊接轴线之间的距离为D；（d）6&12点方向PA探头扫查CH0得到其 80% FSH的对应的振幅增益；（e）6&12点方向PA探头扫查CH1得到其 80% FSH的对应的振幅增益；（f）6&12点方向PA探头扫查CH3得到其 80% FSH的对应的振幅增益；（g）3点方向PA探头扫查CH2a得到其 80% FSH的对应的振幅增益；（h）9点方向PA探头扫查CH2b得到其 80% FSH的对应的振幅增益；（i）扫查N1得到其 80% FSH的对应的振幅增益；扫查N2得到其 80% FSH的对应的振幅增益；扫查N3得到其 80% FSH的对应的振幅增益；（l）扫查N4得到其 80% FSH的对应的振幅增益；记录各区域对应的振幅增益； (n)在设备中保存设置。
所属类别：	发明专利