专利名称: |
一种定日镜反射率的测量方法及装置 |
摘要: |
本发明公开了一种定日镜反射率的测量方法及装置。该方法包括S1:通过第一定日镜和第二定日镜平行放置构建光腔;S2:在光腔的第一定日镜侧接收光束,光束透过第一定日镜在第一定日镜和第二定日镜之间来回振荡,并在光腔的第二定日镜侧输出振荡光束;S3:测量振荡光束的光谱,得到振荡光谱信号;S4:根据振荡光谱信号的光强数据,计算获取衰荡比例,并根据衰荡比例计算获取所需测量的反射率。由于该方法通过测量光的强度的衰荡比例实现对定日镜反射率的测量,因此对光源稳定性无要求,无需进行额外的标定工作,本发明具有反射率测量精准、快速、直接、对光源无依赖的技术特点。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
浙江;33 |
申请人: |
浙江中控太阳能技术有限公司 |
发明人: |
颜明明;李晓波;刘志娟;杨都堂;宓霄凌;张先竹 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-04-04T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-07-19T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910272982.2 |
公开号: |
CN110031432A |
代理机构: |
上海汉声知识产权代理有限公司 |
代理人: |
胡晶 |
分类号: |
G01N21/55(2014.01);G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
310053 浙江省杭州市滨江区六和路307号1幢8层、9层 |
主权项: |
1.一种定日镜反射率的测量方法,其特征在于,包括以下步骤: S1:通过第一定日镜和第二定日镜平行放置构建光腔; S2:在所述光腔的所述第一定日镜侧接收光束,所述光束透过所述第一定日镜在所述第一定日镜和所述第二定日镜之间来回振荡,并在所述光腔的所述第二定日镜侧输出振荡光束; S3:测量所述振荡光束的光谱,得到振荡光谱信号; S4:根据所述振荡光谱信号的光强数据,计算获取衰荡比例,并根据所述衰荡比例计算获取所需测量的反射率。 2.根据权利要求1所述的定日镜反射率的测量方法,其特征在于,所述步骤S1与所述步骤S2之间还包括以下步骤: 对向所述第一定日镜发射的所述光束的直径进行扩大,以实现所述光束覆盖整面所述第一定日镜。 3.根据权利要求2所述的定日镜反射率的测量方法,其特征在于,所述步骤S2和所述步骤S3之间还包括以下步骤: 对所述振荡光束的直径进行缩小,以实现整面所述第二定日镜的所述振荡光束测量。 4.根据权利要求1-3任意一项所述的定日镜反射率的测量方法,其特征在于,所述第一定日镜为待测镜且所述第二定日镜为标准镜,或者所述第一定日镜为标准镜且所述第二定日镜为待测镜,或者所述第一定日镜和所述第二定日镜均为待测镜,其中,待测镜为反射率未知的定日镜,标准镜为反射率已知的定日镜。 5.根据权利要求4所述的定日镜反射率的测量方法,其特征在于,所述第一定日镜和所述第二定日镜均为待测镜时,所述步骤S4具体包括以下步骤: A1:根据光腔衰荡公式I=b·τλn,采用最小二乘法对接收的所述光强数据进行拟合,得到所述衰荡系数τλ,其中,I为所述振荡光束的光强,b为常数项; A2:默认所述第一定日镜的反射率a1λ和所述第二定日镜的反射率a2λ相等,即a1λ=a2λ=aλ,根据公式τλ=aλ2,计算得到所需测量的反射率 6.根据权利要求4所述的定日镜反射率的测量方法,其特征在于,所述第一定日镜为待测镜且所述第二定日镜为标准镜,或者所述第一定日镜为标准镜且所述第二定日镜为待测镜时,所述步骤S4具体包括以下步骤: B1:根据光腔衰荡公式I=b·τλn,采用最小二乘法对接收的所述光强数据进行拟合,得到所述衰荡系数τλ,其中,I为所述振荡光束的光强,b为常数项; B2:根据公式τλ=aλ·a1λ,计算得到所需测量的反射率aλ=τλ/a1λ,其中,所述aλ为待测件的反射率,所述a1λ为标准件的反射率。 7.一种定日镜反射率的测量装置,其特征在于,包括:脉冲光源、扩束模块、光腔、缩束模块、光谱接收模块、数据处理模块; 所述扩束模块用于对所述脉冲光源发出的原光束的直径进行扩大,输出扩束光束; 所述光腔包括互相平行设置的第一定日镜和第二定日镜,所述光腔用于光束的来回振荡,其中,所述光腔在所述第一定日镜侧接收所述扩束光束,所述扩束光束透过所述第一定日镜在所述第一定日镜和所述第二定日镜之间来回振荡,并在所述第二定日镜侧输出振荡光束,其中,所述扩束光束覆盖所述第一定日镜; 所述缩束模块用于接收所述振荡光束,并对所述振荡光束的直径进行缩小,输出缩束光束; 所述光谱接收模块用于对所述缩束光束进行光谱测量,获取振荡光谱信号; 所述数据处理模块用于根据所述振荡光谱信号的光强数据计算得到衰荡比例,并根据所述衰荡比例计算得到所需测量的反射率。 8.根据权利要求7所述的定日镜反射率的测量装置,其特征在于,所述第一定日镜为待测镜且所述第二定日镜为标准镜,或者所述第一定日镜为标准镜且所述第二定日镜为待测镜,或者所述第一定日镜和所述第二定日镜均为待测镜,其中,待测镜为反射率未知的定日镜,标准镜为反射率已知的定日镜。 9.根据权利要求8所述的定日镜反射率的测量装置,其特征在于,所述数据处理模块具体用于采用最小二乘法对接收的所述光强数据进行拟合,得到所述衰荡比例,并根据所述衰荡比例计算得到所需测量的反射率。 10.根据权利要求7-9任意一项所述的定日镜反射率的测量装置,其特征在于,所述扩束模块和所述缩束模块均为准直透镜组,所述准直透镜组至少包括两个准直透镜。 |
所属类别: |
发明专利 |