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原文传递带环反射器的气体检测器系统

专利名称：	带环反射器的气体检测器系统
摘要：	本发明的实施方案整体涉及气体检测器系统和方法，其中气体检测器系统包括至少一个发射器(102)，该至少一个发射器被配置为发射光束路径(120)中的辐射；至少一个检测器(104)，该至少一个检测器被配置为接收所发射的辐射的至少一部分；环反射器(100)，该环反射器被配置为将所发射的辐射围绕环反射器朝向至少一个检测器引导，其中环反射器包括球形的至少一部分，并且其中环反射器被配置为允许气体流过光束路径的至少一部分；以及处理电路，该处理电路耦接到一个或多个检测器且被配置为处理来自至少一个检测器的输出。因为环反射器内的像散差，所以所发射的辐射可以聚焦在至少一个检测器处的至少两个聚焦点处。所述系统还可以包括滤光器，该滤波器被定位成使得所发射的辐射在到达至少一个检测器之前穿过滤波器。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	美国;US
申请人：	霍尼韦尔国际公司
发明人：	伯纳德·弗里茨;特里萨·马尔塔;查德·朗格内斯
专利状态：	有效
申请日期：	2017-10-23T00:00:00+0800
发布日期：	2019-06-14T00:00:00+0800
申请号：	CN201780065495.8
公开号：	CN109891213A
代理机构：	北京同立钧成知识产权代理有限公司
代理人：	吴志红;臧建明
分类号：	G01N21/03(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	美国新泽西州
主权项：	1.一种气体检测器系统(800)，包括：至少一个发射器(102)，所述至少一个发射器被配置为在光束路径(120)中发射辐射；至少一个检测器(104)，所述至少一个检测器被配置为接收所发射的辐射的至少一部分；环反射器(100)，所述环反射器被配置为将所发射的辐射围绕所述环发射器朝向所述至少一个检测器(104)引导，其中所述环反射器(100)包括球形的至少一部分，并且其中所述环反射器(100)被配置为允许气体流过所述光束路径(120)的至少一部分；和处理电路(810)，所述处理电路耦接到所述一个或多个检测器(104)且被配置为处理来自所述一个或多个检测器(104)的输出。 2.根据权利要求1所述的气体检测器系统(800)，还包括一个或多个反射器(206)，所述一个或多个反射器被配置为将所述光束路径(220)从所述发射器(202)朝向所述环反射器(200)的壁(210)引导。 3.根据权利要求1所述的气体检测器系统(800)，还包括一个或多个反射器(206)，所述一个或多个反射器被配置为将所述光束路径(220)朝向所述至少一个检测器(204)引导。 4.根据权利要求3所述的气体检测器系统，其中所述一个或多个反射器(206)包括直角棱镜。 5.根据权利要求3所述的气体检测器系统，其中所述一个或多个反射器(706)包括两个平行反射镜。 6.根据权利要求1所述的气体检测器系统，其中所发射的辐射在所述至少一个检测器(104)处生成至少两个聚焦点(604和602)，并且其中第一聚焦点用于样本信号且第二聚焦点用于参考信号。 7.根据权利要求1所述的气体检测器系统，其中所述发射器(202)和所述检测器(204)在同一平面中并排定向。 8.根据权利要求1所述的气体检测器系统，其中所述发射器(702)和所述检测器(704)在所述环反射器(700)内在不同平面中彼此相对定向。 9.根据权利要求1所述的气体检测器系统，还包括至少一个滤波器(740)，所述至少一个滤波器被定位成使得所发射的辐射在到达所述检测器(704)之前穿过所述滤波器(740)。 10.根据权利要求1所述的气体检测器系统，还包括：第二发射器(402)，所述第二发射器被配置为在第二光束路径(420)中发射辐射；和第二检测器(404)，所述第二检测器被配置为接收所述第二光束路径(420)中所发射的辐射的至少一部分，其中所述第二光束路径(420)与所述第一光束路径(120)成一角度定向。 11.根据权利要求1所述的气体检测器系统，还包括插头(600)，所述插头被配置为使流过所述环反射器(200)内死区的气流最小化。 12.一种用于气体检测的方法，包括：生成发射器的发射辐射的光束路径；引导环反射器内所述发射辐射的光束路径通过气体样本；将所述发射辐射的光束路径围绕所述环反射器朝向检测器反射，其中所述环反射器包括球形的至少一部分；接收所述检测器的所述发射辐射的光束路径；以及基于所接收的发射辐射的光束路径来确定所述气体样本的所述至少一种气体浓度。 13.根据权利要求12所述的方法，还包括经由位于所述发射器和所述检测器之间的滤波器对所述光束路径进行过滤。 14.根据权利要求12所述的方法，还包括通过所述检测器从所述光束路径接收两个聚焦点，其中所述两个聚焦点由所述环反射器内的像散差生成。 15.根据权利要求12所述的方法，其中第一聚焦点用于确定样本信号并且其中第二聚焦点用于确定参考信号。
所属类别：	发明专利