详情

原文传递尘埃粒子计数器校准装置及校准方法

专利名称：	尘埃粒子计数器校准装置及校准方法
摘要：	本发明公开了一种尘埃粒子计数器校准装置及校准方法，包括依次相连通的洁净气源(1)、气溶胶发生器(2)、气溶胶扩散干燥器(3)、气溶胶中和器(4)、虚拟切割器(5)、气溶胶混合器(6)。虚拟切割器(5)与质量流量控制器(8)相连通，所述质量流量控制器(8)与负压采样泵(9)相连通。该校准装置的主要采用了被动补气、虚拟切割等技术，可实现对(2.83～100)L/min尘埃粒子计数器的准确校准。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	中国计量科学研究院
发明人：	刘俊杰
专利状态：	有效
申请日期：	2019-03-20T00:00:00+0800
发布日期：	2019-05-31T00:00:00+0800
申请号：	CN201910210333.X
公开号：	CN109827880A
代理机构：	北京双收知识产权代理有限公司
代理人：	李厚铭
分类号：	G01N15/06(2006.01);G;G01;G01N;G01N15
申请人地址：	100013 北京市朝阳区北三环东路18号
主权项：	1.一种尘埃粒子计数器校准装置，其特征在于：包括依次相连通的洁净气源(1)、气溶胶发生器(2)、气溶胶扩散干燥器(3)、气溶胶中和器(4)、虚拟切割器(5)、气溶胶混合器(6)。 2.根据权利要求1所述的尘埃粒子计数器校准装置，其特征在于：所述虚拟切割器(5)与质量流量控制器(8)相连通，所述质量流量控制器(8)与负压采样泵(9)相连通。 3.根据权利要求2所述的尘埃粒子计数器校准装置，其特征在于：所述气溶胶混合器(6)与标准尘埃粒子计数器(7)或被校准尘埃粒子计数器(18)相连。 4.根据权利要求3所述的尘埃粒子计数器校准装置，其特征在于：所述虚拟切割器(5)包括气溶胶入口(10)、气溶胶出口旁路(11)、主气溶胶出口(12)、限流孔(13)。 5.根据权利要求4所述的尘埃粒子计数器校准装置，其特征在于：所述气溶胶混合器(6)包括高效过滤器(14)、采样入口(15)、等速采样头(16)，所述气溶胶混合器(6)通过采样出口(17)与标准尘埃粒子计数器(7)或被校准尘埃粒子计数器(18)相连。 6.根据权利要求5所述的尘埃粒子计数器校准装置，其特征在于：所述虚拟切割器(5)的材质为302不锈钢；所述气溶胶混合器(6)的材质为有机玻璃或不锈钢。 7.根据权利要求6所述的尘埃粒子计数器校准装置，其特征在于：所述气溶胶颗粒入口(10)的流量为1～2L/min；质量流量控制器(8)与负压采样泵(9)将气溶胶出口旁路(11)的流量控制在0.5～1.5L/min；所述限流孔(13)的直径约为0.1～0.2mm，主气溶胶出口(12)的流量为0.5L/min。 8.根据权利要求7所述的尘埃粒子计数器校准装置，其特征在于：所述气溶胶混合器(6)呈圆柱形。 9.根据权利要求8所述的尘埃粒子计数器校准装置，其特征在于：被校准尘埃粒子计数器(18)或标准尘埃粒子计数器(7)以恒定流量进行样品测量；所述恒定流量≥2.83L/min。 10.权利要求1-9任一所述的尘埃粒子计数器校准装置的校准方法，其特征在于，包括以下步骤： (1)向气溶胶发生器中加入超纯水和GBW12031粒度标准物质；开启洁净气源、气溶胶发生器、气溶胶中和器和标准尘埃粒子计数器，选择等速采样头；将标准尘埃粒子计数器设定为累积计数模式，设定采样时间； (2)采用质量流量控制器控制虚拟切割器的气溶胶入口的流量，采用质量流量控制器和负压采样泵控制气溶胶出口旁路的流量，控制主气溶胶出口的流量； (3)系统运行一段时间后，记录标准尘埃粒子计数器的1min计数值Cs，共计10次，计算得到平均值 (4)将标准尘埃粒子计数器替换为被校准尘埃粒子计数器，选用等速采样头，并将其接入校准系统中；系统稳定后记录被校准尘埃粒子计数器的1min计数值Cm，共计10次，计算得到平均值 (5)通过公式(1)计算被校准尘埃粒子计数器的示值误差：式中，ΔC：被校准尘埃粒子计数器的示值误差；被校准尘埃粒子计数器的10次测量平均值；标准尘埃粒子计数器的10次测量平均值。
所属类别：	发明专利