详情

原文传递一种超声激励弱光纤光栅的机械结构探伤与缺陷定位系统

专利名称：	一种超声激励弱光纤光栅的机械结构探伤与缺陷定位系统
摘要：	本发明涉及机械结构运行情况的监测系统，特指一种超声激励弱光纤光栅的机械结构探伤与缺陷定位系统，包括计算机、频谱分析仪、数据处理单元、弱光栅、弱光纤光栅传感器、楔形块与超声激励装置，超声激励装置固定于楔形块上，楔形块固定于被测金属件的一端，弱光纤光栅传感器的敏感单元为两个弱光栅中间的光纤段，弱光纤光栅传感器固定于被测金属件的另一端，弱光纤光栅传感器通过光缆连接于数据处理单元，数据处理单元连接于频谱分析仪，频谱分析仪连接于计算机。采用光纤传感技术，具有抗电磁干扰、抗腐蚀、耐高温、防爆、频带宽、损耗低、精度高等特点，成功解决了传统的电类传感技术易受电磁场、外界环境及天气的干扰而造成的安全陷患问题。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	湖北;42
申请人：	武汉理工大学
发明人：	张翠;陶渊;童杏林;邓承伟;王立新;何为;方定江;潘旭
专利状态：	有效
申请日期：	2019-03-26T00:00:00+0800
发布日期：	2019-07-02T00:00:00+0800
申请号：	CN201910233642.9
公开号：	CN109959724A
代理机构：	湖北武汉永嘉专利代理有限公司
代理人：	张惠玲
分类号：	G01N29/12(2006.01);G;G01;G01N;G01N29
申请人地址：	430070 湖北省武汉市洪山区珞狮路122号
主权项：	1.一种超声激励弱光纤光栅的机械结构探伤与缺陷定位系统，其特征在于：包括计算机(1)、频谱分析仪(2)、数据处理单元(3)、弱光栅(5)、弱光纤光栅传感器(6)、楔形块(9)与超声激励装置，所述超声激励装置固定于楔形块(9)上，所述楔形块(9)固定于被测金属件(8)的一端，所述弱光纤光栅传感器(6)的敏感单元为两个弱光栅(5)中间的光纤段，所述弱光纤光栅传感器(6)固定于被测金属件(8)的另一端，所述弱光纤光栅传感器(6)通过光缆(4)连接于数据处理单元(3)，所述数据处理单元(3)连接于频谱分析仪(2)，所述频谱分析仪(2)连接于计算机(1)。 2.根据权利要求1所述的一种超声激励弱光纤光栅的机械结构探伤与缺陷定位系统，其特征在于：所述超声激励装置包括压电陶瓷(11)与信号发生器(12)，所述信号发生器(12)连接于压电陶瓷(11)，所述压电陶瓷(11)通过超声传导耦合液(10)贴合在楔形块(9)上。 3.根据权利要求2所述的一种超声激励弱光纤光栅的机械结构探伤与缺陷定位系统，其特征在于：所述压电陶瓷(11)通过超声传导耦合液(10)贴合在楔形块(9)的斜面上，所述楔形块(9)的平面通过超声传导耦合液(10)贴合在被测金属件(8)的一端。 4.根据权利要求3所述的一种超声激励弱光纤光栅的机械结构探伤与缺陷定位系统，其特征在于：所述超声传导耦合液(10)采用医用超声耦合液。 5.根据权利要求1所述的一种超声激励弱光纤光栅的机械结构探伤与缺陷定位系统，其特征在于：所述弱光纤光栅传感器(6)通过胶粘剂(7)贴合在被测金属件(8)的另一端。 6.根据权利要求5所述的一种超声激励弱光纤光栅的机械结构探伤与缺陷定位系统，其特征在于：所述胶粘剂(7)采用AB胶。 7.根据权利要求5所述的一种超声激励弱光纤光栅的机械结构探伤与缺陷定位系统，其特征在于：所述弱光纤光栅传感器(6)为高频弱光纤光栅振动传感器。 8.根据权利要求5所述的一种超声激励弱光纤光栅的机械结构探伤与缺陷定位系统，其特征在于：所述弱光纤光栅传感器(6)与超声波声轴线同轴布置。
所属类别：	发明专利