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原文传递粒子计数器

专利名称：	粒子计数器
摘要：	本发明提供粒子计数器，其包括：检测部，用受光元件接收散射光与参考光的干涉光，生成与所述干涉光对应的检测信号；滤波器，针对由所述检测部生成的所述检测信号进行使与所述干涉光的强度变化对应的频率成分通过的滤波处理；判断部，根据所述滤波处理前的所述检测信号的峰值和所述滤波处理后的所述检测信号的峰值，判断所述检测信号是否是基于所述粒子的检测信号；以及计数部，当由所述判断部判断为所述检测信号是基于所述粒子的检测信号时，进行基于所述滤波处理后的所述检测信号的所述粒子的计数。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	理音株式会社
发明人：	齐藤光秋;进村正树;松田朋信;山川雄生
专利状态：	有效
申请日期：	2018-11-20T00:00:00+0800
发布日期：	2019-06-18T00:00:00+0800
申请号：	CN201811382136.8
公开号：	CN109900602A
代理机构：	北京信慧永光知识产权代理有限责任公司
代理人：	周善来;李雪春
分类号：	G01N15/02(2006.01);G;G01;G01N;G01N15
申请人地址：	日本东京都
主权项：	1.一种粒子计数器，其特征在于，所述粒子计数器包括：光源，射出光；光重叠部，将两束光空间性重叠；照射光学系统，利用通过将来自所述光源的光分路得到的多束光中的一束光照射流过流道内的流体，由此形成检测区域；检测光学系统，使来自所述检测区域内的所述流体所含的粒子的散射光中的、与所述照射光学系统的光轴不同方向的散射光入射到所述光重叠部；参考光学系统，将所述多束光中的另外一束光作为参考光入射到所述光重叠部；检测部，用受光元件接收通过所述光重叠部得到的所述散射光与所述参考光的干涉光，生成与所述干涉光对应的检测信号；滤波器，针对由所述检测部生成的所述检测信号，进行使与所述干涉光的强度变化对应的频率成分通过的滤波处理；判断部，基于规定的计算公式，根据所述滤波处理前的所述检测信号的峰值和所述滤波处理后的所述检测信号的峰值，判断所述检测信号是否是基于所述粒子的检测信号；以及计数部，当由所述判断部判断为所述检测信号是基于所述粒子的检测信号时，进行基于所述滤波处理后的所述检测信号的所述粒子的计数，当由所述判断部未判断为所述检测信号是基于所述粒子的检测信号时，不进行基于所述滤波处理后的所述检测信号的所述粒子的计数，所述规定的计算公式是求取从所述滤波处理前的所述检测信号的峰值Vp1向所述滤波处理后的所述检测信号的峰值Vp2衰减的衰减率的公式(Vp1－Vp2)/Vp1。 2.根据权利要求1所述的粒子计数器，其特征在于，所述判断部根据对衰减率阈值和所述衰减率进行比较的结果，判断所述检测信号是否是基于所述粒子的检测信号，所述计数部根据对计数阈值与所述滤波处理后的所述检测信号进行比较的结果，进行所述粒子的计数，所述衰减率阈值和所述计数阈值的一方是根据所述衰减率阈值和所述计数阈值的另一方设定的。 3.根据权利要求1或2所述的粒子计数器，其特征在于，所述滤波器是使与所述干涉光的强度变化对应的频率成分以外的频率成分衰减的带通滤波器。
所属类别：	发明专利