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原文传递天线抗干扰材料检测方法

专利名称：	天线抗干扰材料检测方法
摘要：	本发明提供一种天线抗干扰材料检测方法。所述天线抗干扰材料检测方法先将待测吸波材料片设于天线的一侧并将天线的阻抗调整为预设的参考阻抗，而后将金属片设置于待测吸波材料片远离天线一侧的预设位置，测量将金属片设置于待测吸波材料片远离天线的一侧的预设位置时天线的实际阻抗并计算其与参考阻抗的差值，得到待测吸波材料片对应的天线阻抗变化量，随后将待测吸波材料片对应的天线阻抗变化量与预设的标准变化范围进行比较以判定待测吸波材料片的材料是否符合标准，能够高效且准确地对吸波材料的性能进行测试。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	深圳市德卡科技股份有限公司
发明人：	刘龙;贾立民
专利状态：	有效
申请日期：	2019-04-08T00:00:00+0800
发布日期：	2019-07-09T00:00:00+0800
申请号：	CN201910277937.6
公开号：	CN109991283A
代理机构：	深圳市德力知识产权代理事务所
代理人：	林才桂;鞠骁
分类号：	G01N27/02(2006.01);G;G01;G01N;G01N27
申请人地址：	518000 广东省深圳市南山区茶光路文光工业区17栋四楼
主权项：	1.一种天线抗干扰材料检测方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤S1、提供天线(1)、待测吸波材料片(2)及金属片(3)；步骤S2、将待测吸波材料片(2)设于天线(1)的一侧；步骤S3、将天线(1)的阻抗调整为预设的参考阻抗；步骤S4、将金属片(3)设置于待测吸波材料片(2)远离天线(1)一侧的预设位置，测量将金属片(3)设置于待测吸波材料片(2)远离天线(1)的一侧的预设位置时天线(1)的实际阻抗并计算其与参考阻抗的差值，得到待测吸波材料片(2)对应的天线阻抗变化量；步骤S5、将待测吸波材料片(2)对应的天线阻抗变化量与预设的标准变化范围进行比较，若待测吸波材料片(2)对应的天线阻抗变化量满足预设的标准变化范围时，则判定该待测吸波材料片(2)的材料符合标准，否则判定该待测吸波材料片(2)的材料不符合标准。 2.如权利要求1所述的天线吸波材料性测试方法，其特征在于，所述步骤S1还将天线(1)的阻抗调整为预设的初始阻抗。 3.如权利要求2所述的天线抗干扰材料检测方法，其特征在于，所述参考阻抗与初始阻抗相同或不同。 4.如权利要求3所述的天线抗干扰材料检测方法，其特征在于，所述参考阻抗中的电阻为50Ω，电抗为0，所述初始阻抗中的电阻为50Ω，电抗为0。 5.如权利要求3所述的天线抗干扰材料检测方法，其特征在于，所述参考阻抗中的电阻为60Ω，电抗为XΩ，其中，X为预设的参考电抗值，所述初始阻抗中的电阻为50Ω，电抗为0。 6.如权利要求2所述的天线抗干扰材料检测方法，其特征在于，所述步骤S1中将天线(1)的阻抗调整为预设的初始阻抗的具体过程为：对天线(1)的阻抗进行调整同时利用矢量网络分析仪(4)实时测量天线(1)的阻抗，直至将天线(1)的阻抗调整为初始阻抗；所述步骤S3具体为：对天线(1)的阻抗进行调整同时利用矢量网络分析仪(4)实时测量天线(1)的阻抗，直至将天线(1)的阻抗调整为参考阻抗；所述步骤S4中，利用矢量网络分析仪(4)测量将金属片(3)设置于待测吸波材料片(2)远离天线(1)的一侧的预设位置时天线(1)的实际阻抗。 7.如权利要求1所述的天线抗干扰材料检测方法，其特征在于，所述步骤S4中，分别将金属片(3)设置于待测吸波材料片(2)远离天线(1)一侧的多个预设位置，分别测量将金属片(3)设置于待测吸波材料片(2)远离天线(1)的一侧的多个预设位置时天线(1)的实际阻抗，分别计算将金属片(3)设置于待测吸波材料片(2)远离天线(1)的一侧的多个预设位置时天线(1)的实际阻抗与参考阻抗的差值，得到待测吸波材料片(2)对应的多个天线阻抗变化量，多个天线阻抗变化量分别与多个预设位置对应。 8.如权利要求7所述的天线抗干扰材料检测方法，其特征在于，所述多个预设位置沿远离待测吸波材料片(2)的方向依次设置，任意两个相邻的预设位置之间的距离相等，最靠近待测吸波材料片(2)的预设位置与待测吸波材料片(2)远离天线(1)的一侧之间的距离为0。 9.如权利要求8所述的天线抗干扰材料检测方法，其特征在于，多个预设位置的数量为三个，该三个预设位置之间的间隔均为0.5cm。 10.如权利要求1所述的天线抗干扰材料检测方法，其特征在于，所述天线(1)的工作频率为13.56MHz。
所属类别：	发明专利