当前位置: 首页> 交通专利数据库 >详情
原文传递 一种纱团硬度测量仪及其测量方法
专利名称: 一种纱团硬度测量仪及其测量方法
摘要: 本申请涉及一种纱团硬度测量仪及其测量方法,纱团硬度测量仪包括测量终端和传感装置,测量终端包括按键、显示屏、基座、压力测量电路和处理器,处理器与按键、显示屏、压力测量电路均连接,基座与压力测量电路压力检测元件连接,传感装置包括保护罩和测针,测针一端穿过保护罩内部后伸出,另一端与基座连接,保护罩安装在测量终端上,测针头部为锥形结构。测量方法包括:测量值与实际硬度对应关系方程的获取:固定试样并去除包装膜;启动装置并初始化;测针对准试样被测面中心线匀速压入得到测量值;在多个圆周面上高度相同的不同点处各做一次测量得到平均测量值;用平均测量值通过方程计算得到硬度值。本申请装置结构简单、测试方便有效,准确便利。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 浙江;33
申请人: 巨石集团有限公司
发明人: 张志坚;宋长久;费其锋;章建忠;李明;冉文华;周贤旺;曹云飞;顾嘉雯
专利状态: 有效
申请日期: 2019-03-29T00:00:00+0800
发布日期: 2019-06-14T00:00:00+0800
申请号: CN201910249526.6
公开号: CN109883862A
代理机构: 杭州天欣专利事务所(普通合伙)
代理人: 陈红;陈农
分类号: G01N3/40(2006.01);G;G01;G01N;G01N3
申请人地址: 314500 浙江省嘉兴市桐乡市经济开发区文华南路669号
主权项: 1.一种纱团硬度测量仪,其特征是:包括测量终端和传感装置,所述测量终端包括按键、显示屏、基座、压力测量电路和处理器,处理器与按键、显示屏、压力测量电路均连接,所述的基座与压力测量电路的压力检测元件连接,所述传感装置包括保护罩和测针,所述的测针一端穿过保护罩内部后伸出,测针另一端与基座连接,保护罩安装在测量终端上,所述的测针头部为锥形结构。 2.根据权利要求1所述纱团硬度测量仪,其特征是:所述测针伸出保护罩底面3~9毫米,测针头部锥形结构高度不小于测针一端伸出保护罩底面的距离。 3.根据权利要求1所述纱团硬度测量仪,其特征是:所述的测针与基座通过螺纹结构连接。 4.根据权利要求1所述纱团硬度测量仪,其特征是:所述保护罩为中空圆柱形结构。 5.根据1至4任一权利要求所述纱团硬度测量仪,其特征是:所述测针头部锥度为30°~75°,锥高3~13毫米。 6.如权利要求5所述的纱团硬度测量仪,其特征是:所述测针头部锥度为40°~70°,锥高4~11毫米。 7.根据1至6任一权利要求所述纱团硬度测量仪的测量方法,其特征是,包括以下步骤: S1、纱团硬度测量仪测量值与实际硬度的对应关系方程的获取:所述的方程为H=(N/Smax)*L0.5*tan(θ)={N/【π*(L*tan(θ/2))2】}*L0.5*tan(θ); S2、固定好被测纱团,其中被测位置去除包装膜; S3、启动纱团硬度测量仪并初始化; S4、将测针对准被测纱团上某一点,按压直至伸出保护罩部分的测针全部压入到被测纱团内,且显示屏上的数字达到稳定状态,记录所得测量值; S5、将被测纱团圆周面上高度相同的间隔相同距离分布的多个不同的点处各做一次测量,取这些测量值的平均值得到平均测量值; S6、用S5步中的平均测量值,依据测量值与硬度的对应关系方程计算得到硬度值。 8.如权利要求7所述的纱团硬度测量仪的测量方法,其特征在于,所述的步骤S4中,测量时需对准并匀速将伸出保护罩部分的测针全部压入到被测纱团内。 9.如权利要求7所述的纱团硬度测量仪的测量方法,其特征在于,所述的步骤S5中,取被测纱团圆周面上高度相同的间隔相同距离分布的3个以上点处各做一次测量,取这些测量值的平均值得到平均测量值。
所属类别: 发明专利
检索历史
应用推荐