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原文传递一种气溶胶检测方法及系统

专利名称：	一种气溶胶检测方法及系统
摘要：	本发明提供了一种气溶胶检测方法及系统，包括：获取当前气体折射率及待测颗粒的第一颗粒参数；根据预设的气体折射率动态计算模型及当前气体折射率计算生成当前气体折射率对应的第一颗粒参数曲线模型；根据第一颗粒参数曲线模型及各待测颗粒的第一颗粒参数计算生成各待测颗粒的第一颗粒参数对应的第二颗粒参数。本申请根据气体折射率动态计算模型准确的获取当前气体折射率对应的颗粒参数关系曲线，从而准确的计算出颗粒参数并降低检测光路的偏差，具有提高光学气溶胶检测精度的有益效果。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	中国石油大学(北京)
发明人：	常程;宋暄;刘震;姬忠礼;吴小林
专利状态：	有效
申请日期：	2019-03-06T00:00:00+0800
发布日期：	2019-06-14T00:00:00+0800
申请号：	CN201910166959.5
公开号：	CN109883896A
代理机构：	北京三友知识产权代理有限公司
代理人：	王涛;任默闻
分类号：	G01N15/00(2006.01);G;G01;G01N;G01N15
申请人地址：	102249 北京市昌平区府学路18号
主权项：	1.一种气溶胶检测方法，其特征在于，包括：获取当前气体折射率及待测颗粒的第一颗粒参数；根据预设的气体折射率动态计算模型及所述当前气体折射率计算生成所述当前气体折射率对应的第一颗粒参数曲线模型；根据所述第一颗粒参数曲线模型及各所述待测颗粒的第一颗粒参数计算生成各所述待测颗粒的第一颗粒参数对应的第二颗粒参数。 2.根据权利要求1所述的气溶胶检测方法，其特征在于，还包括：获取各第一颗粒参数、若干测试气体折射率及每个所述测试气体折射率中各所述第一颗粒参数对应的第二颗粒参数；根据每个所述测试气体折射率中各所述第一颗粒参数及各所述第一颗粒参数对应的第二颗粒参数利用曲线拟合算法生成各所述测试气体折射率对应的第二颗粒参数曲线模型；根据各所述第二颗粒参数曲线模型生成所述气体折射率动态计算模型。 3.根据权利要求2所述的气溶胶检测方法，其特征在于，所述根据预设的气体折射率动态计算模型及所述当前气体折射率计算生成所述当前气体折射率对应的第一颗粒参数曲线模型，包括：判断所述气体折射率动态计算模型是否存在所述当前气体折射率对应的第一颗粒参数曲线模型；如果否，则根据所述气体折射率动态计算模型及所述当前气体折射率利用插值法生成所述当前气体折射率对应的第一颗粒参数曲线模型。 4.根据权利要求3所述的气溶胶检测方法，其特征在于，所述根据所述气体折射率动态计算模型及所述当前气体折射率利用插值法生成所述当前气体折射率对应的第一颗粒参数曲线模型，包括：根据所述气体折射率动态计算模型及所述当前气体折射率利用插值法生成所述当前气体折射率中各所述第一颗粒参数对应的第二颗粒参数；根据每个所述第一颗粒参数及每个所述第一颗粒参数对应的第二颗粒参数生成所述当前气体折射率对应的第一颗粒参数曲线模型。 5.根据权利要求4所述的气溶胶检测方法，其特征在于，所述当前气体折射率中任一第一颗粒参数对应的第二颗粒参数的插值计算公式如下：其中，d0t为所述当前气体折射率中第t个所述第一颗粒参数对应的第二颗粒参数，dit为所述气体折射率动态计算模型的测试气体折射率ri中第t个所述第一颗粒参数对应的第二颗粒参数，djt为所述气体折射率动态计算模型的测试气体折射率rj中第t个所述第一颗粒参数对应的第二颗粒参数，r0为所述当前气体折射率，ri为第i个第二颗粒参数曲线模型对应的测试气体折射率，rj为第j个第二颗粒参数曲线模型对应的测试气体折射率，其中，t、i及j均为大于等1的正整数，j-i＝1且ri
所属类别：	发明专利