专利名称: |
一种改造后的芯片抽检机 |
摘要: |
本实用新型涉及芯片生产装置领域,具体涉及一种改造后的芯片抽检机。包括两个目镜,其中一个目镜端口配设有发光装置,所述发光装置能够向目镜内照射光线,使得被检测物表面被照亮。芯片抽检机有两个目镜可观察物体,在其中一个目镜中配套设置一个光源,光线向目镜内照射,由于光路是可逆的,增加的光源从芯片正面照射,能够让工作人员清楚的分辨芯片表面的质量,这种改进不仅结构简单,且效果明显,实用性高。 |
专利类型: |
实用新型 |
国家地区组织代码: |
四川;51 |
申请人: |
成都先进功率半导体股份有限公司 |
发明人: |
邓海昕;徐晓波;周静涛;龚启洪 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2018-09-19T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-06-04T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201821533617.X |
公开号: |
CN208937509U |
代理机构: |
四川力久律师事务所 |
代理人: |
刘童笛 |
分类号: |
G01N21/88(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
611731 四川省成都市高新西区科新路8-88号 |
主权项: |
1.一种改造后的芯片抽检机,包括两个目镜,其特征在于,其中一个目镜端口配设有发光装置,所述发光装置能够向目镜内照射光线,使得被检测物表面被照亮。 2.根据权利要求1所述的改造后的芯片抽检机,其特征在于,所述发光装置为白光灯。 3.根据权利要求2所述的改造后的芯片抽检机,其特征在于,所述发光装置设有限位结构,用于防止该发光装置整体滑落到目镜孔洞内。 4.根据权利要求3所述的改造后的芯片抽检机,其特征在于,所述发光装置为圆柱形结构,且与抽检机目镜孔洞匹配。 5.根据权利要求4所述的改造后的芯片抽检机,其特征在于,所述限位结构为设置在圆柱形发光装置尾端的环形凸台。 |
所属类别: |
实用新型 |