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原文传递用于确定两相流负载的微波测量装置

专利名称：	用于确定两相流负载的微波测量装置
摘要：	本发明涉及一种微波测量装置，用于在管或通道系统中确定具有小的和极小的固体和/或液体颗粒的气态载体介质的两相流的负载。为此，微波，优选地具有波导基波频率的0.95和1.05倍之间的频率，被耦合到管或通道系统(1)的导电区段中，所述区段由场杆(4、4')限定并且由此用作共振器，并且由于具有固体和/或液体颗粒的载体介质的载荷确定共振器的共振频率的偏移。为了抑制由在管或通道系统(1)中反射、衍射和/或叠加的微波引起的干扰，提供了分配给每个场杆(4、4')的两个辅助场杆(分别为6、7和6'、7')。与波导基波的波长相比，辅助场杆(分别为6、7和6'、7')布置在与相关的场杆(4、4')相距一小段距离，并且和两个辅助场杆(6、7和6'、7'分别)分别相对于场杆(4、4')以α＝+45°±10°和/或α＝‑45°±10°和/或α＝+135°±10°和/或α＝‑135°±10°的角度布置，其中分配给场杆(4、4')的两个辅助场杆(分别为6、7和6'、7')形成90°±20°的角度。根据本发明的解决方案的特殊优点在于简单且节省空间的结构，即使在复杂的空间条件下，也可以将测量装置集成到现有的管或通道系统中。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	德国;DE
申请人：	普美康过程测量控制有限公司
发明人：	汉斯·格奥尔格·康拉兹;克里斯蒂安·迪普涅;塞奥佐罗斯·缇弗缇蒂斯
专利状态：	有效
申请日期：	2017-10-27T00:00:00+0800
发布日期：	2019-06-18T00:00:00+0800
申请号：	CN201780067822.3
公开号：	CN109906369A
代理机构：	北京德恒律治知识产权代理有限公司
代理人：	章社杲;李伟
分类号：	G01N15/06(2006.01);G;G01;G01N;G01N15
申请人地址：	德国巴尔莱本
主权项：	1.一种用于确定两相流负载的微波测量装置，包括：管或通道系统(1)中的具有小的和非常小的固体和/或液体颗粒的气态载体介质，用于耦合线性极化微波的发射天线(2)和接收天线(3)，它们在具有恒定的横截面几何形状的所述管或通道系统(1)的直导电区段(F)的纵向上彼此相互间隔地布置并且形成测量区段(S)并且承载所述两相流，以及导电杆，称为场杆(4、4')，布置在，具有恒定的横截面几何形状的所述管或通道系统(1)的所述直导电区段(F)的所述纵向方向上的所述测量区段(S)之前和所述测量区段(S)之后并且与所述测量区段(S)对准，并且在具有恒定的横截面几何形状的所述管或通道系统(1)的直导电区段(F)的相应横截面区域(5、5')内延伸到所述管或通道系统(1)的所述直导电区段(F)的内部，使得所述场杆(4、4')和所述场杆(4、4')之间的具有恒定的横截面几何形状的所述管或通道系统(1)的所述直导电区段(F)用作耦合的线性极化微波的共振器，其特征在于，两个导电杆，称为辅助场杆(6、7或6'、7')，其与每个场杆(4、4')相关联并且从所述管或通道系统(1)的所述直导电区段(F)的内壁径向延伸，至少突出到所述横截面区域的中心并且在所述管或通道系统(1)的所述直导电区段(F)的纵向方向上相对于彼此对准，布置在其中所述场杆(4、4')延伸的所述横截面区域(5、5')中，或者在邻近，与具有恒定的横截面几何形状的所述管或通道系统(1)的所述直导电区段(F)具有小距离(G)的横截面区域(5、5')中，相对于所述场杆(4、4')呈的角度为α＝+45°±10°和/或α＝45°±10°和/或α＝+135°±10°和/或α＝135°±10°布置，其中与场杆(4、4')相关联的两个所述辅助场杆(6、7或6'、7')围成90°±20°的角度，并且其中所述辅助场杆(6、7和6'、7')与所述管或通道系统(1)的所述直导电区段(F)导电连接。 2.根据权利要求1所述的微波测量装置，其特征在于，所述场杆(4、4')布置在所述测量区段(S)之前和之后并且与所述发射天线或接收天线(2、3)间隔开所述波导基波的波长的至少十分之一，并且彼此间隔开的距离介于大约所述波长一倍的距离和大约具有恒定的横截面几何形状的所述管或通道系统(1)的所述直导电区段(F)的所述波导基波波长的两倍之间，大致在耦合微波的极化平面中并且在具有恒定横截面几何形状的所述管或通道系统(1)的所述直导电区段(F)的纵向方向上，与所述发射天线和接收天线(2、3)对准，从所述管或通道系统(1)的所述直导电区段(F)的内壁径向突出至少到所述横截面区域(5、5')的中心，以及与所述管或通道系统(1)的所述直导电区段(F)导电连接。 3.根据权利要求1或2所述的微波测量装置，其特征在于，与在具有恒定横截面几何形状的所述管或通道系统(1)的所述直导电区段的纵向方向上的场杆(4、4')相关联的两个所述辅助场杆(6、7或6'、7')的距离(G)至多是具有恒定的横截面几何形状的所述管或通道系统(1)的所述直导电区段(F)的所述波导基波的波长的十分之一。 4.根据权利要求1至3所述的微波测量装置，其特征在于，所述辅助场杆(6、7、6'、7')跨越具有恒定的横截面几何形状的所述管或通道系统(1)的所述直导电区段(F)的横截面区域的至少一半，因此穿过所述横截面区域的中心。 5.根据权利要求1至3所述的微波测量装置，其特征在于，所述辅助场杆(6、7、6'、7')跨越具有恒定的横截面几何形状的所述管或通道系统(1)的所述直导电区段(F)的横截面区域的至少三分之二，因此穿过所述横截面区域的中心。 6.根据权利要求1至5所述的微波测量装置，其特征在于，所述辅助场杆(6、7或6'、7')的长度对应于所述场杆(4、4')的长度。
所属类别：	发明专利