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一种基于马赫-曾德尔光纤传感器的漏磁检测系统
| 专利名称： | 一种基于马赫-曾德尔光纤传感器的漏磁检测系统 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于马赫‑曾德尔光纤传感器的漏磁检测系统，由包含宽带光源、光纤、耦合器、光纤微弱磁场传感器、光电探测器、数据采集卡、磁化结构、磁致伸缩片、压电陶瓷相位控制器、计算机组成。磁化结构将钢板局部磁化至深度饱和；宽带光源发出光信号通过耦合器等分为两束相同的光波，一束通过粘贴有磁致伸缩片的传感臂，另一束通过参考臂光纤。当存在漏磁场时，磁致伸缩片产生轴向应变，继而引起干涉仪传感臂中光波相位改变，再将经过传感臂与参考臂传输的两列光波通过耦合器耦合到一起，光电探测器将光信号转化为模电信号，并给压电陶瓷相位控制器提供反馈信号，数据采集卡将其转化为数字信号送入计算机，再对缺陷信号进一步处理、分析。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 浙江;33 |
| 申请人： | 中国计量大学 |
| 发明人： | 沈常宇;苏越洋;李光海 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-04-19T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-06-07T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910318114.3 |
| 公开号： | CN109856233A |
| 分类号： | G01N27/83(2006.01);G;G01;G01N;G01N27 |
| 申请人地址： | 310018 浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号 |
| 主权项： | 1.一种基于马赫-曾德尔光纤传感器的漏磁检测系统，由包含宽带光源(1)、光纤(2)、耦合器(3)、光纤微弱磁场传感器(4)、光电探测器(5)、数据采集卡(6)、磁化结构(7)、磁致伸缩片(8)、压电陶瓷相位控制器(9)、计算机(10)组成。其特征在于：磁化结构(7)将被测钢板局部磁化至深度饱和，当钢板有缺陷存在时，即可产生漏磁场；宽带光源(1)发出光信号通过一个耦合器(3)后，等分为两束相同的光波，一束通过粘贴有磁致伸缩片(8)的传感臂，另一束通过普通的参考臂光纤；当漏磁场施加作用在磁致伸缩片(8)上时，磁致伸缩片(8)产生轴向应变，继而引起干涉仪传感臂中光波相位发生变化，再将经过传感臂与参考臂传输的两列光波通过耦合器(3)耦合到一起，通过光电探测器(5)将光信号转化为模电信号，并给压电陶瓷相位控制器(9)提供反馈信号，消除外部影响，再通过数据采集卡(6)转化为数字信号送入计算机(10)，计算机(10)再对缺陷信号进一步处理、分析、判断，探测出缺陷的尺寸类型等特性。 2.根据权利要求1所述的一种基于马赫-曾德尔光纤传感器的漏磁检测系统，其特征在于：光纤微弱磁场传感器(4)采用马赫-曾德尔光纤传感器。 3.根据权利要求1所述的一种基于马赫-曾德尔光纤传感器的漏磁检测系统，其特征在于：磁化结构采用永磁体，材料为NdFeB。 4.根据权利要求1所述的一种基于马赫-曾德尔光纤传感器的漏磁检测系统，其特征在于：传感器探头提离高度范围为0.2-4mm。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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