专利名称: |
一种基于太赫兹时域光谱技术的软玉产地的鉴定方法 |
摘要: |
本发明涉及软玉检测技术领域,具体为一种基于太赫兹时域光谱技术的软玉产地的鉴定方法,包括以下步骤:S100:建立软玉产地鉴定模型;S200:制备待鉴定软玉样品;S300:测量待鉴定软玉样品的太赫兹时域光谱信号,计算待鉴定软玉样品的特征参数;S400:将待鉴定软玉样品的特征参数与软玉分类鉴定模型中的各个模型进行对比,得到鉴定结果。S100具体包括以下步骤:S101:制备不同产地的参考软玉样品;S102:测量参考软玉样品的太赫兹时域光谱信号,计算参考软玉样品的特征参数;S103:根据参考软玉样品的特征参数形成软玉产地鉴定模型。本发提供的一种基于太赫兹时域光谱技术的软玉产地的鉴定方法,能够解决现有技术中无法准确检测软玉产地的问题。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
重庆;50 |
申请人: |
重庆市计量质量检测研究院 |
发明人: |
朱勇;杨婷婷;段飞;王璇;黄博崚;颜识涵;沈佳妮;李描;李岚森 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-04-30T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-07-16T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910364043.0 |
公开号: |
CN110018131A |
代理机构: |
重庆强大凯创专利代理事务所(普通合伙) |
代理人: |
刘嘉 |
分类号: |
G01N21/3586(2014.01);G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
400000 重庆市渝北区杨柳北路1号 |
主权项: |
1.一种基于太赫兹时域光谱技术的软玉产地的鉴定方法,其特征在于:包括以下步骤: S100:建立软玉产地鉴定模型; S200:制备待鉴定软玉样品; S300:测量待鉴定软玉样品的太赫兹时域光谱信号,计算待鉴定软玉样品的特征参数; S400:将待鉴定软玉样品的特征参数与软玉分类鉴定模型中的各个模型进行对比,得到鉴定结果。 2.根据权利要求1所述的一种基于太赫兹时域光谱技术的软玉产地的鉴定方法,其特征在于:S100具体包括以下步骤: S101:制备不同产地的参考软玉样品; S102:测量参考软玉样品的太赫兹时域光谱信号,计算参考软玉样品的特征参数; S103:根据参考软玉样品的特征参数形成软玉产地鉴定模型。 3.根据权利要求2所述的一种基于太赫兹时域光谱技术的软玉产地的鉴定方法,其特征在于:所述S103中,应用神经网络算法生成软玉产地鉴定模型。 4.根据权利要求3所述的一种基于太赫兹时域光谱技术的软玉产地的鉴定方法,其特征在于:S300和S102中,还需测试空白样品以获得参考太赫兹时域光谱信号。 5.根据权利要求2所述的一种基于太赫兹时域光谱技术的软玉产地的鉴定方法,其特征在于:所述S200和S101制备待鉴定软玉样品以及参考软玉样品时执行以下操作: 将软玉粘结在固定片上进行切割; 依次用不同型号的砂纸对软玉的一面进行抛磨; 将软玉从固定片上取下,将抛磨过的一面粘结在固定片上,用同样方法对软玉的另一面进行抛磨; 将软玉厚度抛磨至预设厚度,同时保证两面无划痕并呈玻璃光泽; 将软玉从固定片上取下。 6.根据权利要求5所述的一种基于太赫兹时域光谱技术的软玉产地的鉴定方法,其特征在于:S200和S101中使用环氧树脂进行粘结,使用石英片作为固定片。 7.根据权利要求2所述的一种基于太赫兹时域光谱技术的软玉产地的鉴定方法,其特征在于:S300和S102中计算特征参数的方法具体包括: S10:对太赫兹时域光谱信号进行傅里叶变换得到太赫兹频域光谱信号; S20:根据太赫兹频域光谱信号,按照以下公式,获取特征参数: 其中,H(ω)为参考软玉样品或待鉴定软玉样品的复透射函数,Esam(ω)分别为参考软玉样品或待鉴定软玉样品傅里叶变换后的频域光谱,Eref(ω)为空白样品的傅里叶变换后的频域光谱,ω为角频率,d为参考软玉样品或待鉴定软玉样品的厚度,c为光速,n(ω)为参考软玉样品或待鉴定软玉样品的折射率,α(ω)为参考软玉样品或待鉴定软玉样品的吸收系数,ρ(ω)为参考软玉样品或待鉴定软玉样品对应的太赫兹信号与空白样品对应的太赫兹信号幅度的比值,为参考软玉样品或待鉴定软玉样品与空白样品对应的太赫兹信号的相位差,k(ω)为消光系数。 8.根据权利要求2所述的一种基于太赫兹时域光谱技术的软玉产地的鉴定方法,其特征在于:所述S300以及S102中测量参考软玉样品以及待鉴定软玉样品的太赫兹时域光谱信号时,均选取样本上2-3个不同的点位进行信号采集,每个点位重复采集3-4次太赫兹时域光谱信号,计算特征参数时,取太赫兹时域光谱信号的平均值。 9.根据权利要求2所述的一种基于太赫兹时域光谱技术的软玉产地的鉴定方法,其特征在于:S300以及S102步骤中,测试仪器和被测的样本均置于充有氮气的密封空间中。 10.根据权利要求2所述的一种基于太赫兹时域光谱技术的软玉产地的鉴定方法,其特征在于:所述S300以及S102的测试环境的空气湿度1.5-2.5%,温度为20-23℃。 |
所属类别: |
发明专利 |