专利名称: |
用于涂层材料原位拉伸观测系统的试样基体 |
摘要: |
本发明公开了一种用于涂层材料原位拉伸观测系统的试样基体,所述试样基体包括:第一固定段和第二固定段;连接段,所述连接段连接在所述第一固定段和所述第二固定段之间,所述第一固定段的宽度与所述第二固定段的宽度相等且大于所述连接段的宽度,所述连接段设有喷涂面;其中,所述第一固定段和所述第二固定段中的至少一个被施加拉伸载荷时,所述连接段及其喷涂面上的涂层材料被拉伸。根据本发明实施例的试样基体适于与小体积的原位拉伸机配合以完成对涂层材料的拉伸,从而可置于扫描电子显微镜内观测,进而利于分析涂层材料在拉伸过程中裂纹的萌生和扩展机制以及材料的损伤机理。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
中国人民解放军陆军装甲兵学院 |
发明人: |
底月兰;王海斗;董丽虹;邢志国;刘明;王乐;刘韬 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-05-05T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-07-02T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910368701.3 |
公开号: |
CN109959558A |
代理机构: |
北京景闻知识产权代理有限公司 |
代理人: |
李芳 |
分类号: |
G01N3/08(2006.01);G;G01;G01N;G01N3 |
申请人地址: |
100072 北京市丰台区长辛店杜家坎21号 |
主权项: |
1.一种用于涂层材料原位拉伸观测系统的试样基体,其特征在于,包括: 第一固定段和第二固定段; 连接段,所述连接段连接在所述第一固定段和所述第二固定段之间,所述第一固定段的宽度与所述第二固定段的宽度相等且大于所述连接段的宽度,所述连接段设有喷涂面; 其中,所述第一固定段和所述第二固定段中的至少一个被施加拉伸载荷时,所述连接段及其喷涂面上的涂层材料被拉伸。 2.根据权利要求1所述的用于涂层材料原位拉伸观测系统的试样基体,其特征在于,所述试样基体的抗拉强度为σb/MPa,拉伸载荷为F/N,所述试样基体的最大厚度a/mm和宽度b/mm满足:σb*ab≤F。 3.根据权利要求1所述的用于涂层材料原位拉伸观测系统的试样基体,其特征在于,所述试样基体的延伸率为δ,拉伸的最大量程为Lm/mm,所述试样基体的长度L/mm满足:δ*L≤Lm-L。 4.根据权利要求1-3中任一项所述的用于涂层材料原位拉伸观测系统的试样基体,其特征在于,所述试样基体的长度L≤30mm、宽度b≤14mm、厚度a≤3mm。 5.根据权利要求4所述的用于涂层材料原位拉伸观测系统的试样基体,其特征在于,所述试样基体的抗拉强度σb=205MPa,所述拉伸载荷F=1000N,所述试样基体的最大厚度a=3mm,所述试样基体的宽度b≤1.63mm。 6.根据权利要求4所述的用于涂层材料原位拉伸观测系统的试样基体,其特征在于,所述试样基体的延伸率δ=6%,所述拉伸的最大量程Lm=30mm,所述试样基体的长度L≤28.3mm。 7.根据权利要求1-6中任一项所述的用于涂层材料原位拉伸观测系统的试样基体,其特征在于,所述第一固定段设有第一定位孔,所述第二固定段设有第二定位孔。 8.根据权利要求7所述的用于涂层材料原位拉伸观测系统的试样基体,其特征在于,所述第一定位孔和所述第二定位孔均为圆形孔且直径d=4mm。 9.根据权利要求1-6中任一项所述的用于涂层材料原位拉伸观测系统的试样基体,其特征在于,所述第一固定段的厚度、所述第二固定段的厚度与所述连接段的厚度彼此相等,所述喷涂面形成在所述连接段的上表面。 10.根据权利要求1-6中任一项所述的用于涂层材料原位拉伸观测系统的试样基体,其特征在于,所述第一固定段的厚度与所述第二固定段的厚度相等且小于所述连接段的厚度,所述喷涂面形成在所述连接段的侧表面。 |
所属类别: |
发明专利 |