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原文传递测定装置、校正方法和测定装置用程序

专利名称：	测定装置、校正方法和测定装置用程序
摘要：	为了提供能在不同于测定现场的另一个场所进行校正作业且可以不进行大幅的设备更新的测定装置，测定装置包括：电极，其被浸渍在标准液或被检测液中；第一装置主体，其以可拆装的方式经由第一电缆与被浸渍在标准液中的电极连接，基于从电极输出的模拟输出计算该电极的校正数据；以及校正数据外部存储部，其在电极、第一装置主体和第一电缆的外侧作为分体设置的存储器上设定有存储区域，并存储由第一装置主体计算出的校正数据，第一装置主体具备将电极的校正数据向外部输出到校正数据外部存储部的校正数据外部输出部，被构成为将校正数据外部存储部中存储的校正数据从该校正数据外部存储部向不同于第一装置主体的另一个装置主体发送。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	日本;JP
申请人：	株式会社堀场制作所
发明人：	樽井克泰;江原克信
专利状态：	有效
申请日期：	2017-12-11T00:00:00+0800
发布日期：	2019-07-23T00:00:00+0800
申请号：	CN201780075410.4
公开号：	CN110050186A
代理机构：	北京铭硕知识产权代理有限公司
代理人：	包跃华;金玉兰
分类号：	G01N27/26(2006.01);G;G01;G01N;G01N27
申请人地址：	日本京都府京都市
主权项：	1.一种测定装置，其特征在于，包括：电极，其被浸渍在标准液或被检测液中；第一装置主体，其以可拆装的方式经由第一电缆与被浸渍在标准液中的所述电极连接，并基于从所述电极输出的模拟输出来计算所述电极的校正数据；以及校正数据外部存储部，其在所述电极、所述第一装置主体和所述第一电缆的外侧作为分体设置的存储器上设定有存储区域，并存储由所述第一装置主体计算出的校正数据，所述第一装置主体具备将所述电极的校正数据向外部输出到所述校正数据外部存储部的校正数据外部输出部，所述测定装置构成为将所述校正数据外部存储部中存储的校正数据从所述校正数据外部存储部向不同于所述第一装置主体的另一个装置主体或与所述另一个装置主体连接的设备发送。 2.根据权利要求1所述的测定装置，其特征在于，所述校正数据外部存储部构成为将校正数据存储于非接触型IC卡内的存储器上的存储区域，所述第一装置主体还具备第一非接触型IC卡读写器，所述测定装置构成为所述第一校正数据外部输出部介由所述第一非接触型IC卡读写器而将由所述第一装置主体计算出的校正数据向所述校正数据外部存储部写入。 3.根据权利要求1或2所述的测定装置，其特征在于，还包括：第二装置主体，其以可拆装的方式与浸渍在被检测液中的所述电极连接，并基于从所述电极输出的模拟输出来计算被检测液的指示值；以及转换器，其以可拆装的方式经由第二电缆与所述电极连接，并且经由第三电缆与所述第二装置主体连接，将从所述电极输出的模拟输出转换为另一个模拟输出并向所述第二装置主体输出，所述转换器具备：校正数据获取部，其获取所述校正数据外部存储部中存储的校正数据；以及输出转换部，其基于由所述校正数据获取部获取到的校正数据而至少对倍率进行设定，所述第二装置主体具备：理论数据存储部，其存储表示所述电极在预定状态下输出的模拟输出与指示值之间的理论公式的理论数据；以及指示值计算部，其基于所述理论数据和由所述转换器转换得到的模拟输出来计算被检测液的指示值。 4.根据权利要求3所述的测定装置，其特征在于，所述转换器还具备第二非接触型IC卡读写器，所述测定装置构成为所述校正数据获取部介由所述第二非接触型IC卡读写器来读取由所述第一装置主体计算出的校正数据。 5.