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原文传递 一种X荧光测腐蚀性硫的定量评价方法
专利名称: 一种X荧光测腐蚀性硫的定量评价方法
摘要: 本发明公开了一种X荧光测腐蚀性硫的定量评价方法,包括以下步骤:1)将样品放入容器中;2)将不含硫的铜试片放入取好样品的容器中,确保铜试片完全浸没到油中,并将容器进行密封;3)将步骤2)中含有铜试片的容器放入150℃±3℃的烘箱中,恒温24~72h,实验结束后取出容器;4)待加热完成后倒出样品,将铜试片取出,并浸入洗涤溶剂中,洗去铜试片上的附着样品;5)将铜试片用X荧光进行硫含量测试;6)结果判断。本发明是通过实验进行铜与硫及其化合物发生化学反应后,通过X荧光测试铜试片含硫化合物的情况判定油中是否存在活性硫化合物,本发明的方法能够准确判断腐蚀性硫和非腐蚀性硫的情况,具体操作实用性强。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 广东;44
申请人: 广州机械科学研究院有限公司
发明人: 贺石中;李智婷;王永安;张文;庞晋山;张琳颖;丘晖饶;张驰;吕清君;梁幸
专利状态: 有效
申请日期: 2019-04-29T00:00:00+0800
发布日期: 2019-07-16T00:00:00+0800
申请号: CN201910359922.4
公开号: CN110018190A
代理机构: 广州三环专利商标代理有限公司
代理人: 颜希文;宋静娜
分类号: G01N23/223(2006.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址: 510799 广东省广州市黄埔区茅岗路828号
主权项: 1.一种X荧光测腐蚀性硫的定量评价方法,其特征在于,包括以下步骤: 1)取样:将样品放入容器中; 2)铜材料准备:将不含硫的铜试片放入取好样品的容器中,确保铜试片完全浸没到油中,并将容器进行密封; 3)加热:将步骤2)中含有铜试片的容器放入150℃±3℃环境中反应,恒温24~72h,实验结束后取出容器; 4)铜试片的清洗:待加热完成后倒出样品,将铜试片取出,并浸入洗涤溶剂中,洗去铜试片上的附着样品; 5)铜试片的X荧光测试腐蚀性硫:将铜试片用X荧光进行硫含量测试; 6)结果判断。 2.根据权利要求1所述的X荧光测腐蚀性硫的定量评价方法,其特征在于,所述容器采用密闭容器。 3.根据权利要求2所述的X荧光测腐蚀性硫的定量评价方法,其特征在于,所述密闭容器采用顶空瓶。 4.根据权利要求1所述的X荧光测腐蚀性硫的定量评价方法,其特征在于,所述洗涤溶剂为石油醚Ⅲ。 5.根据权利要求1所述的X荧光测腐蚀性硫的定量评价方法,其特征在于,所述步骤3)提前将烘箱把温度设定在150±3℃,并恒温30min以上。 6.根据权利要求1所述的X荧光测腐蚀性硫的定量评价方法,其特征在于,所述将铜试片打磨光亮,并用洗涤溶剂清洗干净,用X荧光测硫仪检测铜试片是否含有硫,无硫即可把铜试片放入已取好样品的容器中。 7.根据权利要求6所述的X荧光测腐蚀性硫的定量评价方法,其特征在于,所述铜试片使用砂纸打磨。 8.根据权利要求1所述的X荧光测腐蚀性硫的定量评价方法,其特征在于,所述步骤6)中结果判断方法为:如样品无腐蚀性硫存在的话,测试结果为0,有腐蚀性硫存在的话可直接测试出硫含量的具体含量。
所属类别: 发明专利
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