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原文传递用于运行用于检测在测量气体空间中的测量气体的颗粒的传感器元件的方法

专利名称：	用于运行用于检测在测量气体空间中的测量气体的颗粒的传感器元件的方法
摘要：	本发明提出一种用于运行用于检测在测量气体空间中的测量气体的颗粒的传感器元件的方法。所述传感器元件具有载体和至少一个测量电极，所述至少一个测量电极与所述载体连接并且能够暴露在所述测量气体中。所述方法包括如下步骤：a)以第一再生温度实施所述传感器元件的第一再生；b)在所述测量电极上实施第一诊断测量；并且c)根据所述第一诊断测量的结果实施以下步骤中的至少一个步骤：c1)输出故障通报；c2)实施测量阶段以检测所述测量气体的颗粒；或者c3)以第二再生温度实施所述传感器元件的第二再生。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	德国;DE
申请人：	罗伯特·博世有限公司
发明人：	D·诺尔茨
专利状态：	有效
申请日期：	2017-10-23T00:00:00+0800
发布日期：	2019-07-09T00:00:00+0800
申请号：	CN201780072579.4
公开号：	CN109997026A
代理机构：	永新专利商标代理有限公司
代理人：	郭毅
分类号：	G01N15/06(2006.01);G;G01;G01N;G01N15
申请人地址：	德国斯图加特
主权项：	1.一种用于运行用于检测在测量气体空间中的测量气体的颗粒的传感器元件的方法，其中，所述传感器元件包括载体和至少一个测量电极，所述至少一个测量电极与所述载体连接并且能够暴露在所述测量气体中，其中，所述方法包括如下步骤： a)以第一再生温度实施所述传感器元件的第一再生； b)在所述测量电极上实施第一诊断测量；并且 c)根据所述第一诊断测量的结果实施以下步骤中的至少一个步骤： c1)输出故障通报； c2)实施测量阶段以检测所述测量气体的所述颗粒；或者 c3)以第二再生温度实施所述传感器元件的第二再生。 2.根据上述权利要求所述的方法，其中，所述第二再生温度高于所述第一再生温度。 3.根据上述权利要求中任一项所述的方法，其中，在方法步骤c)中将所述第一诊断测量的结果与第一阈值进行比较，其中，当所述结果高于所述第一阈值时，实施方法步骤c1)。 4.根据上述权利要求中任一项所述的方法，其中，当所述结果低于所述第一阈值时，将所述结果与第二阈值进行比较，所述第二阈值低于所述第一阈值。 5.根据上述权利要求中任一项所述的方法，其中，当所述结果低于所述第二阈值时，实施方法步骤c2)。 6.根据上述权利要求中任一项所述的方法，其中，当所述结果处在所述第一阈值与所述第二阈值之间时，实施方法步骤c3)。 7.根据上述权利要求中任一项所述的方法，其中，在实施所述方法步骤c3)后实施以下方法步骤： d)在所述测量电极上实施第二诊断测量。 8.根据上述权利要求中任一项所述的方法，其中，还实施以下方法步骤： e)根据所述第二诊断测量的结果实施所述以下步骤中的至少一个步骤： e1)输出故障通报；或者 e2)实施测量阶段以检测所述测量气体的所述颗粒。 9.根据上述权利要求中任一项所述的方法，其中，在方法步骤e)中将所述第二诊断测量的结果与第三阈值进行比较，其中，当所述结果高于所述第三阈值时，实施方法步骤e1)，其中，当所述结果低于所述第三阈值时，实施方法步骤e2)。 10.一种用于检测在测量气体空间中的测量气体的颗粒的传感器，所述传感器包括至少一个传感器元件和至少一个控制装置，所述至少一个控制装置与所述传感器元件连接，其中，所述传感器元件包括载体和至少一个测量电极，所述至少一个测量电极与所述载体连接并且能够暴露在所述测量气体中，其中，所述控制装置设置用于实施根据上述权利要求中任一项所述的方法。
所属类别：	发明专利