专利名称: |
用于二氧化钒相变过程的X射线衍射原位变温测试样品台 |
摘要: |
本实用新型公开了一种用于二氧化钒相变过程的X射线衍射原位变温测试样品台,包括样品夹、控温台、升降台和基座;所述样品夹位于控温台的上方,用于夹持测试样品;所述控温台位于升降台的上方,用于控制测试过程中的温度;所述升降台位于基座的上方,用于提供升降的空间;所述基座位于整个装置的最下方,用于作为整个装置的基础。本实用新型有效地克服了已有设备的技术局限,能够适用于德国Bruker公司生产的四元单晶X射线衍射仪‑D8 Discover,结构简单,使用方便。 |
专利类型: |
实用新型 |
国家地区组织代码: |
湖北;42 |
申请人: |
湖北大学 |
发明人: |
苗良爽;贾子轩;何云斌;李派;黎明锴;卢寅梅;常钢;张清风;陈俊年;朱思琪 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2018-11-01T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-07-09T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201821793375.8 |
公开号: |
CN209086181U |
代理机构: |
北京金智普华知识产权代理有限公司 |
代理人: |
杨采良 |
分类号: |
G01N23/20033(2018.01);G;G01;G01N;G01N23 |
申请人地址: |
430062 湖北省武汉市武昌区友谊大道368号 |
主权项: |
1.一种用于二氧化钒相变过程的X射线衍射原位变温测试样品台,包括样品夹(1)、控温台(2)、升降台(3)和基座(4),其特征在于:所述样品夹(1)位于控温台(2)的上方,用于夹持测试样品;所述控温台(2)位于升降台(3)的上方,用于控制测试过程中的温度;所述升降台(3)位于基座(4)的上方,用于提供升降的空间;所述基座(4)位于整个装置的最下方,用于作为整个装置的基础。 2.根据权利要求1所述的一种用于二氧化钒相变过程的X射线衍射原位变温测试样品台,其特征在于:所述样品夹(1)包括两个对称的弹簧簧片,采用有机树脂粘接在控温台(2)上,中间夹持测试样品。 3.根据权利要求2所述的一种用于二氧化钒相变过程的X射线衍射原位变温测试样品台,其特征在于:所述弹簧簧片之间的间距为5mm,可以夹持边长为7mm-10mm、厚度大于100μm的薄膜样品。 4.根据权利要求1所述的一种用于二氧化钒相变过程的X射线衍射原位变温测试样品台,其特征在于:所述控温台(2)从上至下依次包括导热层(5)、加热层(6)和控温台基板(7);所述导热层(5)、加热层(6)和控温台基板(7)依次粘接在一起。 5.根据权利要求4所述的一种用于二氧化钒相变过程的X射线衍射原位变温测试样品台,其特征在于:所述控温台(2)的尺寸为20mm×20mm×10mm,所述导热层(5)的尺寸为20mm×20mm×1mm,所述加热层(6)的厚度为3mm。 6.根据权利要求5所述的一种用于二氧化钒相变过程的X射线衍射原位变温测试样品台,其特征在于:所述导热层(5)的材质为铜板;所述加热层(6)包括两个对称放置的加热陶瓷片,通过引出的导线连接端子,所述端子连接无线遥控温度控制器,用于控制温度;所述控温台基板(7)为PCB板。 7.根据权利要求1所述的一种用于二氧化钒相变过程的X射线衍射原位变温测试样品台,其特征在于:所述升降台(3)包括升降端(8)和固定端(9),所述升降端(8)位于固定端(9)的上方,升降端(8)的升降高度极限为15mm。 8.根据权利要求7所述的一种用于二氧化钒相变过程的X射线衍射原位变温测试样品台,其特征在于:所述固定端(9)为圆台型,底面直径为25mm,采用有机树脂粘接在基座(4)上。 9.根据权利要求8所述的一种用于二氧化钒相变过程的X射线衍射原位变温测试样品台,其特征在于:所述升降端(8)为带有自锁功能的升降杆,底面直径为20mm。 10.根据权利要求1至9中任一项所述的一种用于二氧化钒相变过程的X射线衍射原位变温测试样品台,其特征在于:所述基座(4)为圆盘型结构,外径为35mm,内径为30mm,外部高度为35mm,内部高度略大于控温台(2)和升降台(3)的高度之和。 |
所属类别: |
实用新型 |