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一种植物叶片单位面积滞尘量的微区测量方法
| 专利名称： | 一种植物叶片单位面积滞尘量的微区测量方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种植物叶片单位面积滞尘量的微区测量方法，本发明将采集的洗脱前的滞尘植物叶片，制备成扫描电镜样品并获得SEM电镜图，然后对图像进行多次处理得到叶片滞尘颗粒物在叶片表面的投影面积，通过计算得到滞尘颗粒物TSP当量体积，代入滞尘颗粒物TSP的密度，最后得出单位面积植物叶片滞尘量；由此说明本发明可以有效地用于植物叶片单位面积滞尘量的测量，可为植物滞尘的标准化和滞尘植物的优选奠定理论基础。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 云南;53 |
| 申请人： | 昆明理工大学 |
| 发明人： | 郑伟;张杰;徐晓丹 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2018-12-03T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-06-07T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201811463200.5 |
| 公开号： | CN109856173A |
| 分类号： | G01N23/2251(2018.01);G;G01;G01N;G01N23 |
| 申请人地址： | 650093 云南省昆明市五华区学府路253号 |
| 主权项： | 1.一种植物叶片单位面积滞尘量的微区测量方法，其特征在于：所述方法步骤如下： 步骤1、选取同一植物洗脱前的n个滞尘叶片微区，分别进行SEM电镜扫描； 步骤2、利用图像处理软件，将SEM电镜图像进行二值化处理，得到叶片滞留的悬浮颗粒物在叶片表面的投影图像； 步骤3、将得到的悬浮颗粒物在叶片表面的投影图像导入图像处理软件，将投影面积进行选取并填充为黑色； 步骤4、将步骤3处理后得到的图像导入图像处理软件进行比例校准，调节灰度阈值，使悬浮颗粒物投影边缘凸显；通过图像处理软件设定荧光强度平均值范围，得到总悬浮颗粒物投影面积； 步骤5、对n个滞尘叶片微区得到的SEM电镜扫描图像都分别进行步骤2-步骤4的操作，最终得到对应的总悬浮颗粒物投影面积为S1,S2,...,Sn； 步骤6、将得到的第i个滞尘叶片微区的总悬浮颗粒物投影面积Si，通过求出半径Ri；再由求出第i个滞尘叶片微区的总悬浮颗粒物当量体积Vi；其中i＝1,2,...n； 步骤7、将飞灰表观密度ρ代入公式：Gi＝ρ×Vi，得到第i个滞尘叶片微区的总悬浮颗粒物重量Gi； 步骤8、将n个滞尘叶片微区的总悬浮颗粒物投影面积进行累加，得到n个滞尘叶片微区的总悬浮颗粒物总投影面积S总＝S1+S2+,....,+Sn； 步骤9、将n个滞尘叶片微区的总悬浮颗粒物重量进行累加，得到n个滞尘叶片微区的总悬浮颗粒物总重量G总＝G1+G2+,....,+Gn； 步骤10、通过求得植物叶片滞尘能力M。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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