根据权利要求1或2所述的测定装置，其特征在于，还包括第二装置主体，所述第二装置主体以可拆装的方式经由第二电缆与被浸渍在被检测液中的所述电极连接，并基于从所述电极输出的模拟输出来计算被检测液的指示值，所述第二装置主体具备：校正数据获取部，其获取所述校正数据外部存储部中存储的校正数据；理论数据存储部，其存储表示所述电极在预定状态下输出的模拟输出与指示值之间的理论公式的理论数据；以及指示值计算部，其基于理论数据、校正数据、所述电极的模拟输出来计算被检测液的指示值。 6.根据权利要求5所述的测定装置，其特征在于，所述第二装置主体还具备第二非接触型IC卡读写器，所述测定装置构成为所述校正数据获取部介由所述第二非接触型IC卡读写器来读取由所述第一装置主体计算出的校正数据。 7.根据权利要求1～6中任一项所述的测定装置，其特征在于，所述校正数据外部存储部存储一个所述电极的校正历史。 8.根据权利要求1～6中任一项所述的测定装置，其特征在于，所述校正数据外部存储部将多个所述电极的校正数据与表示各电极的标识符相关联地进行存储。 9.一种校正方法，其特征在于，电极，其被浸渍在标准液或被检测液中；将以可拆装的方式经由第一电缆与第一装置主体连接的电极浸渍在标准液中；使所述第一装置主体基于从所述电极输出的模拟输出来计算所述电极的校正数据；将由所述第一装置主体计算出的校正数据向外部输出到校正数据外部存储部，所述校正数据外部存储部在所述电极、所述第一装置主体和所述第一电缆的外侧作为分体设置的存储器上设定有存储区域；以及将所述校正数据外部存储部中存储的校正数据从该校正数据外部存储部向不同于所述第一装置主体的另一个装置主体或与所述另一个装置主体连接的设备发送。 10.一种测定装置用程序，其特征在于，用于具备电极、第一装置主体和存储器的测定装置，所述电极被浸渍在标准液或被检测液中，所述第一装置主体经由第一电缆与被浸渍在标准液中的所述电极以可拆装的方式连接并基于从所述电极输出的模拟输出来计算所述电极的校正数据，所述存储器在所述电极、所述第一装置主体和所述第一电缆的外侧作为分体设置，所述测定装置用程序使计算机发挥如下功能：作为校正数据外部存储部的功能，所述校正数据外部存储部在所述存储器上设定有存储区域，并存储由所述第一装置主体计算出的校正数据；作为校正数据外部输出部的功能，所述校正数据外部输出部将所述电极的校正数据向外部输出到所述校正数据外部存储部；以及将所述校正数据外部存储部中存储的校正数据从所述校正数据外部存储部向不同于所述第一装置主体的另一个装置主体或与所述另一个装置主体连接的设备发送的功能。 11.一种测定装置，其特征在于，包括：电极，其被浸渍在标准液或被检测液中；以及第三装置主体，其以可拆装的方式与所述电极连接，基于从浸渍在标准液中的所述电极输出的模拟输出来计算所述电极的校正数据、或者基于从浸渍在被检测液中的所述电极输出的模拟输出来计算被检测液的指示值，所述第三装置主体或所述电极具备内置于壳体内且存储所述电极的校正数据的非接触型IC芯片。 12.根据权利要求11所述的测定装置，其特征在于，还包括第二装置主体，所述第二装置主体以可拆装的方式与浸渍在被检测液中的所述电极连接，并基于从所述电极输出的模拟输出来计算被检测液的指示值，所述第二装置主体具备：第二非接触型IC卡读写器；以及校正数据获取部，其介由所述第二非接触型IC卡读写器从所述第三装置主体的所述非接触型IC芯片读取校正数据。 13.根据权利要求11或12所述的测定装置，其特征在于，还包括非接触型IC卡，所述非接触型IC卡在所述电极和所述第三装置的外侧作为分体设置，并存储校正数据，所述第三装置主体具备第三非接触型IC卡读写器，所述测定装置构成为介由所述第三非接触型IC卡读写器将所述非接触型IC卡中所存储的校正数据存储于所述非接触型IC芯片。
所属类别：	发明专利