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原文传递一种半导体自动上料检测装置

专利名称：	一种半导体自动上料检测装置
摘要：	本实用新型具体公开了一种半导体自动上料检测装置，包括工作台，所述工作台包括储料箱、输送装置、第一出料输送带和第二出料输送带；所述输送装置位于工作台的上表面；所述输送装置包括进料输送装置、检测输送装置和总分道输送装置；所述进料输送装置位于工作台的上端的左侧，所述进料输送装置末端紧连接着检测输送装置，所述检测输送装置通过第一分道装置紧连接着总分道输送装置，所述总分道输送装置分别连接着次品收集箱与第一出料输送带和第二出料输送带；所述储料箱位于进料输送装置的上方，并且固定在工作台的上表面；所述工作台设有电路检测接头，所述电路检测接头位于检测输送装置上方。该结构具有自动检测并筛分和批量快速输送的特点。
专利类型：	实用新型
国家地区组织代码：	广东;44
申请人：	广州华微电子有限公司
发明人：	李冬梅;王进华;李郁
专利状态：	有效
申请日期：	2018-11-09T00:00:00+0800
发布日期：	2019-07-09T00:00:00+0800
申请号：	CN201821845981.X
公开号：	CN209080734U
代理机构：	广州一锐专利代理有限公司
代理人：	李新梅;杨昕昕
分类号：	B65G15/22(2006.01);B;B65;B65G;B65G15
申请人地址：	510000 广东省广州市广州保税区保盈大道15号
主权项：	1.一种半导体自动上料检测装置，其特征在于，包括工作台（1），所述工作台（1）包括储料箱（2）、输送装置（3）、第一出料输送带（14）和第二出料输送带（15）；所述输送装置（3）位于工作台（1）的上表面；所述输送装置（3）包括进料输送装置（5）、检测输送装置（6）和总分道输送装置（7）；所述进料输送装置（5）位于工作台（1）的上端的左侧，所述进料输送装置（5）的末端紧连接着检测输送装置（6），所述检测输送装置（6）通过第一分道装置（25）紧连接着总分道输送装置（7），所述总分道输送装置（7）分别连接着次品收集箱（24）与第一出料输送带（14）和第二出料输送带（15）；所述储料箱（2）位于进料输送装置（5）的上方，并且固定在工作台（1）的上表面；所述工作台（1）设有电路检测接头（18），所述电路检测接头（18）位于检测输送装置（6）的上方。 2.根据权利要求1所述的一种半导体自动上料检测装置，其特征在于，所述进料输送装置（5）包括两个第一滚轮（10）和进料输送带（13），所述第一滚轮（10）位于工作台（1）的左侧的左右对称位置，所述第一滚轮（10）通过第一固定杆（8）固定在工作台（1）的上表面，并且所述进料输送带（13）将第一滚轮（10）围成一体；所述工作台（1）的底部的左侧设有第一电机（20），所述第一电机（20）通过电线连接着第一滚轮（10）。 3.根据权利要求1所述的一种半导体自动上料检测装置，其特征在于，所述检测输送装置（6）包括第二滚轮（11）和检测输送带（17），所述检测输送带（17）将第二滚轮（11）围成一体，并且检测输送带（17）紧接着进料输送装置（5）的末端；所述工作台（1）的底部的右侧设有第二电机（22），所述第二电机（22）通过电线连接着第二滚轮（11）。 4.根据权利要求3所述的一种半导体自动上料检测装置，其特征在于，所述工作台（1）设有夹紧气缸（19），所述夹紧气缸（19）位于检测输送装置（6）的侧端；所述夹紧气缸（19）的一端固定工作台（1）的上表面，另一端夹紧着电路检测接头（18）。 5.根据权利要求1所述的一种半导体自动上料检测装置，其特征在于，所述总分道输送装置（7）包括正品通道（26）和次品通道（27），所述次品通道（27）的末端连接着次品收集箱（24），所述正品通道（26）的末端连接着第二分道装置（28）。 6.根据权利要求4或5所述的一种半导体自动上料检测装置，其特征在于，所述工作台（1）的底部设有控制面板（21），所述电路检测接头（18）通过电线连接着控制面板（21），所述控制面板（21）通过电线连接着第二电机（22）、第一分道装置（25）和第二分道装置（28）。 7.根据权利要求5所述的一种半导体自动上料检测装置，其特征在于，所述工作台（1）的底部的右端设有第三电机（23），所述第三电机（23）通过电线连接着正品通道（26）和次品通道（27）。 8.根据权利要求5所述的一种半导体自动上料检测装置，其特征在于，所述第二分道装置（28）设有第一出料输送带（14）和第二出料输送带（15），所述第一出料输送带（14）和第二出料输送带（15）分别连接着第一转盘（12）和第二转盘（16），所述第一转盘（12）和第二转盘（16）通过第二连接杆（9）固定在工作台（1）的右侧壁上。 9.根据权利要求1所述的一种半导体自动上料检测装置，其特征在于，所述工作台（1）设有机架（4），所述机架（4）位于工作台（1）的底部。 10.根据权利要求8所述的一种半导体自动上料检测装置，其特征在于，所述第一出料输送带（14）和第二出料输送带（15）的上表面的左右两端都设有护边（31）。
所属类别：	实用新型