专利名称: |
用于低温紫外可见近红外透射光谱测试的样品架 |
摘要: |
本实用新型公开了一种用于低温紫外可见近红外透射光谱测试的样品架,包括保温层、导冷层、热电偶基座、温控系统和水冷系统;所述保温层与导冷层均为长方形薄板结构,二者的大小相同,保温层通过双面胶粘接在导冷层的表面;所述热电偶基座为长方形薄板结构,尺寸小于导冷层,通过有机树脂粘接在导冷层的背面;所述温控系统位于导冷层的背面,用于进行温度控制;所述水冷系统位于温控系统的后面,用于进行冷却。本实用新型有效的克服了已有设备的技术局限,实现了低温紫外可见近红外透射光谱的测试,适用于不同型号的紫外可见近红外分光光度计,结构简单,使用方便。 |
专利类型: |
实用新型 |
国家地区组织代码: |
湖北;42 |
申请人: |
湖北大学 |
发明人: |
何云斌;刘凤新;苗良爽;黎明锴;李派;常钢;卢寅梅;张清风;陈俊年;陈逸文 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2018-11-05T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-07-09T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201821811343.6 |
公开号: |
CN209086136U |
代理机构: |
北京金智普华知识产权代理有限公司 |
代理人: |
杨采良 |
分类号: |
G01N21/33(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
430062 湖北省武汉市武昌区友谊大道368号 |
主权项: |
1.一种用于低温紫外可见近红外透射光谱测试的样品架,包括保温层(1)、导冷层(2)、热电偶基座(3)、温控系统(7)和水冷系统(8),其特征在于:所述保温层(1)与导冷层(2)均为长方形薄板结构,二者的大小相同,保温层(1)通过双面胶粘接在导冷层(2)的表面;所述热电偶基座(3)为长方形薄板结构,尺寸小于导冷层(2),通过有机树脂粘接在导冷层(2)的背面;所述温控系统(7)位于导冷层(2)的背面,用于进行温度控制;所述水冷系统(8)位于温控系统(7)的后面,用于进行冷却。 2.根据权利要求1所述的一种用于低温紫外可见近红外透射光谱测试的样品架,其特征在于:所述保温层(1)包括尺寸为100mm×40mm×10mm的隔热棉,其左侧中心开有一个正方形的样品窗口;所述导冷层(2)包括尺寸为100mm×40mm×5mm的铜板,其上开有一个圆形的第一通光孔,所述第一通光孔的圆心与样品窗口的中心重合。 3.根据权利要求2所述的一种用于低温紫外可见近红外透射光谱测试的样品架,其特征在于:所述导冷层(2)位于第一通光孔的一侧向外弯折一个30°的角。 4.根据权利要求2所述的一种用于低温紫外可见近红外透射光谱测试的样品架,其特征在于:所述热电偶基座(3)包括尺寸为25mm×30mm×5mm的PCB板,其上开有一个圆形的第二通光孔和2mm×7mm的热电偶卡槽,所述第二通光孔的圆心与样品窗口的中心重合。 5.根据权利要求4所述的一种用于低温紫外可见近红外透射光谱测试的样品架,其特征在于:所述样品窗口的尺寸为5mm×5mm,所述第一通光孔和第二通光孔的大小相等,直径为2mm-4mm。 6.根据权利要求1所述的一种用于低温紫外可见近红外透射光谱测试的样品架,其特征在于:所述温控系统(7)包括热电偶(4)、帕尔帖制冷片(5)和端子(6),所述热电偶(4)插于热电偶基座(3)上,所述帕尔帖制冷片(5)通过导热胶将冷端粘接在导冷层(2)的背面,所述端子(6)分别与热电偶(4)和帕尔帖制冷片(5)连接,并外接微电脑双输出恒温控制仪。 7.根据权利要求6所述的一种用于低温紫外可见近红外透射光谱测试的样品架,其特征在于:所述热电偶(4)为K型薄膜贴片式热电偶。 8.根据权利要求6所述的一种用于低温紫外可见近红外透射光谱测试的样品架,其特征在于:所述帕尔帖制冷片(5)为大功率半导体制冷片,型号为TEC1-12715。 9.根据权利要求6所述的一种用于低温紫外可见近红外透射光谱测试的样品架,其特征在于:所述端子(6)为四线路的电路端子,内接热电偶(4)和帕尔帖制冷片(5),外接微电脑双输出恒温控制仪。 10.根据权利要求1至9中任一项所述的一种用于低温紫外可见近红外透射光谱测试的样品架,其特征在于:所述水冷系统(8)包括一个铝质循环水水槽,外接循环水系统。 |
所属类别: |
实用新型 |