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原文传递一种采用离子束辐照测量核石墨在辐照环境下的尺寸变化行为的方法

专利名称：	一种采用离子束辐照测量核石墨在辐照环境下的尺寸变化行为的方法
摘要：	本发明提供一种采用离子束辐照测量核石墨在辐照环境下的尺寸变化行为的方法，包括以下步骤：1)利于离子束辐照一定尺寸的核石墨样品，使受辐照的核石墨样品发生形状变化；2)测量该形状变化，利用核石墨样品的性能特征，通过数学方法计算出核石墨样品在辐照环境下的尺寸变化；以及3)通过控制离子束辐照剂量的变化，并重复以上过程，获得所述核石墨样品在辐照环境下的尺寸变化行为曲线。根据本发明提供的方法较在材料测试堆中进行测试的方法具有成本低、周期短的优点，可用于核石墨研发过程中对生产原料及工艺进行优化，也可以作为核石墨质量控制手段，还可以用于在役反应堆石墨堆芯取样样品分析手段，具有较高的经济价值和良好的应用前景。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	上海;31
申请人：	中国科学院上海应用物理研究所
发明人：	贺周同;周兴泰
专利状态：	有效
申请日期：	2019-03-15T00:00:00+0800
发布日期：	2019-06-21T00:00:00+0800
申请号：	CN201910198093.6
公开号：	CN109916926A
代理机构：	上海智信专利代理有限公司
代理人：	邓琪;余永莉
分类号：	G01N23/00(2006.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	201800 上海市嘉定区嘉罗公路2019号
主权项：	1.一种采用离子束辐照测量核石墨在辐照环境下的尺寸变化行为的方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤： 1)利于离子束辐照一定尺寸的核石墨样品，使受辐照的核石墨样品发生形状变化； 2)测量该形状变化，利用所述核石墨样品的性能特征，通过数学方法计算出所述核石墨样品在辐照环境下的尺寸变化；以及 3)通过控制离子束辐照剂量的变化，并重复以上过程，获得所述核石墨样品在辐照环境下的尺寸变化行为曲线。 2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括步骤4)：通过控制辐照过程中核石墨样品温度的变化，获得不同温度下所述核石墨样品在辐照环境下的尺寸变化行为曲线。 3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述离子束包括He离子以及重离子，能量大于0.5MeV。 4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述核石墨样品由沥青及其衍生物、焦碳、树脂中的一种或多种制成。 5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述核石墨样品的某一个维度的尺寸为1μm-1000μm。 6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述核石墨样品为片状，其厚度尺寸远小于另外两个维度上的尺寸。 7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述形状变化包括核石墨样品受离子束辐照之后发生的翘曲、扭转、局部突出或某维度尺寸的变化。 8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述形状变化通过三坐标仪、轮廓仪以及显微技术进行测量。 9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述性能特征包括核石墨样品的模量。 10.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述数学方法包括有限元方法。
所属类别：	发明专利