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原文传递一种曲面玻璃表面和内部缺陷的检测方法

专利名称：	一种曲面玻璃表面和内部缺陷的检测方法
摘要：	本发明公开了一种曲面玻璃表面和内部缺陷的检测方法，属于曲面玻璃检测领域，以平行于曲面玻璃平面部分的线偏振光从曲面玻璃侧面入射至待检测曲面玻璃中，采用偏振相机在曲面玻璃平面部分的垂直线方向上采集待检测曲面玻璃的出射光，获得出射光的斯托克斯矢量S’，根据入射至曲面玻璃的线偏振光的斯托克斯矢量S，获得反应曲面玻璃的Mueller矩阵M’，最后根据M’和内部无任何缺陷的标准曲面玻璃样品的Mueller矩阵M，获得待检测曲面玻璃内部缺陷信息，完成检测，其中，线偏振光自身为平行光，而非发散光。本发明方法高效、成本低、能较好的检测曲面玻璃的表面和内部缺陷。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	湖北;42
申请人：	华中科技大学
发明人：	夏珉;刘行思;夏楠卿;刘念;唐世镇
专利状态：	有效
申请日期：	2019-04-23T00:00:00+0800
发布日期：	2019-07-23T00:00:00+0800
申请号：	CN201910330948.6
公开号：	CN110044932A
代理机构：	华中科技大学专利中心
代理人：	王世芳;李智
分类号：	G01N21/958(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
主权项：	1.一种曲面玻璃表面和内部缺陷的检测方法，其特征在于,以平行于曲面玻璃平面部分的线偏振光从曲面玻璃侧面入射至待检测曲面玻璃中，采用偏振相机在曲面玻璃平面部分的垂直线方向上采集待检测曲面玻璃的出射光，获得出射光的斯托克斯矢量S’，根据入射至曲面玻璃的线偏振光的斯托克斯矢量S，获得反应曲面玻璃的Mueller矩阵M’，最后根据M’和内部无任何缺陷的标准曲面玻璃样品的Mueller矩阵M，获得待检测曲面玻璃内部缺陷信息，完成检测，其中，线偏振光自身为平行光，而非发散光。 2.如权利要求1所述的一种曲面玻璃表面和内部缺陷的检测方法，其特征在于，其具体包括如下步骤： S1：以平行于曲面玻璃平面部分的线偏振光从曲面玻璃侧面入射至待检测曲面玻璃中，入射至曲面玻璃的线偏振光的斯托克斯矢量S， S2：采用偏振相机在曲面玻璃平面部分的垂直线方向上采集待检测曲面玻璃的出射光，获得出射光的斯托克斯矢量S’， S3：根据公式S'＝M*S，获得反应待检测曲面玻璃的Mueller矩阵M’， S4：一一对应地比对M’和内部无任何缺陷的标准曲面玻璃样品的Mueller矩阵M各自包含的十六个参数，根据十六个函数各自含义，获得待检测曲面玻璃内部缺陷信息。 3.如权利要求1或2所述的一种曲面玻璃表面和内部缺陷的检测方法，其特征在于，所述偏振相机采集待检测曲面玻璃出射光时位于曲面玻璃平面部分的中心轴线上。 4.如权利要求1-3之一所述的一种曲面玻璃表面和内部缺陷的检测方法，其特征在于，所述曲面玻璃的俯视图为四角为圆弧状的矩形，在曲面玻璃的四个侧面均设置有可开关的线偏振光，以根据实际需要开启所需侧面的线偏振光。 5.如权利要求1-4之一所述的一种曲面玻璃表面和内部缺陷的检测方法，其特征在于，所需的线偏振光为LED光源发出的光经过起偏器后获得。 6.如权利要求1-5之一所述的一种曲面玻璃表面和内部缺陷的检测方法，其特征在于，所述内部缺陷信息包括是否具有缺陷，缺陷位置以及缺陷类型，具体为，缺陷位于内部还是表面位置，缺陷是裂缝、划痕还是气泡类型。 7.如权利要求1-6之一所述的一种曲面玻璃表面和内部缺陷的检测方法，其特征在于，步骤S1和步骤S2发生在暗室环境下。 8.如权利要求1-7之一所述的一种曲面玻璃表面和内部缺陷的检测方法，其特征在于，所述待检测曲面玻璃的厚度不大于6mm。
所属类别：	发明专利