专利名称: |
一种电子元器件质量检测系统 |
摘要: |
本发明公开了一种电子元器件质量检测系统,该系统包括:图像获取模块、图像筛选模块、电子元器件分类模块、图像处理模块和缺陷检测模块。通过图像获取模块对待检测电子元器件的图像进行采集,通过图像筛选模块筛选出图像质量最佳的图像,并对其进行处理,通过处理后的图像获取待检测电子元器件的类型,根据确定好的类型调取云服务器中预存储该类型电子元器件的缺陷数据,进而实现对待检测电子元器件的缺陷检测,该系统更加方便快捷,无需将提取到的待检测电子元器件的特征数据与预存储的每一类型电子元器件的缺陷数据进行比对,大大缩减了缺陷检测的时间,提高了质量检测的效率,也减少了人工识别的错误。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
广东;44 |
申请人: |
深圳市阿赛姆电子有限公司 |
发明人: |
孙磊;许海财;陈伦森 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-03-29T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-06-11T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910247051.7 |
公开号: |
CN109870461A |
代理机构: |
北京华识知识产权代理有限公司 |
代理人: |
乔浩刚 |
分类号: |
G01N21/88(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
518000 广东省深圳市龙华区观澜街道观光路1301号银星科技大厦7楼B710-1 |
主权项: |
1.一种电子元器件质量检测系统,其特征在于,包括:图像获取模块、图像筛选模块、电子元器件分类模块、图像处理模块和缺陷检测模块; 所述图像获取模块,被配置为:获取待检测电子元器件的多张原始图像,并将其传输至所述图像筛选模块; 所述图像筛选模块,被配置为:对接收到的多张原始图像进行质量评价,选取图像质量最佳的原始图像并分别发送至所述电子元器件分类模块和图像处理模块; 所述电子元器件分类模块,被配置为:从接收到的原始图像中提取所述待检测电子元器件的轮廓信息,并将其与预存储的各类型电子元器件的标准轮廓信息进行比对,确定所述待检测电子元器件所属的类型; 所述图像处理模块,被配置为:对接收到的原始图像进行降噪处理,并从降噪后的原始图像中提取描述所述待检测电子元器件的特征数据; 所述缺陷检测模块,被配置为:调取预存储的、与所述待检测电子元器件类型相应的缺陷数据,并根据调取的缺陷数据对已提取到的所述待检测电子元器件的特征数据进行识别,判断所述待检测电子元器件是否存在缺陷以及若存在缺陷时其对应的缺陷类型。 2.根据权利要求1所述的电子元器件质量检测系统,其特征在于,还包括:与所述电子元器件分类模块和缺陷检测模块通信连接的云服务器,所述云服务器中预存有各类型电子元器件的标准轮廓信息以及其对应的各类缺陷数据; 所述云服务器还用于存储所述电子元器件分类模块的分类结果。 3.根据权利要求1所述的电子元器件质量检测系统,其特征在于,还包括与所述缺陷检测模块通信连接的终端设备,所述终端设备被配置为:用来接收所述缺陷检测模块的检测结果,以便于质检人员及时了解待检测电子元器件是否存在缺陷以及若存在缺陷时其对应的缺陷类型。 4.根据权利要求1所述的电子元器件质量检测系统,其特征在于,所述的从接收到的原始图像中提取所述待检测电子元器件的轮廓信息,并将其与预存储的各类型电子元器件的标准轮廓信息进行比对,确定所述待检测电子元器件所属的类型,包括: (1)对接收到的原始图像进行图像分割,去除背景图像,得到只包含待检测电子元器件的目标图像; (2)将得到的目标图像进行归一化处理,以将其调整到预设的标准尺寸大小,并从中提取所述待检测电子元器件的轮廓信息,所述轮廓信息包括:待检测电子元件边缘点的曲率值; (3)将提取到的所述待检测电子元器件的轮廓信息与预存储的各类型电子元器件的标准轮廓信息进行比对,确定待检测电子元器件所属的类型。 5.根据权利要求4所述的电子元器件质量检测系统,其特征在于,所述的对接收到的原始图像进行图像分割,具体是: (1)将接收到的原始图像进行灰度化处理,并将其划分为多个大小为S×T的图像块; (2)对每个图像块进行阈值分割,其中,其图像块的阈值计算公式为: 当该像素点为目标图像的像素点,反之,该像素点为背景图像的像素点; 式中,为第r1行第r2列的图像块的最优阈值,Th0为预设的全局分割阈值,为第r1行第r2列的图像块中第s行第t列处像素点的灰度值,为第r1行第r2列的图像块的平均灰度值,为第r1行第r2列的图像块的灰度值的方差,σ0为灰度化后的原始图像的灰度值的方差,为第r1行第r2列的图像块的灰度值均值,u0为灰度化后的原始图像的灰度值均值,α、β为大于零的权重因子,其满足α+β=1; (3)获取所有目标图像的像素点,所述目标图像的像素点构成的集合即为目标图像。 6.根据权利要求1所述的电子元器件质量检测系统,其特征在于,所述的图像获取模块为图像传感器,和/或,CCD摄像机。 |
所属类别: |
发明专利 |