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一种用于三维实体图像修复的采集检测系统
| 专利名称： | 一种用于三维实体图像修复的采集检测系统 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种用于三维实体图像修复的采集检测系统，包括：超辐射发光二极管、环形器A、环形器B、耦合器、光纤延迟器、光纤拉伸器、法拉第旋转镜A、法拉第旋转镜B、补偿光纤、计算机、采集卡、探测器、物体、探头。本实用新型利用数据采集卡进行数据采集和相关控制，不仅获取波片的二维层析图像，而且完成了横向扫描和纵向扫描同步信号的控制，解决了光纤延迟器的非线性效应，消除了二维层析图像错位信息，形成了正确的图像。 |
| 专利类型： | 实用新型 |
| 国家地区组织代码： | 江西;36 |
| 申请人： | 吉安职业技术学院 |
| 发明人： | 李威;卢文超;张文光;应帅 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2018-10-30T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-06-25T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201821773401.0 |
| 公开号： | CN209028005U |
| 分类号： | G01N21/84(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 343000 江西省吉安市吉州区吉安南大道133号 |
| 主权项： | 1.一种用于三维实体图像修复的采集检测系统，其特征在于，包括：超辐射发光二极管(1)、环形器A(2)、环形器B(3)、耦合器(4)、光纤延迟器(5)、光纤拉伸器(6)、法拉第旋转镜A(7)、法拉第旋转镜B(8)、补偿光纤(9)、计算机(10)、采集卡(11)、探测器(12)、物体(13)、探头(14)； 所述超辐射发光二极管(1)、环形器A(2)、环形器B(3)、耦合器(4)、光纤延迟器(5)、光纤拉伸器(6)、法拉第旋转镜A(7)依次通过光纤线路相连接； 所述环形器A(2)的一端通过光纤线路与探头(14)相连接，探头(14)位于物体(13)正上方； 所述探测器(12)通过光纤线路与环形器B(3)、耦合器(4)相连接，探测器(12)通过电路和数据线路与采集卡(11)相连接； 所述耦合器(4)通过光纤线路与补偿光纤(9)、法拉第旋转镜B(8)相连接； 所述采集卡(11)通过数据线路与计算机(10)相连接。 2.根据权利要求1所述的用于三维实体图像修复的采集检测系统，其特征在于，所述耦合器(4)选用2×2耦合器。 3.根据权利要求2所述的用于三维实体图像修复的采集检测系统，其特征在于，所述采集卡(11)选用A/D卡。 |
| 所属类别： | 实用新型 |
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