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原文传递一种基于声场特征的反射体形貌提取系统和提取方法

专利名称：	一种基于声场特征的反射体形貌提取系统和提取方法
摘要：	本发明提供了一种基于声场特征的反射体形貌提取系统和提取方法是向一反射体投射超声波，并采用检测该反射体反射该超声波而形成的关于不同接收角度和关于不同深度的超声回波，同时对该超声回波进行针对性的信号处理操作，以提取关于该反射体的形貌特征和计算出相应的形貌特征参数；其中，对该超声回波进行针对性的信号处理操作，能够根据图像缺陷所处的不同位置，对相应位置处由声束宽度导致的图像缺陷放大现象进行适应性缩小，而且还能够对物体表面不同位置的结构缺陷进行优化，以此得到该结构缺陷对应的缺陷轮廓参数和缺陷趋势参数。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	深圳中凯剑无损检测设备科技有限公司
发明人：	董凯;田国良;孙剑;任鹏;马殿忠;董红斌
专利状态：	有效
申请日期：	2019-03-28T00:00:00+0800
发布日期：	2019-05-31T00:00:00+0800
申请号：	CN201910245518.4
公开号：	CN109828030A
代理机构：	北京冠和权律师事务所
代理人：	朱健;张国香
分类号：	G01N29/06(2006.01);G;G01;G01N;G01N29
申请人地址：	518000 广东省深圳市南山区招商街道海滨花园南海小筑A2号
主权项：	1.一种基于声场特征的反射体形貌提取系统，其特征在于，所述反射体形貌提取系统包括：超声波发射模块，用于向所述反射体投射超声波；超声波发射控制模块，用于控制所述超声波发射模块的超声波发射参数，从而实现对所述反射体进行超声波扫描操作；超声波接收模块，用于接收所述超声波到达所述反射体、并被所述反射体反射后所形成的超声回波；超声波接收控制模块，用于控制所述超声波接收模块，以使所述超声波接收模块能够获得关于不同接收角度和关于不同深度的超声回波；形貌提取模块，用于根据所述关于不同接收角度和关于不同深度的超声回波，得到所述反射体的形貌特征参数。 2.如权利要求1所述的基于声场特征的反射体形貌提取系统，其特征在于：所述超声波发射模块包括阵列式超声发射器，所述超声波发射控制模块包括时序生成器，所述时序生成器用于向所述阵列式超声发射器发送一时序信号，所述阵列式超声发射器能够按照所述时序信号驱动其包含的每一个超声发射器依次向所述反射体投射超声波；其中，所述阵列式超声发射器为线状阵列超声发射器、矩形阵列超声发射器、圆形阵列超声发射器或者环形阵列超声发射器。 3.如权利要求1所述的基于声场特征的反射体形貌提取系统，其特征在于：所述超声波发射控制模块包括致动器阵列，所述致动器阵列具有若干致动器，每一个致动器对应于所述超声波发射模块中的每一个超声发射器，以相应地控制每一个所述超声发射器各自的超声发射状态，从而使得每一个所述超声发射器能够连续地改变其投射超声波的方向和/或强度。 4.如权利要求1所述的基于声场特征的反射体形貌提取系统，其特征在于：所述形貌提取模块包括反射体确定子模块和形貌特征确定子模块，所述反射体确定子模块能够根据所述关于不同接收角度和关于不同深度的超声回波确定当前场景中存在的不同反射体的空间分布位置信息，所述形貌特征确定子模块能够根据所述空间分布位置信息，提取不同反射体中的每一个所对应的超声回波，并以此得到每一个反射体相应的形貌特征参数。 5.如权利要求1所述的基于声场特征的反射体形貌提取系统，其特征在于：所述形貌提取模块还包括缺陷确定子模块，所述缺陷确定子模块用于根据当前场景中不同位置对应的超声回波的声束宽度，对所述反射体存在的缺陷进行还原处理，以此得到所述缺陷对应的缺陷轮廓参数和缺陷趋势参数。 6.一种使用如权利要求1-5中任一项所述的基于声场特征的反射体形貌提取系统的反射体形貌提取方法，其特征在于，所述反射体形貌提取方法包括如下步骤：步骤(1)，控制超声波的发射参数并将所述超声波投射至反射体上，以实现对所述反射体进行超声波扫描操作；步骤(2)，接收所述超声波到达所述反射体、并被所述反射体反射后的关于不同接收角度和关于不同深度的超声回波；步骤(3)，根据所述关于不同接收角度和关于不同深度的超声回波，得到所述反射体的形貌特征参数。 7.如权利要求6所述的反射体形貌提取方法，其特征在于：在步骤(1)中，控制超声波的发射参数并将所述超声波投射至反射体上具体包括依据一时序信号控制阵列式超声发射器中的每一个超声发射器依次向所述反射体投射超声波。 8.如权利要求7所述的反射体形貌提取方法，其特征在于：在步骤(1)中，控制超声波的发射参数并将所述超声波投射至反射体上还具体包括对每一个超声发射器都分别设置相应的一个致动器，通过所述致动器相应地控制每一个所述超声发射器各自的超声发射状态，从而使得每一个所述超声发射器能够连续地改变其投射超声波的方向和/或强度。 9.如权利要求6所述的反射体形貌提取方法，其特征在于：在步骤(3)中，根据所述关于不同接收角度和关于不同深度的超声回波，得到所述反射体的形貌特征参数具体包括根据所述关于不同接收角度和关于不同深度的超声回波确定当前场景中存在的不同反射体的空间分布位置信息，再根据所述空间分布位置信息，提取不同反射体中的每一个所对应的超声回波，并以此得到每一个反射体相应的形貌特征参数。 10.如权利要求9所述的反射体形貌提取方法，其特征在于：在步骤(3)中，根据所述关于不同接收角度和关于不同深度的超声回波，得到所述反射体的形貌特征参数还具体包括根据当前场景中不同位置对应的超声回波的声束宽度，对所述反射体存在的缺陷进行还原处理，以此得到所述缺陷对应的缺陷轮廓参数和缺陷趋势参数。
所属类别：	发明专利