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原文传递分析测试设备

专利名称：	分析测试设备
摘要：	分析测试设备(i)包括两组或更多组发射器(2、3、98、101)，每组发射器(2、3、98、101)包括被配置为在对应波长附近的范围内发射光的一个或多个光发射器(2、3、98、101)。每组光发射器(2、3、98、101)被配置为能够独立地照射。测试设备(1)还包括一个或多个光电探测器(4)，光电探测器(4)被布置成使得来自每组发射器(2、3、98、101)的光经由包括样本接收部分(8)的光路(7)到达光电探测器(4)。发射器(2、3、98、101)和光电探测器(4)被配置为使得，在光路(7)的样本接收部分(8)处，由每组发射器(2、3、98、101)生成的归一化的空间强度分布基本上等于由每个其它组发射器(2、3、98、101)生成的归一化的空间强度分布。测试设备(1)还包括液体输送路径(41)，液体输送路径(41)包括第一端(43)、第二端(4$)和液体样本接收区域(42)。液体输送路径(41)被配置为将在液体样本接收区域(42)中接收的液体样本朝着第二端(44)并通过光路(7)的样本接收部分(8)输送。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	住友化学株式会社
发明人：	M·罗伯特斯;A·尼克拉恩考;M·惠勒
专利状态：	有效
申请日期：	2017-09-25T00:00:00+0800
发布日期：	2019-06-14T00:00:00+0800
申请号：	CN201780067611.X
公开号：	CN109891214A
代理机构：	中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
代理人：	汪晶晶
分类号：	G01N21/25(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	日本东京
主权项：	1.一种分析测试设备，包括：两组或更多组发射器，每组发射器包括一个或多个光发射器，光发射器被配置为在对应波长附近的范围内的发射光，其中每组光发射器被配置为能够独立地照射；以及一个或多个光电探测器，被布置成使得来自每组发射器的光经由包括样本接收部分的光路到达光电探测器，以及其中发射器和光电探测器被配置为使得，在光路的样本接收部分处，由每组发射器生成的归一化的空间强度分布基本上等于由每个其它组发射器生成的归一化的空间强度分布；液体输送路径，包括第一端、第二端和液体样本接收区域，液体输送路径被配置为将在液体样本接收区域中接收的液体样本朝着第二端并且通过光路的样本接收部分输送。 2.根据权利要求1所述的分析测试设备，还包括控制器，该控制器被配置为：顺序地照射每组发射器并使用光电探测器获得对应测得的吸光度值，使得在任何时间仅照射一组发射器；使用测得的吸光度值生成吸光度向量；以及通过将吸光度向量与去卷积矩阵相乘来确定浓度向量。 3.根据权利要求1或2所述的分析测试设备，其中所述两组或更多组发射器包括：一组第一光发射器，被配置为在第一波长附近的范围内发射；以及一组第二光发射器，被配置为在第二波长附近的范围内发射。 4.根据权利要求3所述的分析测试设备，其中所述两组或更多组发射器还包括：一组第三光发射器，被配置为在第三波长附近的范围内发射。 5.根据前述权利要求中任一项所述的分析测试设备，其中光路被配置为使得光电探测器接收透射通过光路的样本接收部分的光。 6.根据权利要求1至4中任一项所述的分析测试设备，其中光路被配置为使得光电探测器接收从光路的样本接收部分反射的光。 7.根据前述权利要求中任一项所述的分析测试设备，其中光电探测器形成图像传感器，该图像传感器被布置成对光路的样本接收部分的全部或一部分成像。 8.根据前述权利要求中任一项所述的分析测试设备，其中光路还包括布置在样本接收部分之前的狭缝；其中每组发射器被布置成照射该狭缝。 9.根据权利要求1至7中任一项所述的分析测试设备，其中所述两组或更多组发射器包括一组第二发射器，并且其中每个第二发射器在由每个其它组发射器发射的波长处是基本透明的，并且其中每个其它发射器通过对应的第二发射器将光发射到光路中。 10.根据权利要求3所述的分析测试设备，其中每个第二发射器在由每个第一发射器发射的波长处是基本透明的，并且其中每个第一发射器通过对应的第二发射器将光发射到光路上。 11.根据权利要求4所述的分析测试设备，其中每个第二发射器在由每个第一发射器和每个第三发射器发射的波长处是基本透明的，并且其中每个第一发射器和每个第三发射器通过对应的第二发射器将光发射到光路中。 12.根据权利要求1至7中任一项所述的分析测试设备，其中所述两组或更多组发射器被布置成包括多个像素的阵列，其中每个像素包括至少一个子像素，并且每个子像素包括与每组发射器对应的光发射器。 13.根据权利要求1至7中任一项所述的分析测试设备，其中两组或三组发射器相互交叉以形成阵列。 14.根据前述权利要求中任一项所述的分析测试设备，其中液体输送路径包括侧向流类型条带。 15.根据前述权利要求中任一项所述的分析测试设备，其中液体输送路径包括微流体设备的全部、一部分或至少一个通道。 16.根据前述权利要求中任一项所述的分析测试设备，其中控制器还被配置为在每组发射器的照射中穿插没有照射任何组发射器的时段。 17.根据前述权利要求中任一项所述的分析测试设备，当从属于权利要求2时，还包括至少一个输出设备。 18.根据权利要求17所述的分析测试设备，其中所述至少一个输出设备包括一个或多个发光二极管，并且其中控制器被配置为响应于浓度向量的对应值超过预定阈值而照射每个发光二极管。 19.根据权利要求17所述的分析测试设备，其中所述至少一个输出设备包括显示元件，并且其中控制器被配置为响应于确定浓度向量而使显示元件显示一个或多个输出。 20.根据权利要求19所述的分析测试设备，其中控制器被配置为响应于浓度向量的值超过预定阈值而使显示元件显示对应的一个或多个符号。 21.根据权利要求19所述的分析测试设备，其中控制器被配置为使显示元件显示浓度向量的一个或多个值。 22.根据权利要求17所述的分析测试设备，其中所述至少一个输出设备是用于连接到数据处理装置的有线或无线通信接口，并且其中控制器被配置为经由有线或无线通信接口将浓度向量输出到数据处理装置。 23.一种操作根据前述权利要求中任一项所述的分析测试设备的方法，所述方法包括将液体样本施加到液体样本接收区域。 24.一种确定去卷积矩阵的方法，该方法包括：提供包括样本接收部分的光路；提供N组发射器，每组发射器包括一个或多个光发射器，光发射器被配置为将在对应波长附近的范围内的光发射到光路中，其中在样本接收部分处，由给定组的发射器生成的归一化的空间强度分布基本上等于由每个其它组的发射器生成的归一化的空间强度分布；提供N个校准样本，其中每个校准样本包括已知浓度的N种不同分析物；对于每个校准样本：将校准样本全部或部分地布置在光路的样本接收部分内；顺序地照射每组发射器并使用一个或多个光电探测器获得对应测得的吸光度值，其中在任何时间仅照射一组发射器；使用N个测得的吸光度值生成吸光度向量；使用分析物的N个已知浓度生成浓度向量；通过将每列或每行的值设置为等于对应校准样本的吸光度向量的值来生成第一N×N矩阵；对第一矩阵求逆；通过将每列或每行的值设置为等于对应校准样本的浓度向量的值来生成第二N×N矩阵；通过将第二矩阵乘以第一矩阵的逆来确定去卷积矩阵。
所属类别：	发明专利