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原文传递 考虑厚度和裂纹深度影响的环型拉伸试样的孕育期预测方法
专利名称: 考虑厚度和裂纹深度影响的环型拉伸试样的孕育期预测方法
摘要: 本发明公开了一种含裂纹环型拉伸试样(CST)的孕育期预测模型和方法,使用环型拉伸试样模型,计算提取孕育期,利用大量模拟数据,拟合公式,提出了环型拉伸试样的孕育期预测方法,本发明的有益效果是:简化了环型拉伸试样的孕育期预测步骤和过程。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 天津;12
申请人: 天津大学
发明人: 徐连勇;邬栋权;荆洪阳;韩永典;赵雷;吕小青
专利状态: 有效
申请日期: 2017-12-22T00:00:00+0800
发布日期: 2019-07-02T00:00:00+0800
申请号: CN201711407101.0
公开号: CN109959564A
代理机构: 天津创智天诚知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人: 王秀奎
分类号: G01N3/18(2006.01);G;G01;G01N;G01N3
申请人地址: 300072 天津市南开区卫津路92号
主权项: 1.考虑厚度和裂纹深度影响的环型拉伸试样的孕育期预测方法,其特征在于,包括以下步骤: 步骤1:确定环型拉伸试样的裂纹深度比率a/W、试样厚度B和应力强度因子K,其中::a为裂纹深度,单位为mm,W为试样宽度,单位为mm,试样厚度B的单位为mm,应力强度因子K的单位为MPa·mm1/2; 步骤2:将步骤1中的a/W、B和K代入下述关系式式(I)中,计算得到孕育期ti,其中ti的单位为h: (I)中: 2.如权利要求1所述的考虑厚度和裂纹深度影响的环型拉伸试样的孕育期预测方法,其特征在于,所述环型拉伸试样的工作温度为600~700℃。
所属类别: 发明专利
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