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原文传递一种新型表征透明块体材料现场透光性能的方法

专利名称：	一种新型表征透明块体材料现场透光性能的方法
摘要：	本发明涉及一种新型表征透明块体材料现场透光性能的方法，包括：使位于透明块体材料一边的外界辐照源及白光光源入射到透明块体材料上，由位于透明块体材料另一边的探测器接收透射光从而得到表征透明块体材料的透光性能的原始数据，其中原始数据为原始透过光谱和/或原始吸收光谱；外界辐照源入射到透明块体材料的时间与白光光源入射到透明块体材料的时间之间存在时间间隔A，0≤时间间隔A＜10分钟。本发明的方法满足不同材料性能和产品质量检测的各种需求。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	上海;31
申请人：	中国科学院上海硅酸盐研究所
发明人：	陈昊鸿;李江;寇华敏;石云;谢腾飞;杨朝翔;吴乐翔
专利状态：	有效
申请日期：	2017-12-22T00:00:00+0800
发布日期：	2019-07-02T00:00:00+0800
申请号：	CN201711401392.2
公开号：	CN109959636A
代理机构：	上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙)
代理人：	曹芳玲;郑优丽
分类号：	G01N21/59(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	200050 上海市长宁区定西路1295号
主权项：	1.一种表征透明块体材料现场透光性能的方法，其特征在于，所述方法包括：使位于透明块体材料一边的外界辐照源及白光光源入射到所述透明块体材料上，由位于所述透明块体材料另一边的探测器接收透射光从而得到表征所述透明块体材料的透光性能的原始数据，其中所述原始数据为原始透过光谱和/或原始吸收光谱；所述外界辐照源入射到所述透明块体材料的时间与所述白光光源入射到所述透明块体材料的时间之间存在时间间隔A，0≤时间间隔A＜10分钟。 2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述外界辐照源及所述白光光源沿同一方向入射到所述透明块体材料上。 3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述外界辐照源及所述白光光源沿两个相交角小于180°的方向入射到所述透明块体材料上。 4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述透明块体材料为透明玻璃、透明塑料、透明单晶、透明陶瓷中的一种。 5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，所述外界辐照源为能提供入射能量的电磁波或粒子，优选为X射线源、阴极射线源、伽玛射线源、紫外光源、红外光源中的一种。 6.根据权利要求1至5中任一项所述的方法，其特征在于，当所述外界辐照源入射到所述透明块体材料上所产生的荧光的波长落在透光性能的检测波长范围内，且所产生的荧光的强度降低到初始强度的1/e所需的时间大于时间间隔A时，将所述原始数据扣除因外界辐照源而产生的荧光的影响来表征所述透明块体材料的透光性能。 7.根据权利要求1至6中任一项所述的方法，其特征在于，当所述外界辐照源入射到所述透明块体材料上不产生荧光或者所产生的荧光的波长落在透光性能的检测波长范围之外时，直接用所述原始数据表征所述透明块体材料的透光性能。 8.根据权利要求1至6中任一项所述的方法，其特征在于，当所述外界辐照源入射到所述透明块体材料上所产生的荧光的波长落在透光性能的检测波长范围内，且0＜时间间隔A＜10分钟，且所产生的荧光的强度降低到初始强度的1/e所需的时间小于时间间隔A时，直接用所述原始数据表征所述透明块体材料的透光性能。 9.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，通过以下方法扣除因外界辐照源而产生的荧光的影响，从而表征所述透明块体材料的透光性能：将原始数据设为谱图D，将关闭所述白光光源且打开所述外界辐照源时得到的谱图设为谱图A，将打开白光光源且关闭外界辐照源时得到的谱图设为谱图B，将（谱图A+谱图B）设为谱图C，将不放透明块体材料时白光通过整个光路所得的谱图设为空白谱图时，通过（谱图D-谱图A）与所述空白谱图的比值表征所述透明块体材料的透光性能，或者通过（谱图D-谱图C）与所述空白谱图的比值表征所述透明块体材料在外界辐照作用下的透光性能相比于无辐照作用时的变化值。 10.根据权利要求1至9中任一项所述的方法，其特征在于，在表征透明块体材料现场透光性能的过程中，所述外界辐照源和所述白光光源的强度各自保持不变。
所属类别：	发明专利