专利名称: |
一种光缆抗冲击性能测试设备 |
摘要: |
本实用新型涉及光缆性能测试技术领域,公开了一种光缆抗冲击性能测试设备。光缆抗冲击性能测试设备包括底板、支架、锁紧组件和冲击单元,支架固定在底板上;锁紧组件设有两组,两组锁紧组件相对设置在底板上,光缆的两端分别与两组锁紧组件连接;冲击单元安装在支架上,包括设置在两组锁紧组件之间上方的重锤和驱动重锤升降的升降组件。本实用新型提供的光缆抗冲击性能测试设备中的锁紧组件将光缆的两端固定在底板上,冲击单元对光缆进行多次冲击测试,模拟在安装光纤活动连接器时,由于暴力施工或者突发的外力对光缆的影响,使用该装置检测光缆的抗冲击强度是否符合要求,保证光纤活动连接器的光学性能。 |
专利类型: |
实用新型 |
国家地区组织代码: |
广东;44 |
申请人: |
广东亨通光电科技有限公司 |
发明人: |
殷志豪;杨新葆;李剑春;叶建超;袁奇桐;张正博;尹培安 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2018-10-31T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-06-28T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201821782771.0 |
公开号: |
CN209043735U |
代理机构: |
北京品源专利代理有限公司 |
代理人: |
胡彬 |
分类号: |
G01N3/303(2006.01);G;G01;G01N;G01N3 |
申请人地址: |
523000 广东省东莞市松山湖科技产业园工业北路10号 |
主权项: |
1.一种光缆抗冲击性能测试设备,其特征在于,包括: 底板(1); 支架(2),所述支架(2)固定在所述底板(1)上; 锁紧组件(3),设有两组,两组所述锁紧组件(3)相对设置在所述底板(1)上,光缆的两端分别与两组所述锁紧组件(3)连接; 冲击单元(4),安装在所述支架(2)上,包括设置在两组所述锁紧组件(3)之间上方的重锤(41)和驱动所述重锤(41)升降的升降组件(42)。 2.根据权利要求1所述的光缆抗冲击性能测试设备,其特征在于,所述支架(2)包括横梁(21)和两根支撑杆(22),所述横梁(21)的两端与两根所述支撑杆(22)的一端连接,所述支撑杆(22)的另一端通过角件(23)与所述底板(1)连接。 3.根据权利要求2所述的光缆抗冲击性能测试设备,其特征在于,所述支撑杆(22)的高度设定为1.4-1.6m。 4.根据权利要求2所述的光缆抗冲击性能测试设备,其特征在于,所述升降组件(42)包括拉绳(421)和固定在所述横梁(21)上的定滑轮(422),所述拉绳(421)的一端与所述重锤(41)连接,另一端绕过所述定滑轮(422)固定在所述支撑杆(22)上。 5.根据权利要求1所述的光缆抗冲击性能测试设备,其特征在于,所述锁紧组件(3)包括U型支架(31),所述U型支架(31)的两端固定在所述底板(1)上,所述U型支架(31)的中部设有推杆(32),所述推杆(32)的一端穿过所述U型支架(31)且端部连接有压板(33),所述推杆(32)能驱动所述压板(33)靠近或远离所述底板(1),且所述推杆(32)能锁紧在所述U型支架(31)上。 6.根据权利要求5所述的光缆抗冲击性能测试设备,其特征在于,所述压板(33)与所述底板(1)接触的接触面设有能容纳所述光缆的凹槽(331)。 7.根据权利要求6所述的光缆抗冲击性能测试设备,其特征在于,所述凹槽(331)为倒置的V型槽。 8.根据权利要求5所述的光缆抗冲击性能测试设备,其特征在于,所述U型支架(31)的两端分别垂直连接有连接板(34),且所述连接板(34)向所述U型支架(31)的外侧延伸,通过螺栓将所述连接板(34)固定在所述底板(1)上。 9.根据权利要求5所述的光缆抗冲击性能测试设备,其特征在于,所述推杆(32)为螺杆,所述U型支架(31)的中部开有螺纹通孔,所述螺杆的一端穿过所述U型支架(31)且与所述U型支架(31)螺纹连接,所述压板(33)的两端与所述U型支架(31)的两侧板接触,所述压板(33)上开有螺纹盲孔,所述螺杆的一端与所述螺纹盲孔连接。 10.根据权利要求1所述的光缆抗冲击性能测试设备,其特征在于,所述底板(1)为方形平板。 |
所属类别: |
实用新型 |