原文传递
镜面/类镜面物体的缺陷检测方法
| 专利名称： | 镜面/类镜面物体的缺陷检测方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种镜面/类镜面物体的缺陷检测方法，包括如下步骤：1)将多幅正弦相移图像按照预设次序投影在待测镜面/类镜面物体表面，利用相机采集图像；2)计算图像上所有点(u,v)处的调制质量Z(u,v)；3)计算所有Z(u,v)的均值μ和标准差σ；4)对图像上所有点(u,v)判断|Z(u,v)‑μ|≤mσ，若成立，则无缺陷，若不成立，则标记为缺陷点；m为依据误差范围所确定的系数；本发明通过相机获得正弦条纹图像，进而计算调制信息质量图，通过分析调制信息质量图，能够有效检出高度仅为微米级的缺漆涂层缺陷，成本较低，检测精度可控。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 浙江;33 |
| 申请人： | 易思维(杭州)科技有限公司 |
| 发明人： | 孙博;郭磊 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-04-02T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-06-21T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910262066.0 |
| 公开号： | CN109916922A |
| 分类号： | G01N21/956(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 310051 浙江省杭州市滨江区滨安路1197号3幢495室 |
| 主权项： | 1.一种镜面/类镜面物体的缺陷检测方法，其特征在于包括如下步骤： 1)将多幅正弦相移图像按照预设次序投影在待测镜面/类镜面物体表面，利用相机采集图像，所述图像为灰度图，有多幅，分别包含了各个正弦相移图像在所述待测镜面/类镜面物体表面所形成的影像； 2)按照如下公式计算图像上所有点(u,v)处的调制质量Z(u,v)； Z(u,v)＝B(u,v)/A(u,v) 其中，A(u,v)为在点(u,v)处的背景光强，B(u,v)为点(u,v)处的调制光强； 3)计算所有Z(u,v)的均值μ和标准差σ； 4)对图像上所有点(u,v)判断|Z(u,v)-μ|≤mσ，若成立，则无缺陷，若不成立，则标记为缺陷点；m为依据误差范围所确定的系数。 2.如权利要求1所述镜面/类镜面物体的缺陷检测方法，其特征在于：所述多幅正弦相移图像至少有3张。 3.如权利要求1所述镜面/类镜面物体的缺陷检测方法，其特征在于：A(u,v)、B(u,v)是依据相机所采集的多幅图像的灰度值计算得到的。 4.如权利要求1所述镜面/类镜面物体的缺陷检测方法，其特征在于：相机采集图像时的位置、向待测镜面/类镜面物体表面投影正弦相移图像的设备的位置、以及待测镜面/类镜面物体的位置相对固定。 5.如权利要求1～4中任意一项所述镜面/类镜面物体的缺陷检测方法，其特征在于：所述图像中点(u,v)处的灰度值，计算公式如下： 其中，为点(u,v)处相位；n为第n幅采集图像，取值为0～N之间的自然数；N为相机采集图像的总张数；Irn(u,v)为第n张图在点(u,v)处的灰度值。 6.如权利要求1所述镜面/类镜面物体的缺陷检测方法，其特征在于：向待测镜面/类镜面物体表面投影正弦相移图像的幅数等于相机采集图像的张数。 7.如权利要求1所述镜面/类镜面物体的缺陷检测方法，其特征在于：m＝1～5。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
相关文献
检索历史
应用推荐
