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原文传递一种砷离子检测方法

专利名称：	一种砷离子检测方法
摘要：	一种砷离子检测方法，包括：S1，将特异性配体修饰的纳米金属颗粒溶液与量子点溶液混合；S2，向混合液加入待检测样品；S3，检测步骤S2后混合液的荧光光谱或特异性配体修饰的纳米金属颗粒的紫外可见光吸收光谱；S4，根据荧光光谱的荧光强度或紫外可见光吸收光谱的吸收强度，得到砷离子的浓度。一种砷离子检测方法，包括：S101，向特异性配体修饰的纳米金属颗粒溶液中加入待检测样品，测得特异性配体修饰的纳米金属颗粒的紫外可见光吸收光谱；S102，向混合液加入量子点溶液后，检测混合液的荧光光谱；S103，根据紫外可见光吸收光谱的吸收强度或荧光光谱的荧光强度，得到砷离子的浓度。该方法能够提高检测的灵敏度，降低检测限。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	中国科学院电子学研究所
发明人：	夏善红;谢勇;孙楫舟
专利状态：	有效
申请日期：	2019-04-09T00:00:00+0800
发布日期：	2019-06-28T00:00:00+0800
申请号：	CN201910282766.6
公开号：	CN109946255A
代理机构：	中科专利商标代理有限责任公司
代理人：	周天宇
分类号：	G01N21/31(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	100190 北京市海淀区北四环西路19号
主权项：	1.一种砷离子检测方法，其特征在于，包括： S1，将特异性配体修饰的纳米金属颗粒溶液与量子点溶液混合，所述特异性配体修饰的纳米金属颗粒吸收所述量子点激发光和发射的荧光； S2，向混合液加入待检测样品，降低所述特异性配体修饰的纳米金属颗粒对所述荧光的吸收； S3，检测步骤S2后所述混合液的荧光光谱或所述特异性配体修饰的纳米金属颗粒的紫外可见光吸收光谱； S4，根据所述荧光光谱的荧光强度或所述紫外可见光吸收光谱的吸收强度，得到所述砷离子的浓度。 2.根据权利要求1所述的砷离子检测方法，其特征在于，混合的量子点的荧光光谱与特异性配体修饰的纳米金属颗粒的吸收光谱具有重叠区域。 3.根据权利要求1所述的砷离子检测方法，其特征在于，所述特异性配体为识别三价砷离子的特异性配体。 4.根据权利要求3所述的砷离子检测方法，其特征在于，所述特异性配体为葡萄糖、聚乙二醇、二硫苏糖醇、柠檬酸、核酸适体、氨基酸、蛋白质中的至少一种。 5.根据权利要求1所述的砷离子检测方法，其特征在于，在上述步骤S4中，所述砷离子的浓度通过下式计算：或其中，ω为砷离子浓度，k为线性比例系数，A为所述紫外可见光吸收光谱的吸收强度，A0为所述特异性配体修饰的纳米金属颗粒未与所述待检测样品反应前，其紫外可见光吸收光谱的吸收强度，F为所述荧光光谱的荧光强度，F0为所述特异性配体修饰的纳米金属颗粒未与所述待检测样品反应前荧光光谱的光强。 6.根据权利要求1-5任一项所述的砷离子检测方法，其特征在于，所述纳米金属颗粒的尺寸为0.1-1000nm。 7.一种砷离子检测方法，其特征在于，包括： S101，向特异性配体修饰的纳米金属颗粒溶液中加入待检测样品，测得所述特异性配体修饰的纳米金属颗粒的紫外可见光吸收光谱； S102，向混合液加入量子点溶液后，检测混合液的荧光光谱； S103，根据所述紫外可见光吸收光谱的吸收强度或所述荧光光谱的荧光强度，得到所述砷离子的浓度。 8.根据权利要求7所述的砷离子检测方法，其特征在于，所述量子点的荧光光谱与所述特异性配体修饰的纳米金属颗粒的吸收光谱具有重叠区域。 9.根据权利要求7所述的砷离子检测方法，其特征在于，所述特异性配体为识别三价砷离子的特异性配体。 10.根据权利要求7所述的砷离子检测方法，其特征在于，在上述步骤S103中，所述砷离子的浓度通过下式包括：或其中，ω为砷离子浓度，k为线性比例系数，A为所述紫外可见光吸收光谱的吸收强度，A0为所述特异性配体修饰的纳米金属颗粒未与所述待检测样品反应前，其紫外可见光吸收光谱的吸收强度，F为所述荧光光谱的荧光强度，F0为所述特异性配体修饰的纳米金属颗粒未与所述待检测样品反应前荧光光谱的光强。
所属类别：	发明专利