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原文传递用于鉴定钻石的设备

专利名称：	用于鉴定钻石的设备
摘要：	一种钻石鉴定设备涉及检验天然钻石和合成钻石的领域。要求保护的用于鉴定经切割的钻石的设备包括具有测量孔口的测量位置和可移动的光学系统，待检验的经切割的钻石固定地定位在测量孔口处，可移动的光学系统包括：光谱仪、分别具有250nm至280nm波长和350nm至380nm波长的两个辐射源，所述两个辐射源和光谱仪通过用于将辐射输入到经切割的钻石中的光纤以及通过用于将辐射从经切割的钻石输出的光纤连接至测量位置；并且设备还包括具有532nm波长的激光辐射源以及微控制器，其中，经切割的钻石在测量位置处定位成使得钻石的台面面朝测量位置的测量孔口并且钻石的底面位于测量孔口的正上方，用于输入辐射的光纤和用于输出辐射的光纤连接至测量孔口，并且其中，微控制器设计成能够控制辐射源以设定的时间顺序的交替工作、控制光学系统的运动以允许将辐射输入到经切割的钻石中，并且控制光谱仪数据的处理。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	俄罗斯;RU
申请人：	公共型股份公司艾尔罗萨
发明人：	弗拉迪米尔·戴维多维奇·布兰克;谢尔盖·维亚切斯拉夫奥维奇·乌达罗夫;亚历山大·谢尔盖耶维奇·沙德耶夫;安德烈·弗拉基米罗维奇·布坚科;维克托·尼古拉耶维奇·杰尼索夫;伊戈尔·维克托奥维奇·马卡尔茨基;根纳季·马尔科维奇·尼基京;德米特里·尼古拉耶维奇·尼基京;拉里莎·真纳迪维纳·塔拉索娃;谢尔盖·亚历山德罗维奇·特伦蒂耶夫;谢尔盖·尤里耶维奇·特罗斯凯维
专利状态：	有效
申请日期：	2016-08-26T00:00:00+0800
发布日期：	2019-07-02T00:00:00+0800
申请号：	CN201680088780.7
公开号：	CN109964111A
代理机构：	北京集佳知识产权代理有限公司
代理人：	王艳江;董敏
分类号：	G01N21/87(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	俄罗斯联邦雅库茨克
主权项：	1.一种用于鉴定经切割的钻石的设备，所述设备包括具有测量孔口的测量位置以及可移动的光学系统，待检验的所述经切割的钻石固定地定位在所述测量孔口处，所述光学系统包括光谱仪、分别具有250nm至280nm波长和350nm至380nm波长的两个辐射源，所述两个辐射源和所述光谱仪通过用于将辐射输入到所述经切割的钻石中的光纤以及用于将辐射从所述经切割的钻石输出的光纤而连接至所述测量位置；并且所述设备还包括具有532nm波长的激光辐射源以及微控制器，其中，所述经切割的钻石在所述测量位置处定位成使得所述钻石的台面面向所述测量位置的所述测量孔口并且所述钻石的底面位于所述测量孔口的正上方，用于输入辐射的光纤和用于输出辐射的光纤被引导至所述测量孔口，并且其中，所述微控制器配置成控制所述辐射源以设定的时间顺序的交替操作、控制所述光学系统的运动以允许将辐射输入到所述经切割的钻石中、并且还控制所述光谱仪数据的处理。 2.根据权利要求1所述的设备，其中，所述用于输出辐射的光纤包括两个光纤部段，所述两个光纤部段通过两个准直透镜彼此光学地耦合。 3.根据权利要求1所述的设备，其中，所述光学系统构造成能够移动，使得用于对来自具有250nm至280nm波长的辐射源的辐射进行输入及输出的光纤与所述经切割的钻石的表面直接接触。 4.根据权利要求1所述的设备，其中，所述光学系统构造成能够移动，使得在用于对来自具有350nm至380nm波长的辐射源的辐射进行输入及输出的光纤之间形成1mm至2mm大小的间隙。 5.根据权利要求1所述的设备，其中，所述激光辐射源适于将激光辐射引导通过所述间隙并引导至所述经切割的钻石的表面。 6.根据权利要求4或5所述的设备，还包括镜子，所述镜子安装在所述激光辐射源与所述经切割的钻石之间，其中，将所述激光辐射引导至所述经切割的钻石的表面是由所述镜子提供的。 7.根据权利要求4所述的设备，其中，所述光学系统还包括陷波滤光器，所述陷波滤光器适于设置在两个准直透镜之间，以减弱来自所述辐射源的辐射强度。 8.根据权利要求7所述的设备，其中，所述陷波滤光器设置有移动输入/输出机构，所述移动输入/输出机构用于在从具有250nm至280nm波长的辐射源输出光学辐射时将所述滤光器从辐射光学路径移除。 9.根据权利要求1所述的设备，其中，所述测量孔口形成在所述测量位置的中央区域中，用于向所述钻石的表面供给辐射。 10.根据权利要求8所述的设备，其中，所述微控制器还配置成对用于将所述陷波滤光器从所述辐射光学路径移除的所述输入/输出机构进行控制。
所属类别：	发明专利