专利名称: |
色谱质谱分析用数据解析装置 |
摘要: |
多变量解析运算部(43)分别将由PDA检测器(2)获取到的数据中的特定波长rλ1下的色谱数据与由质谱仪(3)重复获取到的质谱数据进行矩阵化。然后,以基于质谱数据的二维矩阵为解释变量并以基于色谱数据的一维矩阵为被解释变量,来执行PLS的运算,从而算出回归系数矩阵。针对每个m/z值得到回归系数,回归系数大的m/z值表示特定波长下的色谱波形与提取离子色谱(XIC)类似的m/z值。因此,m/z值提取部(44)将回归系数与阈值进行比较来提取有意义的m/z值,XIC制作部(46)制作所提取出的m/z值下的XIC。通过事先指定操作员关注的部分化学结构特异性地吸收的波长λ1,不进行基于操作员手动作业的波形处理,就能够得到与包含该部分化学结构的分子种对应的XIC。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
日本;JP |
申请人: |
株式会社岛津制作所 |
发明人: |
山口真一 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2016-11-09T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-07-05T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201680090726.6 |
公开号: |
CN109983333A |
代理机构: |
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) |
代理人: |
刘新宇 |
分类号: |
G01N27/62(2006.01);G;G01;G01N;G01N27 |
申请人地址: |
日本京都府 |
主权项: |
1.一种色谱质谱分析用数据解析装置,其对由色谱质谱联用仪采集到的数据进行解析,所述色谱质谱联用仪具备:色谱仪,其将试样中的成分在时间上分离;主检测器,其为对包含由该色谱仪分离出的成分的试样中的成分进行检测的质谱分析装置;以及副检测器,其不同于对包含由所述色谱仪分离出的成分的试样中的成分进行检测的质谱分析装置, 所述色谱质谱分析用数据解析装置的特征在于,具备: a)运算处理部,其对于由所述主检测器重复得到的质谱数据与由所述副检测器得到的色谱数据进行运算,所述运算用于调查该色谱数据中的信号强度值随时间的变化与所述质谱数据中的每个质荷比的信号强度值随时间的变化之间的相关性;以及 b)质荷比值提取部,其基于与通过所述运算处理部的运算针对每个质荷比值得到的相关性相关联的指标值,来提取相关性相对高的质荷比值。 2.根据权利要求1所述的色谱质谱分析用数据解析装置,其特征在于, 所述运算处理部进行基于偏最小二乘法的运算,来求出回归系数作为所述指标值。 3.根据权利要求1所述的色谱质谱分析用数据解析装置,其特征在于, 所述色谱仪为液相色谱仪,所述副检测器为光电二极管阵列检测器或紫外可见光检测器。 4.根据权利要求1所述的色谱质谱分析用数据解析装置,其特征在于,还具备: 提取离子色谱制作部,其基于所述质谱数据,制作由所述质荷比值提取部提取出的质荷比下的提取离子色谱;以及 显示处理部,其在显示部的画面上显示所述提取离子色谱和基于所述色谱数据的色谱。 5.根据权利要求1所述的色谱质谱分析用数据解析装置,其特征在于,还具备: 指标值谱制作部,其制作表示针对每个质荷比值得到的所述指标值与质荷比的关系的指标值谱;以及 显示处理部,其在显示部的画面上显示所述指标值谱。 |
所属类别: |
发明专利 |