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原文传递一种石英晶片检测装置

专利名称：	一种石英晶片检测装置
摘要：	本实用新型涉及一种石英晶片检测装置，包括控制器，输送带一，输送带二，输送带三，定位座，气缸一，气杆一，检测架，安装架，气缸二，气杆二，活动块一，气缸三，气杆三，吸嘴，拨料装置，限位架，所述的控制器在安装架的一侧，其特征在于：所述的输送带一在检测架的一侧，所述的输送带一在检测架的一端，所述的气缸一安装在定位座上，所述的气杆一与气缸一连接，所述的检测架安装在气杆一上，所述的活动块一安装在导轨一上，所述的气缸二安装在安装架上，所述的限位架在检测块的上方，所述的拨料装置在限位架的下方。本实用新型通过石英晶片检测装置的设置，实现了石英晶片尺寸的自动化检测，提高了生产效率，降低了生产成本。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	湖南;43
申请人：	益阳市华光科技电子有限公司
发明人：	刘文越;葛四合;邓天将
专利状态：	有效
申请日期：	2018-09-30T00:00:00+0800
发布日期：	2019-06-14T00:00:00+0800
申请号：	CN201821609640.2
公开号：	CN208979783U
代理机构：	长沙明新专利代理事务所(普通合伙)
代理人：	徐新
分类号：	B65G47/248(2006.01);B;B65;B65G;B65G47
申请人地址：	413000 湖南省益阳市资阳区长春经济开发区
主权项：	1.一种石英晶片检测装置，包括控制器，输送带一，输送带二，输送带三，定位座，气缸一，气杆一，检测架，安装架，气缸二，气杆二，活动块一，气缸三，气杆三，吸嘴，拨料装置，限位架，所述的控制器在安装架的一侧，其特征在于：所述的输送带一在检测架的一侧，所述的输送带一在检测架的一端，所述的气缸一安装在定位座上，所述的气杆一与气缸一连接，所述的检测架安装在气杆一上，所述的检测架包括检测块，下料道，踢料道，所述的检测块的一侧为下料道，所述的检测块的另一侧为踢料道，所述的安装架安装在定位座的一侧，所述的安装架上设有导轨一，所述的活动块一安装在导轨一上，所述的气缸二安装在安装架上，所述的气杆二一端与气缸二连接，所述的气杆二另一端与活动块一连接，所述的活动块一下方安装有气缸三，所述的气杆三一端与气缸三连接，所述的气杆三另一端与吸嘴连接，所述的限位架在检测块的上方，所述的拨料装置在限位架的下方。 2.如权利要求1所述的石英晶片检测装置，其特征在于：所述的输送带一上设有传感器一。 3.如权利要求1所述的石英晶片检测装置，其特征在于：所述的下料道与踢料道下方设有下限位传感器。 4.如权利要求1所述的石英晶片检测装置，其特征在于：所述的限位架下方设有上限位传感器。 5.如权利要求1所述的石英晶片检测装置，其特征在于：所述的拨料装置包括导轨二，活动块二，气缸四，气杆四，气缸五，拨料端，所述的导轨二安装在安装架的中部，所述的活动块二安装在导轨二上，所述的气缸四固定在导轨二的一端，所述的气杆四一端与气缸四连接，所述的气杆四另一端与活动块二连接，所述的气缸五安装在活动块二上，所述的拨料端安装在气缸五的一端。 6.如权利要求1所述的石英晶片检测装置，其特征在于：所述的检测块为红外检测板。 7.如权利要求1所述的石英晶片检测装置，其特征在于：所述的安装架一侧设有空压机。 8.如权利要求1所述的石英晶片检测装置，其特征在于：所述的输送带一一侧安装有电机一。 9.如权利要求1所述的石英晶片检测装置，其特征在于：所述的输送带二一侧安装有电机二。 10.如权利要求1所述的石英晶片检测装置，其特征在于：所述的输送带三一侧安装有电机三。
所属类别：	实用新型