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原文传递直接热注射热分析

专利名称：	直接热注射热分析
摘要：	本公开整体涉及热分析，该热分析将热能直接施加到样品。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	美国;US
申请人：	TA仪器-沃特世有限责任公司
发明人：	P.帕尔默;S.阿波斯托勒斯库;K.E.德拉加诺维奇;D.J.马恩肯;V.帕里赫
专利状态：	有效
申请日期：	2017-11-20T00:00:00+0800
发布日期：	2019-07-19T00:00:00+0800
申请号：	CN201780072294.0
公开号：	CN110036285A
代理机构：	中国专利代理(香港)有限公司
代理人：	李婷;刘茜
分类号：	G01N25/48(2006.01);G;G01;G01N;G01N25
申请人地址：	美国马萨诸塞州
主权项：	1.一种用于热分析的装置，包括： (i)天平； (ii)贮器，所述贮器具有内部表面和外部表面，其中所述内部表面或所述外部表面中的至少一者是反射的； (iii)电磁辐射源，所述电磁辐射源能够将电磁辐射递送到所述贮器；和 (iv)样品束，所述样品束具有远侧端部和近侧端部，其中所述近侧端部连接到所述天平，并且所述远侧端部延伸到所述贮器中，所述远侧端部具有热电偶件并适于保持样品。 2.根据权利要求1所述的装置，其中所述装置是热重分析仪或差示扫描量热计。 3.根据权利要求1所述的装置，其中所述贮器具有开口，所述开口能够将电磁辐射传递到所述贮器中。 4.根据权利要求3所述的装置，其中所述开口是透明窗口。 5.根据权利要求1所述的装置，还包括延长器管，所述延长器管附接到所述天平或所述贮器，其中所述延长器管包封所述样品束。 6.根据权利要求5所述的装置，其中所述延长器管是所述贮器的整体部分。 7.根据权利要求1所述的装置，其中所述贮器的所述反射表面反射大于约80％的波长为约600nm至20000nm的入射电磁辐射。 8.根据权利要求1所述的装置，还包括光耦合器，所述光耦合器与所述贮器开口电磁辐射连通。 9.根据权利要求1所述的装置，还包括电磁辐射源，所述电磁辐射源与所述贮器电磁辐射连通。 10.根据权利要求1所述的装置，其中所述贮器能够沿着所述样品束的纵向轴线从第一位置移动到第二位置，在所述第一位置中所述样品束的所述远侧端部被定位在所述贮器的中心，在所述第二位置中所述样品束的所述远侧端部在所述贮器和/或所述延长器管外部。 11.根据权利要求3所述的装置，还包括快门板，所述快门板定位在所述贮器开口和电磁辐射源之间，所述快门板具有开口以允许当所述贮器被定位成使得所述样品束的所述远侧端部被定位在所述贮器的所述中心时将所述电磁辐射传递到所述贮器中。 12.根据权利要求1所述的装置，其中所述装置的最高操作温度为1700℃。 13.根据权利要求1所述的装置，具有小于约5分钟的占空比。 14.根据权利要求1所述的装置，还包括能够用于提供低于环境操作温度的帕尔贴器件。 15.根据权利要求1所述的装置，其中所述装置的最低操作温度为-20℃。 16.根据权利要求1所述的装置，其中所述样品束的所述远侧端部包括样品盘。 17.一种在用于热分析的装置中加热样品的方法，包括： (i)用电磁辐射辐照所述样品；以及 (ii)测量所辐照的样品的热特性。 18.根据权利要求17所述的方法，其中辐照所述样品包括直接辐照所述样品容器。 19.根据权利要求17所述的方法，其中辐照所述样品包括同时从多个方向直接辐照所述样品以提供各向同性的热梯度。 20.一种进行热重量分析的方法，包括： (i)提供根据权利要求1所述的装置； (ii)将样品沉积在所述样品束的所述远侧端部处； (iii)使用电磁辐射加热所述样品；以及 (iv)确定响应于所述加热的所述样品的质量变化。
所属类别：	发明专利