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原文传递旋转试管比色装置

专利名称：	旋转试管比色装置
摘要：	一种旋转试管比色装置，包括试管仓、试管固定体、步进电机、光耦切割片、光电耦合器和光电耦合器底座；试管仓包括主体和电机轴连接结构，主体呈上开口的直管状，主体上设有沿径向贯穿的一个以上的光线通道，电机轴连接结构呈下开口的直管状，电机轴连接结构同轴地连接于主体的下端；试管固定连接于试管仓的上面其内设有冠簧；步进电机的输出轴与电机轴连接结构连接；光耦切割片连接于试管仓的侧面；光电耦合器安装于光电耦合器底座上且一起设置于试管仓的侧面，光电耦合器对光耦切割片进行检测。本装置简化了实验步骤，避免了由于试管玻璃不均匀而造成的误差、人为因素造成的实验错误、以及操作不慎造成的人身伤害，降低了实验出错率。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	上海;31
申请人：	上海佑科仪器仪表有限公司
发明人：	胡建立
专利状态：	有效
申请日期：	2018-10-26T00:00:00+0800
发布日期：	2019-06-07T00:00:00+0800
申请号：	CN201821744220.5
公开号：	CN208953448U
代理机构：	上海骁象知识产权代理有限公司
代理人：	赵峰
分类号：	G01N21/31(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	201414 上海市奉贤区青村镇青灵路228号
主权项：	1.一种旋转试管比色装置，其特征在于，包括试管仓、试管固定体、步进电机、光耦切割片、光电耦合器和光电耦合器底座；所述的试管仓包括主体和电机轴连接结构，所述的主体呈上端开口且下端封闭的直管状，主体上设有沿径向贯穿的一个以上的光线通道，所述的电机轴连接结构呈上端封闭且下端开口的直管状，电机轴连接结构连接于主体的下端且与主体同轴设置；所述的试管固定体呈直管状，试管固定体设置于试管仓的上面且试管固定体的下端与试管仓的主体的上端插接配合，试管固定体内设有冠簧；所述的步进电机设置于试管仓的下面，步进电机的输出轴竖直向上设置且步进电机的输出轴与试管仓的电机轴连接结构插接配合；所述的光耦切割片连接于试管仓的侧面；所述的光电耦合器安装于光电耦合器底座上且一起设置于试管仓的侧面，光电耦合器对光耦切割片进行检测。 2.根据权利要求1所述的旋转试管比色装置，其特征在于，所述的主体的上端端面沿周向设有槽口朝上的插槽，所述的试管固定体的下端端面沿周向设有与插槽相配合的插片。 3.根据权利要求2所述的旋转试管比色装置，其特征在于，所述的插片和插槽上分别相对应地设有第一固定孔，插片和插槽通过第一固定螺丝相连接。 4.根据权利要求1所述的旋转试管比色装置，其特征在于，所述的主体的下端的内侧端面中心设有环状凸台。 5.根据权利要求1所述的旋转试管比色装置，其特征在于，所述的步进电机的输出轴和电机轴连接结构上分别相对应地设有第二固定孔，步进电机的输出轴和电机轴连接结构通过第二固定螺丝相连接。 6.根据权利要求1所述的旋转试管比色装置，其特征在于，所述的试管仓还包括加强结构，所述的加强结构设置于电机轴连接结构的周侧，所述的加强结构包括三个以上的加强板，三个以上的加强板沿周向均布于电机轴连接结构的周侧且连接电机轴连接结构和主体的下端。 7.根据权利要求1所述的旋转试管比色装置，其特征在于，所述的光耦切割片水平地连接于试管仓的主体的下端端面上。 8.根据权利要求7所述的旋转试管比色装置，其特征在于，所述的光电耦合器为槽型光电耦合器，光电耦合器的槽口水平设置以供光耦切割片通过。 9.根据权利要求1-8任一项所述的旋转试管比色装置，其特征在于，还包括固定轴承，所述的固定轴承套接于试管固定体外侧。 10.根据权利要求9所述的旋转试管比色装置，其特征在于，还包括控制器，所述的控制器与步进电机和光电耦合器连接。
所属类别：	实用新型